Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Ubar, Raimund" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Exact parallel critical path fault tracing to speed-up fault simulation in sequential circuits
Autorzy:
Kõusaar, Jaak
Kostin, Sergei
Ubar, Raimund
Devadze, Sergei
Raik, Jaan
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/397718.pdf
Data publikacji:
2018
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:
sequential circuits
fault simulation
stuck-at-faults
critical path tracing
układy sekwencyjne
symulacja błędów
Opis:
We propose a new method to speed up stuck-at fault simulation for sequential circuits. The method combines exact parallel critical path tracing of faults, used so far only for combinational circuits, with traditional fault simulation in sequential circuits. For that purpose, formulas are developed for classification of faults into two classes: the faults eligible for parallel critical path tracing, and the faults which have to be simulated over the global feedbacks in the circuit by traditional methods. Combining these two approaches in fault simulation ‒ the combinational and sequential simulation concepts ‒ allows dramatic speed-up of fault simulation in sequential circuits, which is demonstrated by experimental results.
Źródło:
International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2018, 9, 1; 9-18
2080-8755
2353-9607
Pojawia się w:
International Journal of Microelectronics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies