Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Trzyna, M." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Characterization Of Oxide Layers Produced On The AISI 321 Stainless Steel After Annealing
Charakterystyka warstw tlenkowych powstałych na stali nierdzewnej AISI 321 po wyżarzaniu
Autorzy:
Bochnowski, W.
Dziedzic, A.
Adamiak, S.
Berchenko, M.
Trzyna, M.
Cebulski, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/356285.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
depth profile
oxide layer
stainless steel
TEM
TOF-SIMS
warstwa tlenkowa
stal nierdzewna
TOF SIMS
Opis:
In this study, the structure, chemical composition and topography of oxide layers produced on the surface of the AISI 321 austenitic steel in the annealing process were analyzed. Heat treatment was done at 980°C temperature for 1 hour time in different conditions. The annealing was done in a ceramic furnace in oxidation atmosphere and in vacuum furnaces with cylindrical molybdenum and graphite chambers. The analysis was carried out using the following methods: a scanning electron microscope (SEM) equipped with an energy-dispersive X-ray spectrometer (EDX), a transmission electron microscope (TEM) equipped with an energy-dispersive X-ray spectrometer (EDX), an X-ray diffractometer (XRD), a secondary ion mass spectrometer with time-of-flight mass analyzer (TOF SIMS) and an atomic force microscope (AFM). The oxide layer formed during annealing of the AISI 321 steel at 980°C consisted of sub-layers, diversified in the chemical composition. The thickness of the oxidized layer is depended on the annealing conditions. In a ceramic furnace in oxidation atmosphere, the thickness of the oxide layer was of 300-500 nm, in a vacuum furnace with molybdenum and graphite heating chambers, it ranged from 40 to 300 nm and from a few to 50 nm, respectively. TOF SIMS method allows to get average (for the surface of 100 μm × 100 μm) depth profiles of concentration of particular elements and elements combined with oxygen. In oxide layers formed in vacuum furnaces there are no iron oxides. Titanium, apart from being bounded with carbon in carbides, is a component of the oxide layer formed on the surface of the AISI 321 steel.
W pracy analizowano strukturę, skład chemiczny oraz topografię warstwy tlenków powstałych na powierzchni stali austenitycznej AISI 321 w procesie wyżarzania. Obróbkę cieplną prowadzono w temperaturze 980°C w czasie 1 godziny w zróżnicowanych warunkach. Wyżarzanie prowadzono w piecu ceramicznym w atmosferze powietrza oraz w piecach próżniowych z cylindryczną komorą molibdenową i grafitową. W prowadzonej analizie wykorzystano skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) wyposażony w spektrometr promieniowania X (EDX), transmisyjny mikroskop elektronowy (TEM) wyposażony w spektrometr promieniowania X (EDX), dyfraktometr rentgenowski (XRD X-Ray Diffraction), spektrometr mas jonów wtórnych z analizatorem czasu przelotu (TOF SIMS) oraz mikroskop sił atomowych (AFM). Warstwa tlenków powstała w wyniku wyżarzania stali AISI 321 w temperaturze 980°C składała się z podwarstw różniących się składem chemicznym. O grubości warstwy utlenionej w decydowały warunki wyżarzania. W piecu ceramicznym z atmosferą powietrza grubość warstwy tlenków wynosiła 300-500 μm, w piecu próżniowym z grafitową i molibdenową komorą grzejną grubości wynosiły odpowiednio od 40 nm do 300 nm oraz kilka nm do 50 nm. Badania TOF SIMS pozwalają otrzymać uśrednione profile koncentracji pierwiastków metalicznych oraz profile koncentracji pierwiastków metalicznych będących w kontakcie z tlenem. W warstwach tlenków powstałych w piecach próżniowych nie obserwowano tlenków żelaza. Tytan oprócz roli związania węgla w węglikach, wchodzi w skład warstwy tlenków tworzonych w piecu próżniowym na powierzchni stali AISI 321.
Źródło:
Archives of Metallurgy and Materials; 2015, 60, 3; 2327-2334
1733-3490
Pojawia się w:
Archives of Metallurgy and Materials
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Inelastic X-Ray Scattering Studies of Phonon Dispersion in PbTe and (Pb,Cd)Te Solid Solution
Autorzy:
Kuna, R.
Minikayev, R.
Trzyna, M.
Gas, K.
Bosak, A.
Szczerbakow, A.
Petit, S.
Łażewski, J.
Szuszkiewicz, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1398584.pdf
Data publikacji:
2016-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
63.20.D-
68.43.-h
68.49.Sf
Opis:
PbTe and its solid solution (Pb,Cd)Te containing 2% of CdTe and PbTe grown by self-selecting vapour growth technique were investigated by inelastic X-ray scattering using synchrotron radiation. The ID28 beamline at ESRF with the incident photon energy of 17794 eV and the energy resolution of 3 meV was applied for that purpose. The measurements were performed at room temperature along [001]-type high symmetry direction in the Brillouin zone. In spite of a very low energy of phonon branches they can be determined by inelastic X-ray scattering with a high accuracy. The transversal acoustic phonon dispersion obtained by inelastic X-ray scattering corresponds well to those resulting from inelastic neutron scattering measurements and ab initio calculations. Apart from expected structures corresponding to the bulk phonons an additional scattering related to the crystal surface properties was observed in the inelastic X-ray scattering spectra. The analysis performed with the use of secondary ion mass spectroscopy technique demonstrated a presence of a thin oxide layer at sample surfaces.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2016, 130, 5; 1251-1254
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies