Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Thiel, P." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Temperature Dependence of Ag Film Roughening during Deposition on Quasicrystal and Approximant Surfaces
Autorzy:
Ünal, B.
Evans, J.
Thiel, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1373681.pdf
Data publikacji:
2014-08
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.55.-a
61.44.Br
68.37.Ef
81.15.Aa
Opis:
The temperature (T) dependence of roughening as assessed by scanning tunneling microscopy is compared for growth of Ag films on an 5-fold icosahedral Al-Pd-Mn quasicrystal surface and on an ξ'-approximant. Growth on the quasicrystal corresponds to a version of the Volmer-Weber growth, but modified by quantum size effects, and also by kinetic smoothening at low T and low coverages (θ). Growth on the approximant corresponds to a version of the Stranski-Krastanov growth modified by kinetic roughening at low T and low θ. For larger θ, i.e., for thicker films, distinct behavior is observed.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2014, 126, 2; 608-612
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies