Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Storasta, J." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Hall Mobility Field Effect in Two Layer Conductivity Samples
Autorzy:
Mekys, A.
Storasta, J.
Zindulis, A.
Smilga, A.
Balakauskas, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1812055.pdf
Data publikacji:
2008-10
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
84.37.+q
Opis:
Classical Hall mobility experimental setup was applied for samples with parallel plane (sandwich) variable conductivity layers. The measured effective Hall mobility strongly depends on applied electric field and does not characterise the real carrier mobility. Numerical modelling explains the effect as a consequence of electric field redistribution and lowering at Hall contacts. Measurement of carrier mobility in such structures is suggested.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2008, 114, 4; 903-912
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Superdiffusion in Si Crystal Lattice Irradiated by Soft X-Rays
Autorzy:
Janavičius, A.
Balakauskas, S.
Kazlauskienė, V.
Mekys, A.
Purlys, R.
Storasta, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1812042.pdf
Data publikacji:
2008-10
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
66.30.-h
78.70.Ck
Opis:
We considered the reasons of superdiffusivity and measured profiles of boron and phosphorus in crystalline silicon at room temperature. The superdiffusivity or ultrafast diffusion of metastable vacancies at room temperature in Si crystal irradiated by soft X-rays was obtained experimentally. In this work, we presented experimentally obtained diffusion coefficients of singly and doubly negatively charged long-lived excited vacancies. These high concentration charged metastable vacancies (about $10^{13} cm^{-3}$) at room temperature can very fast diffuse changing electrical conductivity and the Hall mobility of carriers. We measured the superdiffusivity of negatively charged vacancies, generated by the Auger effect in the regions of the sample, which were not affected by X-rays. In this paper, we presented the obtained superdiffusion profiles of boron and phosphorus in crystalline silicon measured with secondary-ion mass spectrometer.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2008, 114, 4; 779-790
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Crystal Lattice and Carriers Hall Mobility Relaxation Processes in Si Crystal Irradiated by Soft X-rays
Autorzy:
Janavičius, A. J.
Storasta, J.
Purlys, R.
Mekys, A.
Balakauskas, S.
Norgėla, Ž.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2047360.pdf
Data publikacji:
2007-07
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.72.-y
61.72.Dd
05.50.+q
Opis:
We applied soft X-rays for investigation of dynamics of the Frenkel point defects in a Si crystal during its saturation with metastable vacancies with neighboring Si atoms in excited states produced in the lattice after ejection of the Auger electrons. The irradiated irregularities and defects of the lattice cause a change of the Bragg reflection maxima. Several resonance phenomena are related to metastable states introduced into Si crystal by soft X-rays irradiation. The resonance of mean square displacements of Si atoms in the lattice and the resonance of the Hall mobility after irradiation are obtained and considered.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2007, 112, 1; 55-68
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies