- Tytuł:
-
Techniki wykrywania uszkodzeń pamięci z wykorzystaniem stopni swobody testów krokowych
Memory faults detection techniques with use of degrees of freedom in march tests - Autorzy:
- Sokół, B.
- Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/341181.pdf
- Data publikacji:
- 2008
- Wydawca:
- Politechnika Białostocka. Oficyna Wydawnicza Politechniki Białostockiej
- Tematy:
-
testowanie pamięci
testy krokowe
uszkodzenia PSF
stopnie swobody
memory testing
march tests
pattern sensitive faults (PSF)
degrees of freedom - Opis:
-
Publikacja zawiera opis wybranych metod i technik wykrywania uszkodzeń pamięci z wykorzystaniem stopni swobody transparentnych testów krokowych. Główna uwaga została skupiona na uszkodzeniach uwarunkowanych zawartością typu Pattern Sensitive Faults (PSF) jako najtrudniejszych do wykrycia. Zaproponowane wykorzystanie stopni swobody testów krokowych przejawia się możliwością efektywnego przeprowadzenia transparentnego testowania i wykrywania uszkodzeń typu PSF przez proste testy krokowe i bazuje na możliwści wielokrotnego uruchomienia testu przy zmianach warunków początkowych (porządku adresowania) dla każdego uruchomienia. Wykorzystane i zaproponowane metody umożliwiają generowanie pełnych sekwencji adresowych oraz pozwalają na optymalny wybór adresów startowych przy wielokrotnym uruchomieniu testów krokowych. W pierwszej części pracy przedstawiona została problematyka testowania pamięci oraz stopnie swobody testów krokowych. Druga część pracy zawiera opis zaproponowanych rozwiązań wraz z wynikami wybranych eksperymentów.
Publication shows the description of selected methods and techniques for memory faults detection with use of degrees of freedom inherent to transparent March tests. This paper deals with Pattern Sensitive Faults (PSF) as the most difficult to detect. Proposed techniques of use of degrees of freedom in March testing manifest itself in effective transparent memory testing and PSF faults detection with use of simple March tests, based on the possibility of multiple run of test with different initial conditions like address order for each run. Proposed methods allow us to choose in an optimal way starting addresses for multiple March tests run. In the first part of this publication, memory testing problems, testing principles and degrees of freedom were presented. Second part of this publication shows the description of proposed solutions with selected results. - Źródło:
-
Zeszyty Naukowe Politechniki Białostockiej. Informatyka; 2008, 3; 129-144
1644-0331 - Pojawia się w:
- Zeszyty Naukowe Politechniki Białostockiej. Informatyka
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł