Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Sik, O." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Ageing of cadmium telluride radiation detectors and its diagnostics with low frequency noise
Autorzy:
Andreev, A.
Sik, O.
Grmela, L.
Sikula, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/221866.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
noise spectroscopy
CdTe radiation detectors
ageing process
Opis:
Samples of CdTe single crystals which are used as radiation detectors were periodically measured during a long time interval with different values of an applied voltage. The samples were also periodically exposed during long time periods to high temperatures of 390 K and to rapid changes of temperature from 300 K to 390 K. After 1.5 years of measurements we observed ageing of the samples which resulted in deterioration of their transport characteristics. The resistance of the samples increased significantly and current-voltage characteristics were unstable in time. Noise spectroscopy showed that low frequency noise can be used for detection of CdTe sample ageing as its spectral density increases significantly comparing to the 1/f noise of a high quality sample.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2013, 20, 3; 385-394
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Cold field-emission cathode noise analysis
Autorzy:
Knápek, A.
Grmela, L.
Šikula, J.
Šik, O.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/220678.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
cold field-emission cathode
noise diagnostics
epoxy coating
Opis:
Noise diagnostics has been performed on the cold field-emission cathode in high-vacuum. The tested cold fieldemission cathode, based on tungsten wire with ultra-sharp tip coated by epoxy was designed to meet the requirements of transmission electron microscopy, which uses a small and stable source of electrons. Current fluctuations are reduced by improving the structure and fabrication technology. Noise was measured both in time and frequency domains, which gives information about current fluctuations and also about charge transport. Mutual correlation between the noise spectral density, extractor voltage and beam brightness was analyzed.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2012, 19, 2; 417-422
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies