Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Průša, S." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Analysis of Thin Films by Time-of-Flight Low Energy Ion Scattering
Autorzy:
Průša, S.
Kolíbal, M.
Bábor, P.
Mach, J.
Šikola, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2047292.pdf
Data publikacji:
2007-03
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.49.Sf
81.05.Cy
68.55.-a
81.15.Ef
Opis:
In the paper the design and application of a time-of-flight low energy ion scattering instrument built into an UHV complex deposition and analytical apparatus is described. A special attention is aimed at demonstrating the ability of time-of-flight low energy ion scattering to analyse near-to-surface layers of thin films prepared both ex situ and in situ. It is shown that the broadening of peaks in time-of-flight low energy ion scattering spectra can be attributed to multiple scattering and inelastic losses of ions in deeper layers. As a result of that, the peak width of ultrathin films depends on their thickness.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2007, 111, 3; 335-341
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies