- Tytuł:
-
Digital contact potential probe in studying the deformation of dielectric materials
Miernik cyfrowy do pomiarów kontaktowej różnicy potencjałów przeznaczony do kontroli deformacji materiałów dielektrycznych - Autorzy:
-
Pantsialeyeu, Konstantsin
Zharin, Anatoly
Gusev, Oleg
Vorobey, Roman
Tyavlovsky, Andrey
Tyavlovsky, Konstantin
Svistun, Aliaksandr - Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/1841377.pdf
- Data publikacji:
- 2020
- Wydawca:
- Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
- Tematy:
-
surface charge distribution
contact potential difference
Scanning Kelvin Probe
dielectric material
rozkład ładunku powierzchniowego
kontaktowa różnica potencjałów
skanująca sonda Kelvina
materiał dielektryczny - Opis:
-
The paper reviews theresults of a study on the surface electrostatic chargesof dielectrics obtained using the contact potential difference (CPD) technique. Initially,the CPD technique was only applied to the study of metal and semiconductor surfaces. The conventional CPD measurement technique requires full compensation of the measured potential that, in thecase of dielectrics, could reach very high values. Such high potentials are hardto compensate. Therefore, the conventional CPD method is rarely applied inthe study of dielectric materials. Some important improvements recently made to the CPD measurementtechnique removedthe need for compensation.The new method, which does not require compensation, has been implementedin the form of a digital Kelvin probe.The paper describes the principlesof the non-compensation CPD measurement technique which was developedfor mapping the electrostatic surface charge space distribution acrossa wide range of potential values. The study was performed on polymers suchas low-density polyethylene (LDPE) and polytetrafluoroethylene (PTFE).
W artykule przedstawiono wyniki badań rozkładu wymuszonych ładunków na powierzchni dielektryków metodą kontaktowej różnicy potencjałów (angl. CPD). Wcześniej metoda CPD była stosowana jedynie do badań powierzchni metali lub półprzewodników. Trudności stosowania metody CPD w stosunku do dielektryków wynikają z konieczności całkowitej kompensacji potencjału powierzchniowego, wartość którego może być wysoka. W praktyce taka kompensacjamoże być utrudniona. W związku z tym metoda CPD nie jest stosowana do badań dielektryków. Ostatnio do technikipomiarów metodą CPD wprowadzono szereg udoskonaleń, które wyeliminowały konieczność całkowitej kompensacji mierzonych wartości. Nowa metoda, która nie wymaga kompensacji, została zrealizowana w postacicyfrowej sondy Kelvina. W artykule przeanalizowano zasady działania sondy nie wymagającej kompensacji oraz jej zastosowanie do określenia rozkładu ładunku na powierzchni dielektryków w szerokim zakresie wartości potencjału. Badania przeprowadzono na materiałach polimerowych, takich jak polietylen o małej gęstości (LDPE) i politetrafluoroetylen (PTFE). - Źródło:
-
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska; 2020, 10, 4; 57-60
2083-0157
2391-6761 - Pojawia się w:
- Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł