Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Palasantzas, G." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Kinetic Roughening and Material Optical Properties Influence on Van der Waals/Casimir Forces
Autorzy:
van Zwol, P.
Palasantzas, G.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1539079.pdf
Data publikacji:
2010-02
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.55.Jk
68.37.Ps
85.85.+j
78.68.+m
68.55.-a
47.55.nb
Opis:
Atomic force microscopy measurements and force theory calculations using the Lifshitz theory show that van der Waals/Casimir dispersive forces have a strong dependence on surface roughness and material optical properties. It is found that at separations below 100 nm the roughness effect is manifested through a strong deviation from the normal scaling of the force with separation distance. Moreover, knowledge of precise optical properties of metals is shown to be very important for accurate force predictions rather than referring to idealized defect free material models. Finally, we compare the van der Waals/Casimir forces to capillary adhesive forces in order to illustrate their significance in stiction problems.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2010, 117, 2; 379-383
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Correlated Roughness Effects in the Giant Magnetoresistance of Magnetic Multilayers
Autorzy:
Palasantzas, G.
Barnaś, J.
De Hosson, J. Th. M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2013095.pdf
Data publikacji:
2000-03
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
72.15.Gd
73.40.Jn
Opis:
Interface roughness effects on the giant magnetoresistance in magnetic multilayers are analysed theoretically for structures with non-conformal correlated interfaces. The roughness of each interface is described in terms of the K-correlation model and is characterized by the roughness exponent H(0≤H<1), correlation length ξ, and rms roughness amplitude Δ. Coherent scattering by different interfaces is also taken into account.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2000, 97, 3; 495-498
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies