Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Palacio Gómez, Carlos Andrés" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Statistical process control of commercial force-sensing resistors
Autorzy:
Palacio Gómez, Carlos Andrés
Paredes-Madrid, Leonel
Garzon, Andrés Orlando
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2173875.pdf
Data publikacji:
2022
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
force sensing resistors
FSR
pressure sensor
statistical process control
hysteresis error
drift error
Opis:
The manufacturing and characterization of polymer nanocomposites is an active research trend nowadays. Nonetheless, statistical studies of polymer nanocomposites are not an easy task since they require several factors to consider, such as: large amount of samples manufactured from a standardized procedure and specialized equipment to address characterization tests in a repeatable fashion. In this manuscript, the experimental characterization of sensitivity, hysteresis error and drift error was carried out at multiple input voltages () for the following commercial brands of FSRs (force sensing resistors): Interlink FSR402 and Peratech SP200-10 sensors. The quotient between the mean and the standard deviation was used to determine dispersion in the aforementioned metrics. It was found that a low mean value in an error metric is typically accompanied by a comparatively larger dispersion, and similarly, a large mean value for a given metric resulted in lower dispersion; this observation was held for both sensor brands under the entire range of input voltages. In regard to sensitivity, both sensors showed similar dispersion in sensitivity for the whole range of input voltages. Sensors’ characterization was carried out in a tailored test bench capable of handling up to 16 sensors simultaneously; this let us speed up the characterization process.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2022, 29, 3; 469--481
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies