Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Ozutok, F." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Growth, Electrical, and Optical Study of ZnS:Mn Thin Films
Autorzy:
Ozutok, F.
Erturk, K.
Bilgin, V.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1491355.pdf
Data publikacji:
2012-01
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
72.15.Eb
78.20.Ci
Opis:
In this study, ZnS and Mn-incorporated (at 2%, 4%, and 6%) ZnS films were deposited onto glass substrates by ultrasonic spray pyrolysis technique, and the effect of Mn incorporation on the electrical and optical properties of ZnS films was investigated. In order to determine the electrical characterization, the resistivity measurements of the films were performed by four-probe technique. The optical studies such as transmittance, reflectance and band gap energies of the films were carried out by the UV-Vis transmission.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2012, 121, 1; 221-223
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Study of Ultrasonically Sprayed ZnO Films: Thermal Annealing Effect
Autorzy:
Ozutok, F.
Demirselcuk, B.
Sarica, E.
Turkyilmaz, S.
Bilgin, V.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1490746.pdf
Data publikacji:
2012-01
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.20.Ci
61.05.cp
Opis:
ZnO thin films were deposited on microscope glass substrates by ultrasonic spray pyrolysis technique. The effects of annealing under various temperatures on the optical and structural properties of ZnO thin films were analyzed. The as-deposited and annealed ZnO thin films were investigated by UV/VIS spectrophotometer and X-ray diffractometer. Some of the optical properties of the films such as transmittance, absorbance and band gap energy were investigated by UV/VIS spectrophotometer. The crystallinity levels of the films were investigated, the structural parameters such as diffraction angle, full-width at half maximum, lattice parameters, grain size and dislocation density were calculated and structural properties were analyzed. X-ray diffraction patterns indicated that the ZnO films had a polycrystalline hexagonal wurtzite structure.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2012, 121, 1; 53-55
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies