Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Mohammed, R. Y." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Correlation between Optical and Structural Properties of Chemically deposited CdS Thin Films
Autorzy:
Mohammed, R. Y.
Abduol, S.
Mousa, A. M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/411521.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Przedsiębiorstwo Wydawnictw Naukowych Darwin / Scientific Publishing House DARWIN
Tematy:
cadmium sulfide
chemical bath deposition
CdS films
XRD
Opis:
Polycrystalline Cadmium sulfide (CdS) films were deposited onto Corning glass substrates from alkaline solutions containing CdCl2, KOH, Na3C6H5O7 and CS(NH2)2 at different deposition times (10, 20, 30, 40 and 50 min), different bath temperatures and different concentration of the reactants. A comparative study was performed out on thin film via optical transmission and X-ray diffraction (XRD) measurements which reveal that the deposition time has a profound influence on the growth rate and band gap of the deposited layers. Diffraction data are used to evaluate the lattice parameter, grain size, average strain, number of crystallites per unit area and dislocation density in the film are calculated.
Źródło:
International Letters of Chemistry, Physics and Astronomy; 2014, 11, 2; 146-158
2299-3843
Pojawia się w:
International Letters of Chemistry, Physics and Astronomy
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Structural and Optical Properties of Chemically Deposited CdS Thin Films
Autorzy:
Mohammed, R. Y.
Abduol, S.
Mousa, A. M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/412111.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Przedsiębiorstwo Wydawnictw Naukowych Darwin / Scientific Publishing House DARWIN
Tematy:
cadmium sulfide films
chemical bath deposition
XRD
Opis:
Polycrystalline Cadmium sulfide (CdS) films were deposited onto Corning glass substrates from alkaline solutions containing CdCl2, KOH, Na3C6H5O7 and CS(NH2)2 at different deposition times (10, 20, 30, 40 and 50 min), bath temperatures (80 ±2 °C) and different concentration of the reactants. A comparative study was performed out on thin film via optical transmission and X-ray diffraction (XRD) measurements. The results which reveal that the deposition time has a profound influence on the growth rate and band gap of the deposited layers. Diffraction data was used to evaluate the lattice parameter, grain size, average strain, number of crystallites per unit area and dislocation density in the film are calculated.
Źródło:
International Letters of Chemistry, Physics and Astronomy; 2014, 10; 91-104
2299-3843
Pojawia się w:
International Letters of Chemistry, Physics and Astronomy
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies