Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Miyamura, A." wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-2 z 2
    Tytuł:
    Motor Control: Neural Models and Systems Theory
    Autorzy:
    Doya, K.
    Kimura, H.
    Miyamura, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/908323.pdf
    Data publikacji:
    2001
    Wydawca:
    Uniwersytet Zielonogórski. Oficyna Wydawnicza
    Tematy:
    adaptacyjny układ sterowania
    model wielokrotny
    inverse model
    adaptive control
    cerebellum
    reinforcement learning
    basal ganglia
    multiple models
    Opis:
    In this paper, we introduce several system theoretic problems brought forward by recent studies on neural models of motor control. We focus our attention on three topics: (i) the cerebellum and adaptive control, (ii) reinforcement learning and the basal ganglia, and (iii) modular control with multiple models. We discuss these subjects from both neuroscience and systems theory viewpoints with the aim of promoting interplay between the two research communities.
    Źródło:
    International Journal of Applied Mathematics and Computer Science; 2001, 11, 1; 77-104
    1641-876X
    2083-8492
    Pojawia się w:
    International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Focused Ion Beam Imaging of Defects in Multicrystalline Si for Photovoltaic Application
    Autorzy:
    Miyamura, Y.
    Sekiguchi, T.
    Chen, J.
    Li, J.
    Watanabe, K.
    Kumagai, K.
    Ogura, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1198415.pdf
    Data publikacji:
    2014-04
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    61.05.-a
    61.85.+p
    61.72.Ff
    Opis:
    We demonstrate the imaging of the extended defects in Si materials using a focused ion beam instrument. Since Ga-ion beam has small penetration depth and high channeling character compared with electron beam, the secondary electron signal of focused ion beam is more sensitive to the surface morphology and crystallinity. We have tried to use this secondary electron imaging of focused ion beam for observation of various extended defects in Si materials for photovoltaic and semiconductor devices. As for the texture of multicrystalline Si, some grains are imaged darker than the others. It suggests that the crystal orientation gives different channeling effect on the primary Ga-ion beam, resulting in the different secondary electron yield. The grain boundaries and lineage in multicrystalline Si are shown as bright lines and patterns in the image. Although it may reflect the surface morphologies, these contrasts may be attributed to the channeling contrast due to lattice displacement or distortion. The contrast mechanism of FIB imaging is discussed.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2014, 125, 4; 991-993
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-2 z 2

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies