Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Lapinska, K." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Rola public relations w promocji usług w przedsiębiorstwach funkcjonujących w Polsce
The role of public relations in promoting services in companies operating in Poland
Autorzy:
Pawlak-Kolodziejska, K.
Lapinska, L.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/887961.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Szkoła Główna Gospodarstwa Wiejskiego w Warszawie. Wydawnictwo Szkoły Głównej Gospodarstwa Wiejskiego w Warszawie
Opis:
W działaniach promocyjnych usług na szczególną uwagę zasługuje public relations. Jest to instrument, który wyróżnia się tym, że nie jest skierowany wyłącznie na zachowania klientów, ale dąży do wzbudzenia zainteresowania usługą i firmą, która ją świadczy oraz w dalszej kolejności do budowania długotrwałych, opartych na zaufaniu relacji. Celem niniejszego artykułu jest ocena znaczenia działań public relations w promowaniu usług w polskich przedsiębiorstwach. W artykule wykorzystano wyniki badania pt. „Stan i rozwój marketingu w przedsiębiorstwach funkcjonujących na terenie Polski”, zrealizowanego dzięki finansowemu wsparciu Ministra Nauki i Szkolnictwa Wyższego.
Among the promotional activities related to services the role of public relations needs to be emphasized. This instrument, which is distinguished by its non-being oriented towards customer behaviours, is intended to arouse interest in the service and in the company that provides it and, further, to building long-lasting and trust-based relationships. The objective of the present paper is to evaluate the importance of public relations in promoting services and to determine the impact of various factors on differentiating the applied types of public relations activities. The article includes the outcome of the research conducted within a ministerial grant titled: ‘The condition and development of marketing in companies operating in Poland’.
Źródło:
Zeszyty Naukowe Szkoły Głównej Gospodarstwa Wiejskiego w Warszawie. Polityki Europejskie, Finanse i Marketing; 2013, 10[59]
2081-3430
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe Szkoły Głównej Gospodarstwa Wiejskiego w Warszawie. Polityki Europejskie, Finanse i Marketing
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Opracowanie metody ujawniania położenia złącza LH typu n+n oraz p+p w strukturach epitaksjalnych z SiC metodą chemicznego barwienia
Identification of position of the n+n and p+p LH junctions in epitaxial SiC layers by chemical decoration
Autorzy:
Przyborowska, K.
Dobrzański, L.
Możdżonek, M.
Surma, B.
Brzozowski, A.
Łapińska, B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/192250.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Tematy:
SiC
grubość warstwy epitaksjalnej
chemiczne barwienie
thickness of epitaxial layer
chemical decoration
Opis:
Opracowano metodę ujawniania obszarów typu n i p epitaksjalnej warstwy SiC metodą chemicznego barwienia. Złącze n+n lub p+p znajduje się pod powierzchnią płytki. Ujawnienie i pomiar położenia złącza wykonuje się na próbce zeszlifowanej pod niewielkim kątem. Przebadano kilka roztworów, spośród nich wybrano jeden dla którego wykonano próby barwienia warstw w różnych warunkach. Ustalono warunki prowadzenia procesu dające jednoznaczny pomiar grubości ujawnionych warstw. Opracowano technicznie prostą i nie wymagającą specjalistycznej aparatury metodę, której wyniki są porównywalne z wynikami otrzymanymi metodami optycznymi.
A method of the chemical decoration of n and p SiC epitaxial layers has been established. Both n+n and p+p junctions are located under the wafer surface. The decoration and measurement of junction depth have been done using samples lapped at a small angle. Several staining solutions have been tested. In consequence, the best has been selected out of them to perform decoration under different circumstances. The processing conditions which enable an unambiguous thickness measurement have been determined. The reported method is simple and does not require specialised equipment. The results of junction depth measurements are consistent with those obtained using optical methods.
Źródło:
Materiały Elektroniczne; 2011, T. 39, nr 2, 2; 14-17
0209-0058
Pojawia się w:
Materiały Elektroniczne
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies