Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Konczakowska, A." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-6 z 6
Tytuł:
Zastosowanie termografii w diagnostyce i badaniach urządzeń elektronicznych
Application of infrared thermography to diagnosis and testing of electronic equipment
Autorzy:
Galla, S.
Konczakowska, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/153494.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
termowizja
odporność
diagnostyka
EMC
thermography
immunity
diagnostic
Opis:
Zaproponowano zastosowanie techniki termowizyjnej do oceny poprawność konstrukcji i działania urządzeń elektronicznych. Technikę termowizyjną zastosowano do badania elementów ochronnych zasilacza AC/DC w czasie standardowych badań odporności na udary oraz do badania modułów GSM pracujących pod kontrolą nadrzędnego programu sterującego i płyty głównej centrali systemu przeciwpożarowego. Pomiary termowizyjne zastosowano do oceny przyrostu temperatury ww. urządzeń.
In the paper there is proposed use of infrared thermography for assessing the validity of construction and operation of electronic devices. The most important advantages of this technique are the short time of studies and the ability of direct evaluation of results. It was found that for electronic devices it was appropriate to record infrared imagings in various states of their operation. Comparison of temperature increments from different states of operation enables validation of constructions from the heat discharge point of view. Investigations were performed for AC/DC power supplies, a GSM module, and the motherboard of a fire-fighting system using the camera VIGOcam v50. For AC/DC power supplies (Fig. 1) it was proposed to record infrared imagings during the surge immunity test (the standard EN 61000-4-5) in order to evaluate the quality of protective elements, varistors. From the imaging of the power supply immediately after the first surge (Fig. 2b) it was possible to evaluate the temperature increment on the varistor. It was stated that the accepted temperature increments on the varistor could be equal up to 30°C. The research results for the GSM module (Fig. 3) and the motherboard of the fire-fighting system (Figs. 4 and 5) are presented as imagings of the devices operating in a standby regime and with a full power. The areas with increased emission were identified. It was found that infrared thermography is very useful in the assessment of temperature distributions.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2013, R. 59, nr 4, 4; 345-348
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Application of infrared thermography to non-contact testing of varistors
Autorzy:
Galla, S.
Konczakowska, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/220473.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
thermography
testing
varistors
Opis:
Testing of varistors using thermography was carried out in order to assess their protective properties against possible overvoltage phenomena in the form of high-level voltage surges. An advantage of the thermography technique is non-contact temperature measurement. It was proposed to assess the properties of varistors working in electronic devices as protective elements, on the basis of estimating temperature increments on varistor surfaces, registered by an infrared camera during surge resistance tests with standard voltage levels. To determine acceptable temperature increments on a tested varistor, preliminary testing was performed of P22Z1 (Littelfuse) and S07K14 (EPCOS) type varistors, working first at a constant load and presently during surge tests,. The thermographic test results were compared with measured varistor capacity values before and after tests. It was found that recording with thermography temperature increments greater than 6°C for both P22Z1 and S07K14 varistor types detects total or partial loss of varistor protective properties. The test results were confirmed by assessment of protective properties of varistors working in output circuits of low nominal voltage devices.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2013, 20, 4; 677-688
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Komputerowy algorytm identyfikacji szumów RTS
A computing algorithm of multi-level RTS noise identification
Autorzy:
Cichosz, J.
Konczakowska, A.
Szatkowski, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/268745.pdf
Data publikacji:
2006
Wydawca:
Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
Opis:
W referacie przedstawiono algorytm identyfikacji wielopoziomowych szumów RTS {Random Telegraph Signal) w sygnałach szumowych małej częstotliwości oparty na aproksymacji odcinkowo-stałej. Algorytm umożliwia wydzielanie składowej RTS z sygnału szumowego przyrządu półprzewodnikowego. W wyniku zastosowania algorytmu można wyznaczyć wartości poziomów impulsów RTS i ich czasy trwania. Dokładność wydzielenia składowej RTS przeanalizowano badając zgodność z rozkładem Gaussa lej części sygnału szumowego, którą otrzymano po odjęciu składowej RTS zidentyfikowanej z wykorzystaniem zaproponowanej procedury.
A computing algorithm of identification of multi-level RTS noise has been proposed. The procedure makes it possible to extract the RTS component from noise signal which has been recorded. The proposed computing algorithm is the well-processing procedure in the case, if an RTS with noise being analysed decomposes into the sum of the RTS component and the remainder component having the mean value equal to zero, where the arithmetic mean value is calculated on the time intervals being the domains of the successive RTS pulses, and next, if a respectively defined separation condition is satisfied by the successive RTS pulses. With the use of the computing procedure one can find the levels and duration times of the sequence of the successive RTS pulses. One can estimate the accuracy of the extraction of an RTS component of an RTS with noise by analysing the statistical properties of the remainder component, which is expected to be a gaussian noise having zero mean value. Also NSP analyses of the extracted Random Telegraph Signals and of the remainder noise components have been taken into account. The procedure has been used and discussed in examination of the low-frequency noise of the semiconductor devices.
Źródło:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2006, 22; 9-18
1425-5766
2353-1290
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Ocena jakości wodorostów na podstawie pomiarów termowizyjnych
Application of infrared thermography to varistors quality evaluation
Autorzy:
Bobcow, M.
Galla, S.
Konczakowska, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/266990.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
Tematy:
termografia
warystory
ocena jakości
infrared thermography
varistors
quality evaluation
Opis:
Zaproponowano zastosować temperaturę, mierzoną metodą termowizyjną, do indywidualnej oceny jakości warystorów. Badania przeprowadzono dla 20 warystorów niskonapięciowych. Wykonano pomiary parametrów elektrycznych i temperatury warystorów przed testami narażeniowymi i po 2 kolejnych cyklach narażeń. Testy narażeniowe zastosowano w celu pogorszenia jakości warystorów. Zaproponowano zasady klasyfikacji badanych warystorów do grup o wysokiej i niskiej jakości na podstawie pomiarów parametrów elektrycznych przed testami. Na podstawie porównania wyników pomiarów parametrów elektrycznych i temperatury wykonanych, przed i po testach narażeniowych, wytypowano temperaturę T warystora, mierzoną po 5 minutach samo-podgrzania, jako wartość umożliwiającą klasyfikację badanego warystora do grup jakościowych. Wartość temperatury T większa niż 40 0C wskazuje, że badany warystor jest niskiej jakości.
The use of thermography displacement (NDT - non-destructive tests) is proposed to assess the quality of individual varistor. Twenty low-voltage varistors were studied where electrical and thermal performance measurements were taken before the stress-tests (part I) and after two subsequent cycles of two-tier stress tests (part III and V, respectively). Stress-tests were used to obtain degradation of the tested varistors (part II and IV, respectively). The following electrical parameters were measured: electric resistance Rp , quality Q, dissipation factor D and leakage current Iupł. The scope of the thermographic study included measurements of the varistors’ temperature within 5 minutes after turning on the power (self-heating) and 5 minutes after turning off the power (cooling). A comparison study was conducted of the classification rules, where varistors were assigned to groups depending on their quality based on either the electrical parameters measured before the stress tests, or their temperature measurements. Varistor’s temperature T, measured after self-heating it up for 5 minutes, was selected as the borderline value on basis of which the selection to the different quality groups was conducted. The temperature T higher than 40 0C indicates that the test specimen is of average or poor quality and should not be used.
Źródło:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2015, 46; 21-24
1425-5766
2353-1290
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Metody analizy szumu telegrafistów przyrządów półprzewodnikowych
Methods of analysis of random telegraph signal noise (RTS noise) of semiconductor devices
Autorzy:
Cichosz, J.
Konczakowska, A.
Stawarz-Graczyk, B.
Szatkowski, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/153818.pdf
Data publikacji:
2008
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
szum telegrafistów
metody identyfikacji szumu telegrafistów
przetwarzanie cyfrowe szumu
random telegraph noise signal
methods of RTS noise identification
digital processing of noise
Opis:
Scharakteryzowano szum telegrafistów (Random Telegraph Signal - RTS), który może występować w szumie własnym przyrządów półprzewodnikowych, jako składowa niegaussowska. Podkreślono, że szum telegrafistów jest efektem defektów materiałów zastosowanych w produkcji przyrządów półprzewodnikowych lub nieprawidłowości procesu produkcyjnego. Przedstawiono metody identyfikacji wielopoziomowego szumu telegrafistów, na przykładzie przebiegów szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych.
The Random Telegraph Signal noise which can occur in inherent noise of semiconductor devices as a non-Gaussian component is characterized. It was emphasized that the RTS noise is caused by defects of applied materials or manufacturing incorrectness. The methods of identification of multilevel RTS noise in an inherent noise of semiconductor devices are presented.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2008, R. 54, nr 3, 3; 91-94
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
System identyfikacji szumów RTS transoptorów CNY17
System for identification of RTS noise in CNY17 optocoupler devices
Autorzy:
Erenc, R.
Konczakowska, A.
Stawarz-Graczyk, B.
Wójcik, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/267503.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
Tematy:
szum RTS
transoptor
metoda Wzorów Obrazów Szumów (WOS)
RTS noise
optocoupler device
Noise Scattering Pattern (NSP) method
Opis:
W artykule opisano zaprojektowany i wykonany system do identyfikacji szumów wybuchowych (RTS – Random Telegraph Signal) występujących w transoptorach typu CNY17. Z metod umożliwiających ocenę parametrów szumów wybuchowych wybrano do realizacji metodę Wzorów Obrazów Szumów – WOS (ang. Noise Scattering Patterns – NSP), która w sposób bardzo prosty pozwala na rozpoznawanie szumów o rozkładach wartości chwilowych gaussowskich i niegaussowskich. Zaprojektowany system składa się z części analogowej umożliwiającej pomiar parametrów sygnału szumowego transoptorów oraz części cyfrowej realizującej przetwarzanie sygnału szumowego. System automatycznie testuje transoptory CNY17, przetwarza uzyskane dane, które następnie są prezentowane na wyświetlaczu graficznym.
In the paper the universal system for identification of Random Telegraph Signal (RTS) noise as a non-Gaussian component of the inherent noise signal in CNY17 optocoupler devices is presented. To identification of RTS noise the Noise Scattering Patterns (NSP) method was chosen. The method allows to identify the Gaussian and non-Gaussian distributions of noise temporary values in a very simple way. Impulses are characterized by constant amplitude and random occurrence of impulses. The system consists of two main parts: the measurement circuit and a data acquisition circuit. The system automatically tests optocouplers and the results are presented on graphic display of the device.
Źródło:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2015, 46; 31-34
1425-5766
2353-1290
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-6 z 6

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies