Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Kolek, A." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-11 z 11
Tytuł:
Four-point probe resistivity noise measurements of GaSb layers
Autorzy:
Ciura, L.
Kolek, A.
Smoczyński, D.
Jasik, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/201503.pdf
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
low frequency noise
GaSb noise
noise measurements
resistance noise calculation
Opis:
This paper concerns measurements and calculations of low frequency noise for semiconductor layers with four-probe electrodes. The measurements setup for the voltage noise cross-correlation method is described. The gain calculations for local resistance noise are performed to evaluate the contribution to total noise from different areas of the layer. It was shown, through numerical calculations and noise measurements, that in four-point probe specimens, with separated current and voltage terminals, the non-resistance noise of the contact and the resistance noise of the layer can be identified. The four-point probe method is used to find the low frequency resistance noise of the GaSb layer with a different doping type. For n-type and p-type GaSb layers with low carrier concentrations, the measured noise is dominated by the non-resistance noise contributions from contacts. Low frequency resistance noise was identified in high-doped GaSb layers (both types). At room temperature, such resistance noise in an n-type GaSb layer is significantly larger than for p-type GaSb with comparable doping concentration.
Źródło:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences; 2020, 68, 1; 135-140
0239-7528
Pojawia się w:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Noise Measurements Of Resistors With The Use Of Dual-Phase Virtual Lock-In Technique
Autorzy:
Stadler, A. W.
Kolek, A.
Zawiślak, Z.
Dziedzic, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/221468.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
1/f noise
polymer thick-film resistor
low-frequency noise measurements
virtual lock-in
Opis:
Measurement of low-frequency noise properties of modern electronic components is a very demanding challenge due to the low magnitude of a noise signal and the limit of a dissipated power. In such a case, an ac technique with a lock-in amplifier or the use of a low-noise transformer as the first stage in the signal path are common approaches. A software dual-phase virtual lock-in (VLI) technique has been developed and tested in low-frequency noise studies of electronic components. VLI means that phase-sensitive detection is processed by a software layer rather than by an expensive hardware lock-in amplifier. The VLI method has been tested in exploration of noise in polymer thick-film resistors. Analysis of the obtained noise spectra of voltage fluctuations confirmed that the 1/f noise caused by resistance fluctuations is the dominant one. The calculated value of the parameter describing the noise intensity of a resistive material, C= 1·10−21m3, is consistent with that obtained with the use of a dc method. On the other hand, it has been observed that the spectra of (excitation independent) resistance noise contain a 1/f component whose intensity depends on the excitation frequency. The phenomenon has been explained by means of noise suppression by impedances of the measurement circuit, giving an excellent agreement with the experimental data.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2015, 22, 4; 503-512
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Measurements of low frequency noise of infrared photo-detectors with transimpedance detection system
Autorzy:
Ciura, Ł.
Kolek, A.
Gawron, W.
Kowalewski, A.
Stanaszek, D.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/221094.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
1/f noise
infrared detectors
nBn structure
HgCdTe heterostructures
noise measurements
transimpedance detection system
type II InAs/GaSb superlattice
Opis:
The paper presents the method and results of low-frequency noise measurements of modern mid-wavelength infrared photodetectors. A type-II InAs/GaSb superlattice based detector with nBn barrier architecture is compared with a high operating temperature (HOT) heterojunction HgCdTe detector. All experiments were made in the range 1 Hz - 10 kHz at various temperatures by using a transimpedance detection system, which is examined in detail. The power spectral density of the nBn’s dark current noise includes Lorentzians with different time constants while the HgCdTe photodiode has more uniform 1/f - shaped spectra. For small bias, the low-frequency noise power spectra of both devices were found to scale linearly with bias voltage squared and were connected with the fluctuations of the leakage resistance. Leakage resistance noise defines the lower noise limit of a photodetector. Other dark current components give raise to the increase of low-frequency noise above this limit. For the same voltage biasing devices, the absolute noise power densities at 1 Hz in nBn are 1 to 2 orders of magnitude lower than in a MCT HgCdTe detector. In spite of this, low-frequency performance of the HgCdTe detector at ~ 230K is still better than that of InAs/GaSb superlattice nBn detector.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2014, 21, 3; 461-472
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Noise Properties of Graphene-Polymer Thick-Film Resistors
Autorzy:
Mleczko, K.
Ptak, P.
Zawiślak, Z.
Słoma, M.
Jakubowska, M.
Kolek, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/220754.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
graphene
polymer thick-film resistor
low-frequency noise
noise measurements
Opis:
Graphene is a very promising material for potential applications in many fields. Since manufacturing technologies of graphene are still at the developing stage, low-frequency noise measurements as a tool for evaluating their quality is proposed. In this work, noise properties of polymer thick-film resistors with graphene nano-platelets as a functional phase are reported. The measurements were carried out in room temperature. 1/f noise caused by resistance fluctuations has been found to be the main component in the specimens. The parameter values describing noise intensity of the polymer thick-film specimens have been calculated and compared with the values obtained for other thick-film resistors and layers used in microelectronics. The studied polymer thick-film specimens exhibit rather poor noise properties, especially for the layers with a low content of the functional phase.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2017, 24, 4; 589-594
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Noise Properties Of Thick-Film Conducting Lines For Integrated Inductors
Autorzy:
Stadler, A. W.
Kolek, A.
Mleczko, K.
Zawiślak, Z.
Dziedzic, A.
Nowak, D.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/221399.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
low-frequency noise
thick-film conducting layer
thick-film inductor
Opis:
Studies of noise properties of thick-film conducting lines from Au or PdAg conductive pastes on LTCC or alumina substrates are reported. Experiments have been carried out at the room temperature on samples prepared in the form of meanders by traditional screen-printing or laser-shaping technique. Due to a low resistance of the devices under test (DUTs), low-frequency noise spectra have been measured for the dc-biased samples arranged in a bridge configuration, transformer-coupled to a low-noise amplifier. The detailed analysis of noise sources in the signal path and its transfer function, including the transformer, has been carried out, and a procedure for measurement setup self-calibration has been described. The 1/f noise component originating from resistance fluctuations has been found to be dominant in all DUTs. The analysis of experimental data leads to the conclusion that noise is produced in the bends of meanders rather than in their straight segments. It occurs that noise of Au-based laser-shaped lines is significantly smaller than screen-printed ones. PdAg lines have been found more resistive but simultaneously less noisy than Au-based lines.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2015, 22, 2; 229-240
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
FPGA as a part of MS WINDOWS control environment
FPGA jako część środowiska sterowania MS Windows
Autorzy:
Kołek, K.
Turnau, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/305425.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydawnictwo AGH
Tematy:
rozszerzenie MS Windows
miękkie systemy operacyjne czasu rzeczywistego
sterowniki oparte na technologii FPGA
MS Windows extensions
soft real time operating system
FPGA-based controller
Opis:
The attention is focused on the Windows operating system (OS) used as a control and measurement environment. WlNDOWS OS due to extensions becomes a real-time OS (RTOS). Benefits and drawbacks of typical software extensions are compared. As far as hardware solutions are concerned the field programmable gate arrays FPGA technology is proposed to ensure fast time-critical operations. FPGA-based parallel execution and hardware implementation of the data processing algorithms significantly outperform the classical microprocessor operating modes. Suitability of the RTOS for a particular application and FPGA hardware maintenance is studied.
Uwagę skupiono na WlNDOWS - systemie operacyjnym (OS) użytym jako środowisko pomiarów i sterowania. WlNDOWS OS, dzięki rozszerzeniom, staje się systemem operacyjnym czasu rzeczywistego (RTOS). Porównano wady i zalety typowych programowych rozszerzeń. W przypadku sprzętowych rozwiązań, proponuje się użycie technologii FPGA, by wykonać szybkie, krytyczne czasowo operacje. Równolegle wykonanie algorytmu oparte na technologii FPGA i sprzętowa implementacja algorytmów przetwarzania danych w sposób znaczący przewyższają klasyczne mikroprocesorowe tryby pracy. Badane są: dostosowanie oraz użyteczność RTOS dla wybranych aplikacji i rozwiązania sprzętowe wykorzystujące technologię FPGA.
Źródło:
Computer Science; 2007, 8, Spec. Ed; 61-68
1508-2806
2300-7036
Pojawia się w:
Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Efektywne kształcenie inżynierów z wykorzystaniem laboratoryjnych systemów mechatronicznych i stosowaniem metodologii szybkiego prototypownia algorytmów sterowania
Effective engineering education on the basis of mechatronic laboratory systems and control algorithms obtained by rapid prototyping methodology
Autorzy:
Knapik, D.
Kołek, K.
Rosół, M.
Turnau, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/266845.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
Tematy:
studia inżynierskie
systemy mechatroniczne
szybkie prototypowanie algorytmów
laboratorium sterowania
engineering education
mechatronic
model-based design
control laboratory
Opis:
W pracy przedstawiono metodykę nauczania opartą na wykorzystaniu laboratoryjnych systemów mechatronicznych oraz narzędzi do szybkiego prototypowania algorytmów sterowania. Stosowana metoda jest odpowiedzią na zapotrzebowanie rynku pracy na inżynierów z praktyką przy jednoczesnym uwzględnieniu finansowych możliwości uczelni wyższych. Istotną kwestią w procesie edukacji na studiach technicznych jest równowaga pomiędzy nauczaniem teorii a przekazywaniem umiejętności praktycznych. Przedstawiana metoda umożliwia zrealizowanie wymagań stawianych współczesnym laboratoriom technicznym.
The article demonstrates teaching methodology on the basis of mechatronic laboratory systems and tools for the rapid prototyping of control algorithms. The presented solution is dedicated to nowadays teaching courseware as a methodology to meet the requirements for highly trained and educated engineers. The main difficulty in engineering education is to find a balance between theory and practice. The practical (based on experiments) education requires a lot of effort. First of all, it requires access to the appropriate lab. The methodology presented in the paper is based on cost effective mechatronics systems originated from industrial plants reduced in scale. The following systems, are exemplified: gantry crane, servo and balancing robot. The signals from the sensors and signals to the actuators bring the real world into the computer model. Mechatronic systems are connected to PC computer via interface board. Computer-Aided Engineering which supports Model-Based Design techniques is used for modeling, validation and implementing measurement and control applications. Two main advantages of this solution are well visible: to make the laboratory sets cost effective, and to allow a focus on the problem while omitting the details of its implementation. The proposed method is addressed mainly to educators of the control engineering, mechanical engineering, metrology and embedded control.
Źródło:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2016, 48; 35-40
1425-5766
2353-1290
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Analysis of industrial PROFINET in the task of controlling a dynamic system
Analiza pracy przemysłowej sieci PROFINET w zadaniu sterowania układem dynamicznym
Autorzy:
Rosół, M.
Knapik, D.
Marchewka, D.
Kołek, K.
Turnau, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/282176.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydawnictwo AGH
Tematy:
PROFINET network
real-time control
jitter analysis
sieć PROFINET
sterowanie w czasie rzeczywistym
analiza jitteringu
Opis:
This paper analyses the behaviour of industrial network PROFINET for time determinism during the transfer of controls and measurements in real time. The subject of interest is the performance of the network control system. An experimentation platform is described. An analysis of jitter in sampling period is provided. Test results demonstrating advantages of communication using PROFINET standard are presented.
W pracy analizowano zachowanie się przemysłowej sieci PROFINET pod kątem determinizmu czasowego przy przesyłaniu sterowań i pomiarów w czasie rzeczywistym. Przedmiotem zainteresowania jest wydajność sieciowego systemu sterowania. Zostało opisane użyte środowisko testowe. Zamieszono analizę odchyłek czasowych (jitter) w cyklicznej wymianie danych. Przedstawione zostały wyniki eksperymentów obrazujące zalety wykorzystania standardu PROFINET.
Źródło:
Automatyka / Automatics; 2013, 17, 1; 65-72
1429-3447
2353-0952
Pojawia się w:
Automatyka / Automatics
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The real-time network control of the inverted pendulum system based on Siemens hardware
Sieciowy system sterowania w czasie rzeczywistym wahadłem odwróconym oparty na sprzęcie Siemens
Autorzy:
Turnau, A.
Knapik, D.
Marchewka, D.
Rosół, M.
Kołek, K.
Gorczyca, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/282146.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydawnictwo AGH
Tematy:
networked control system
real-time control
servomotor
sieciowy system sterowania
sterowanie w czasie rzeczywistym
serwomechanizm
Opis:
A pendulum on a cart system is often regarded as benchmark for control algorithms. In the paper such feature of the inverted pendulum is used to verify complex control system. Design and implementation of a networked control system containing a PLC and a servo driver is described. A control algorithm for inverted pendulum is shown and experiments results are presented. The findings may be used in a networked control system verification.
Wahadło odwrócone jest powszechnie uznanym wzorcem do testowania algorytmów sterowania. W pracy wykorzystano powyższą cechę wahadła odwróconego w celu weryfikacji złożonego systemu sterowania. Omówiono projekt i implementację sieciowego systemu sterowania złożonego ze sterownika PLC i sterownika napędu. Przedstawiono budowę algorytmu sterującego układem wahadła odwróconego oraz zaprezentowano wyniki rzeczywistych eksperymentów. Przeprowadzone badania mogą zostać użyte w celu weryfikacji sieciowych systemów sterowania.
Źródło:
Automatyka / Automatics; 2013, 17, 1; 83-92
1429-3447
2353-0952
Pojawia się w:
Automatyka / Automatics
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-11 z 11

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies