Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Jagoda, R." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Ocena programu nauczania przedmiotów związanych z rachunkowością przeprowadzona przez studentów Wydziału Nauk Ekonomicznych i Zarządzania Uniwersytetu Szczecińskiego a potrzeby rynku
Assessment of the teaching programme of accounting related subjects in the opinion of students Faculty of Economics and Management University of Szczecin versus market requirements
Autorzy:
Jagoda, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/79361.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie. Wydawnictwo Uczelniane ZUT w Szczecinie
Tematy:
programy studiow
dydaktyka
przedmioty nauczania
rachunkowosc
ocena
studenci
Wydzial Nauk Ekonomicznych i Zarzadzania
Uniwersytet Szczecinski
opinie studentow
zapotrzebowanie rynku
przygotowanie zawodowe
Opis:
The purpose of the paper is to try to answer the question: in what way students see the teaching programme of accounting related subjects and what they think of its usefulness in practice. The study also presents expectations of future employers (owners of accounting service companies) in the area of the knowledge and the skills of graduates of accounting specializations. Information related to the assessment of the way in which lectures on accounting related subjects are given indicates that theoretical ways of passing on the knowledge still prevail. It is similar in case of exercises. Students evaluated the practical usefulness of each particular subject differently, and, according to the opinion of accounting service companies, the knowledge of all the subjects listed in the hour schedule should be of high or a very high level. Accounting service companies as well as students think that more time should be expended on working with accounting applications and simulating the business activity as it would increase the graduate’s chances on the labour market.
Źródło:
Folia Pomeranae Universitatis Technologiae Stetinensis. Oeconomica; 2009, 56
2081-0644
Pojawia się w:
Folia Pomeranae Universitatis Technologiae Stetinensis. Oeconomica
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The properties of terrestrial laser system intensity in measurements of technical conditions of architectural structures
Autorzy:
Suchocki, C.
Jagoda, M.
Obuchovski, R.
Šlikas, D.
Sužiedelytė-Visockienė, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/221139.pdf
Data publikacji:
2018
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
TLS
LIDAR
MSE method
intensity
damage of structures
Opis:
Terrestrial laser scanning (TLS) is one of the instruments for remote detection of damage of structures (cavities, cracks) which is successfully used to assess technical conditions of building objects. Most of the point clouds analysis from TLS relies only on spatial information (3D–XYZ). This study presents an approach based on using the intensity value as an additional element of information in diagnosing technical conditions of architectural structures. The research has been carried out in laboratory and field conditions. Its results show that the coefficient of laser beam reflectance in TLS can be used as a supplementary source of information to improve detection of defects in constructional objects.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2018, 25, 4; 779-792
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Electron Microscopy and X-ray Diffraction Study of AlN Layers
Autorzy:
Kowalczyk, A.
Jagoda, A.
Mücklich, A.
Matz, W.
Pawłowska, M.
Ratajczak, R.
Turos, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2035486.pdf
Data publikacji:
2002-08
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
52.77.Dq
Opis:
AlN nanocrystalline layers and superstructures are used in the modern optoelectronic technology as reflecting mirrors in semiconductor lasers. In the present work the properties of AlN films prepared by sputtering methods from an AlN target in reactive Ar + N plasma were investigated. The characterisation was performed with HRTEM, SEM, glancing angle XRD and RBS methods. The present measurements confirmed the polycrystalline structure of AlN layers and enabled the evaluation of their grain size. The roughness and thickness of the layers were additionally determined by ellipsometric and profilometric measurements.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2002, 102, 2; 221-225
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies