Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Ilka, A." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Robust switched controller design for linear continuous-time systems
Autorzy:
Ilka, A.
Veselý, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/229858.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
switched system
robust controller
output feedback
quadratic stability
multi parameter dependent quadratic stability
Opis:
In this paper we study a novel approach to the design of a robust switched controller for continuous-time systems described by a novel robust plant model using quadratic stability and multi parameter dependent quadratic stability approaches. In the proposed design procedure with an output feedback a novel quadratic cost function is proposed which allows to obtain different performance dependence on the working points. Finally a numerical examples are investigated.
Źródło:
Archives of Control Sciences; 2015, 25, 4; 401-416
1230-2384
Pojawia się w:
Archives of Control Sciences
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Ohmic Contacts To GaN by Solid-Phase Regrowth
Autorzy:
Kamińska, E.
Piotrowska, A.
Barcz, A.
Ilka, L.
Guziewicz, M.
Kasjaniuk, S.
Dynowska, E.
Kwiatkowski, S.
Bremser, M. D.
Davis, R. F.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1968123.pdf
Data publikacji:
1997-10
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
73.40.Ns
73.40.Cg
Opis:
Ni/Si-based contact schemes based on the solid-phase regrowth process have been developed to form low-resistance ohmic contacts to GaN with a minimum contact resistivity of 1×10$\text{}^{-3}$ Ωcm$\text{}^{2}$ and ≈1×10$\text{}^{-2}$ Ωcm$\text{}^{2}$ to GaN:Si (n ≈ 2×10$\text{}^{17}$ cm$\text{}^{-3}$) and GaN:Mg (p ≈ 3×10$\text{}^{17}$ cm$\text{}^{-3}$). The solid-phase regrowth process responsible for the ohmic contact formation was studied using X-ray diffraction, secondary ion mass spectrometry and Rutherford backscattering spectrometry.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1997, 92, 4; 819-823
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies