Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Grigoryev, D. O." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Structure Perfection Study of Crystals Containing Micro- and Macrodistortions by X-Ray Acoustic Method
Autorzy:
Khrupa, V. I.
Grigoryev, D. O.
Dzyublik, A. Ya.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1931662.pdf
Data publikacji:
1994-10
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
81.40.-z
61.72.Dd
Opis:
The X-ray acoustic method for determination the structure perfection integral characteristics is suggested for slightly imperfect dislocation-free crystals. The method is suitable for investigation of a crystal disturbed both by localized (microdefects) and by distributed (macrostrains) structure defects. It is based on the analysis of dependence of the distance Δx between two minima, arising in the spatial intensity profile I(x) of the X-ray beam diffracted by acoustically excited crystal, upon ultrasound frequency vs. Using the data Δx(v$\text{}_{s}$) for two selected reflections, we calculated the values of the extinction lengths Λ which enabled us to identify the predominate type of structure disturbances as well as to estimate the static Debye-Waller factors e$\text{}^{-L}$ and the period of the main macrodeformation λ$\text{}_{M}$ for a sample containing simultaneously microdefects and periodic long range deformations. Such approach was used for studying the structure perfection of Czochralski-grown (Cz) and float-zone (FZ) silicon crystals.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1994, 86, 4; 597-603
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Rapid Structure Perfection Diagnostics of GaAs Single Crystal by Diffraction of White X-Ray Radiation
Autorzy:
Khrupa, V. I.
Grigoryev, D. O.
Skorokhod, M. Ya.
Datsenko, L. I.
Bąk-Misiuk, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1931661.pdf
Data publikacji:
1994-10
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
81.40.-z
61.70.-r
Opis:
Sensitivity of X-ray integral reflectivity of GaAs single crystal to a degree of structure distortions was established to grow considerably in the Bragg diffraction case when the characteristic AgK_{α$\text{}_{1}}$ line is changed for more hard white radiation. In effect, the absorption length essentially exceeds the extinction length what results in enhancement of incoherent scattering. Measurements of X-ray integral reflectivity coordinate dependence by single crystal spectrometer permitted to determine the mean level of crystal lattice distortion as well as the degree of structure homogeneity of a sample with dislocations. The Debye-Waller static factor value was estimated from X-ray integral reflectivity magnitudes for the 800 reflection of white radiation.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1994, 86, 4; 591-596
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies