Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Greben, O." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-4 z 4
Tytuł:
The genus Oschmarinolepis Spassky et Spasskaja, 1954 (Cestoda, Cyclophyllidea), history of studying, and the most recent species structure
Autorzy:
Kornyushin, V.
Greben, O.
Mariaux, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/6103.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Polskie Towarzystwo Parazytologiczne
Tematy:
Oschmarinolepis
cestode
Oschmarinolepis microcephala
parasite
Cestoda
Cyclophyllidea
species structure
Źródło:
Annals of Parasitology; 2016, 62, Suppl.
0043-5163
Pojawia się w:
Annals of Parasitology
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Skrjabini - cestodiasis of poultry chickens of the south of Ukraine
Autorzy:
Stepanova, N.O.
Bogach, M.V.
Greben, O.B.
Kornyushyn, V.V.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/6282.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Polskie Towarzystwo Parazytologiczne
Tematy:
parasitic disease
domestic animal
wild animal
chicken
bird
parasite
intestine
tapeworm
Davaineidae
cestodiasis
cestode infection
poultry
Ukraine
Źródło:
Annals of Parasitology; 2016, 62, Suppl.
0043-5163
Pojawia się w:
Annals of Parasitology
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Light Emitting Single-Crystalline Silicon Wafers Implanted with V and III Group Ions
Autorzy:
Komarov, F.
Vlasukova, L.
Milchanin, O.
Greben, M.
Parkhomenko, I.
Mudryi, A.
Wendler, E.
Zukowski, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1198877.pdf
Data publikacji:
2014-06
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.80.-x
61.72.Ff
63.20.-e
78.66.-w
Opis:
Compound semiconductor nanocrystals (InAs, InSb, GaSb) were successfully synthesized in single crystalline Si by high fluence ion implantation at 500C followed by high-temperature rapid thermal annealing or conventional furnace annealing at 900-1100°C. Rutherford backscattering spectrometry, transmission electron microscopy/transmission electron diffraction, Raman scattering, and photoluminescence were employed to characterize the implanted layers. Two different types of the broad band emission extending over 0.75-1.1 eV were observed in photoluminescence spectra of annealed samples. One of the bands disappears in photoluminescence spectra of samples annealed at 1100C unlike the other one.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2014, 125, 6; 1288-1291
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Ion Beam Synthesis of InAs Nanocrystals in Si: Influence of Thin Surface Oxide Layers
Autorzy:
Komarov, F.
Vlasukova, L.
Milchanin, O.
Greben, M.
Komarov, A.
Mudryi, A.
Wesch, W.
Wendler, E.
Zuk, J.
Kulik, M.
Ismailova, G.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1400427.pdf
Data publikacji:
2013-05
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.80.-x
61.72.Ff
63.20.-e
78.66.-w
Opis:
Nanosized crystallites have been synthesized in the Si and $SiO_2//Si$ structures by means of As (170 keV, $3.2 × 10^{16} cm^{-2}$) and In (250 keV, $2.8 × 10^{16} cm^{-2}$) implantation at 25C and 500C and subsequent annealing at 1050C for 3 min. The Rutherford backscattering, transmission electron microscopy, and photoluminescence techniques were used to analyse the impurity distribution as well as the structural and optical characteristics of the implanted layers. It was found that oxidation of samples before thermal treatment significantly reduced the As and In losses. A broad band in the region of 1.2-1.5 μm was detected in the photoluminescence spectra. The highest photoluminescence yield for the samples after "hot" implantation and annealing was obtained. Anodic oxidation of the implanted samples before annealing results in the additional increase of photoluminescence yield.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2013, 123, 5; 809-812
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-4 z 4

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies