Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Gotszalk, Teodor" wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-5 z 5
    Tytuł:
    Europejski projekt metrologiczny NanoWires wspierający rozwój nanotechnologii dla przemysłu energii odnawialnej
    European metrology project NanoWires supporting the development of nanotechnologies for the renewable energy industry
    Autorzy:
    Fidelus, Janusz D.
    Gotszalk, Teodor
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1426309.pdf
    Data publikacji:
    2020
    Wydawca:
    Główny Urząd Miar
    Tematy:
    nanoprzewody
    spójność pomiarowa
    nanotechnologia
    energia odnawialna
    ogniwa słoneczne
    szybkie obrazowanie termiczne
    nanowires
    measurement traceability
    nanotechnology
    renewable energy
    solar cells
    fast thermal imaging
    Opis:
    W artykule przedstawiono założenia i szczegółowe cele projektu oraz aktualny stan wiedzy i możliwości uzyskania postępu w zapewnieniu spójności pomiarowej w europejskim i światowym przemyśle, w zakresie poprawy wydajności i jakości urządzeń do pozyskiwania energii z nanoprzewodów. Omówiono zakres współpracy Głównego Urzędu Miar z Politechniką Wrocławską w tematyce metrologii pojedynczych nanowłókien, służących do pozyskiwania energii oraz potencjalny wpływ założonych w projekcie przedsięwzięć na środowisko, metrologię i użytkowników.
    The article presents the assumptions and detailed objectives of the project as well as the current state of the art and the possibilities of achieving progress in ensuring traceability in European and global industry in the field of improving the efficiency and quality of devices for energy harvesting from nanowires. The scope of cooperation between the Central Office of Measures and the Wrocław University of Technology in the field of metrology of individual nanofibers used for energy harvesting was discussed. The potential impact of the design assumptions on the environment, metrology and users were also discussed.
    Źródło:
    Metrologia i Probiernictwo : biuletyn Głównego Urzędu Miar; 2020, 2 (25); 19-26
    2300-8806
    Pojawia się w:
    Metrologia i Probiernictwo : biuletyn Głównego Urzędu Miar
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Analysis of the electrolytically polished skeletal dentures surfaces using various nano- and microscopic technologies
    Autorzy:
    Dąbrowa, Tomasz
    Majstrzyk, Wojciech
    Tamulewicz, Magdalena
    Piasecki, Tomasz
    Kunicki, Piotr
    Więckiewicz, Włodzimierz
    Gotszalk, Teodor
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/306706.pdf
    Data publikacji:
    2019
    Wydawca:
    Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
    Tematy:
    chropowatość powierzchni
    skaningowa mikroskopia elektronowa
    proteza ruchoma
    mikroskopia skaningowa
    surface roughness
    scanning electron microscopy
    removable partial denture
    scanning probe microscopy
    optical profilometry
    Opis:
    The surface roughness of the dental restorations is significant to the denture plaque adhesion. Methods: In this work, we present the complex analysis of the electropolished CoCrW alloy remanium® star (Dentaurum, Germany) samples with laserengraved fiducial marks performed using complementary set of micro- and nanoscopic techniques: optical profilometry (OP), atomic force microscopy (AFM), scanning electron microscopy (SEM) and focused ion beam (FIB) milling. Results: Both mean and RMS roughness of the samples were reduced by electopolishing process, however, the results obtained using OP and AFM exhibited some discrepancies. This was caused by the relatively high local protruding defects developed on the processed surface. The cross-sections of the protrusions were made to analyze the cause of their formation as the EDS elemental content maps revealed that their composition was uniform. We also analyzed the local roughness in the smaller areas free from the defects. Conclusions: In that case, both OP and AFM techniques delivered the same results. Analysis of results showed that various methods used for the surface roughness evaluation have to be used simultaneously to obtain complete and true analysis of the technological CoCrW samples.
    Źródło:
    Acta of Bioengineering and Biomechanics; 2019, 21, 4; 123-129
    1509-409X
    2450-6303
    Pojawia się w:
    Acta of Bioengineering and Biomechanics
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Metrology and control of electromagnetically actuated cantilevers using optical beam deflection method
    Autorzy:
    Kopiec, Daniel
    Majstrzyk, Wojciech
    Pruchnik, Bartosz
    Gacka, Ewelina
    Badura, Dominik
    Sierakowski, Andrzej
    Janus, Paweł
    Gotszalk, Teodor
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/2052166.pdf
    Data publikacji:
    2021
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    optical beam deflection
    thermomechanical noise
    low frequency noise
    electromagnetically actuated cantilever
    Lorentz force
    Opis:
    In this paper, we present metrology and control methods and techniques for electromagnetically actuated microcantilevers. The electromagnetically actuated cantilevers belong to the micro electro mechanical systems (MEMS), which can be used in high resolution force and mass change investigations. In the described experiments, silicon cantilevers with an integrated Lorentz current loop were investigated. The electromagnetically actuated cantilevers were characterized using a modified optical beam deflection (OBD) system, whose architecture was optimized in order to increase its resolution. The sensitivity of the OBD system was calibrated using a reference cantilever, whose spring constant was determined through thermomechanical noise analysis registered interferometrically. The optimized and calibrated OBD system was used to observe the resonance and bidirectional static deflection of the electromagnetically deflected cantilevers. After theoretical analysis and further experiments, it was possible to obtain setup sensitivity equal to 5.28 mV/nm.
    Źródło:
    Metrology and Measurement Systems; 2021, 28, 4; 627-642
    0860-8229
    Pojawia się w:
    Metrology and Measurement Systems
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    ARMScope – the versatile platform for scanning probe microscopy systems
    Autorzy:
    Świadkowski, Bartosz
    Piasecki, Tomasz
    Rudek, Maciej
    Świątkowski, Michał
    Gajewski, Krzysztof
    Majstrzyk, Wojciech
    Babij, Michał
    Dzierka, Andrzej
    Gotszalk, Teodor
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/221551.pdf
    Data publikacji:
    2020
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    Scanning probe microscopy
    AFM
    Kelvin Probe force microscopy
    scanning tunnelling microscopy
    Opis:
    Scanning probe microscopy (SPM) since its invention in the 80’s became very popular in examination of many different sample parameters, both in university and industry. This was the effect of bringing this technology closer to the operator. Although the ease of use opened a possibility for measurements without high labour requirement, a quantitative analysis is still a limitation in Scanning Probe Microscopes available on the market. Based on experience of Nano-metrology Group, SPM still can be considered as a tool for quantitative examination of thermal, electrical and mechanical surface parameters. In this work we present an ARMScope platform as a versatile SPM controller that is proved to be useful in a variety of applications: from atomic-resolution STM (Scanning Tunnelling Microscopy) to Multi-resonance KPFM (Kelvin Probe force microscopy) to commercial SEMs (Scanning electron microscopes).
    Źródło:
    Metrology and Measurement Systems; 2020, 27, 1; 119-130
    0860-8229
    Pojawia się w:
    Metrology and Measurement Systems
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    A method of magnetic field measurement in a scanning electron microscope using a microcantilever magnetometer
    Autorzy:
    Orłowska, Karolina
    Mognaschi, Maria E.
    Kwoka, Krzysztof
    Piasecki, Tomasz
    Kunicki, Piotr
    Sierakowski, Andrzej
    Majstrzyk, Wojciech
    Podgórni, Arkadiusz
    Pruchnik, Bartosz
    di Barba, Paolo
    Gotszalk, Teodor
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/220725.pdf
    Data publikacji:
    2020
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    scanning electron microscope
    magnetometry
    microcantilever
    Opis:
    Scanning electron microscopy (SEM) is a perfect technique for micro-/nano-object imaging [1] and movement measurement [2, 3] both in high and environmental vacuum conditions and at various temperatures ranging from elevated to low temperatures. In our view, the magnetic field expanding from the pole-piece makes it possible to characterize the behaviour of electromagnetic micro- and nano-electromechanical systems (MEMS/NEMS) in which the deflection of the movable part is controlled by the electromagnetic force. What must be determined, however, is the magnetic field expanding from the e-beam column, which is a function of many factors, like working distance (WD), magnification and position of the device in relation to the e-beam column. There are only a few experimental methods for determination of the magnetic field in a scanning electron microscope. In this paper we present a method of the magnetic field determination under the scanning electron column by application of a silicon cantilever magnetometer. The micro-cantilever magnetometer is a silicon micro-fabricated MEMS electromagnetic device integrating a current loop of lithographically defined dimensions. Its stiffness can be calibrated with a precision of 5% by the method described by Majstrzyk et al. [4]. The deflection of the magnetometer cantilever is measured with a scanning electron microscope and thus, through knowing the bias current, it is possible to determine the magnetic field generated by the e-beam column in a defined position and at a defined magnification.
    Źródło:
    Metrology and Measurement Systems; 2020, 27, 1; 141-149
    0860-8229
    Pojawia się w:
    Metrology and Measurement Systems
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-5 z 5

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies