Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Czarski, T." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-6 z 6
Tytuł:
Feasibility of FPGA to HPC computation migration of plasma impurities diagnostic algorithms
Autorzy:
Linczuk, P.
Krawczyk, R. D.
Zabolotny, W.
Wojenski, A.
Kolasinski, P.
Pozniak, K. T.
Kasprowicz, G.
Chernyshova, M.
Czarski, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/226512.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
plasma diagnostic
GEM system
feedback loops
Intel Xeon
Intel Xeon Phi
high performance computing HPC
Opis:
We present a feasibility study of fast events parameters estimation algorithms regarding their execution time. It is the first stage of procedure used on data gathered from gas electron multiplier (GEM) detector for diagnostic of plasma impurities. Measured execution times are estimates of achievable times for future and more complex algorithms. The work covers usage of Intel Xeon and Intel Xeon Phi - high-performance computing (HPC) devices as a possible replacement for FPGA with highlighted advantages and disadvantages. Results show that less than 10 ms feedback loop can be obtained with the usage of 25% hardware resources in Intel Xeon or 10% resources in Intel Xeon Phi which leaves space for future increase of algorithms complexity. Moreover, this work contains a simplified overview of basic problems in actual measurement systems for diagnostic of plasma impurities, and emerging trends in developed solutions.
Źródło:
International Journal of Electronics and Telecommunications; 2017, 63, 3; 323-328
2300-1933
Pojawia się w:
International Journal of Electronics and Telecommunications
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Into the fast tomographic postprocessing in tokamaks
Wprowadzenie do zagadnienia tomografii w algorytmach postprocessingu dla reaktorów typu tokamak
Autorzy:
Krawczyk, R.
Kolasiński, P.
Linczuk, P.
Zabołotny, W.
Poźniak, K.
Zienkiewicz, P.
Romaniuk, R.
Wojeński, A.
Kasprowicz, G.
Czarski, T.
Chernyshova, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/408058.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
Tematy:
plasma sciences
fast tomography
GEM detector
data processing
fizyka plazmy
tomografia szybka
detektor GEM
przetwarzanie danych
Opis:
The collaboration of authors led to implementing advanced and fast systems for diagnostics of plasma content in tokamaks. During the development of systems it is planned to add new functionalities, in particular, the algorithms of tomographic reconstruction to obtain information on three dimensional distribution of plasma impurities. In the article the idea of tomographic reconstruction is introduced and issues of performance and adequate hardware selection are presented.
Wieloletnia współpraca autorów przyczyniła się do powstania zaawansowanych, szybkich mechanizmów diagnostyki składu gorącej plazmy tokamakowej. W ramach rozbudowy systemów zamierza wprowadzić się szereg nowych funkcjonalności, w tym algorytmy rekonstrukcji tomograficznej. Pozwoli to na uzyskanie informacji o przestrzennym rozkładzie nieczystości plazmy w reaktorze. Praca przedstawia koncepcję tomografii tego typu oraz przeprowadzona jest dyskusja nad zagadnieniami wydajności i doboru sprzętu.
Źródło:
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska; 2017, 7, 3; 15-18
2083-0157
2391-6761
Pojawia się w:
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Influence of orientation relationship between ferrite and cementite in pearlite on stability of cementite plates
Wpływ orientacji krystalograficznej faz perlitu na stabilność płytek cementytu
Autorzy:
Czarski, A.
Skowronek, T.
Osuch, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/263992.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydawnictwo AGH
Tematy:
perlit
sferoidyzacja
orientacja krystalograficzna
pearlite
spheroidization
crystallographic orientation relationship
Opis:
The aim of the studies performed was to assess an influence of crystallographic orientation relationship (OR) between pearlitic ferrite and cementite on a stability of cementite plates. Diffraction analysis made with an electron microscope showed the existence of the Bagaryatski OR and the Pitsch OR both in the pearlite structure after eutectoid transformation and after each tested time of the sphe-roidization annealing. The obtained results indicate that the crystallographic orientation relationship does not influence the stability of cementite showing lamellar morphology.
Celem przeprowadzonych badań była ocena wpływu orientacji krystalograficznej faz perlitu w stali na stabilność płytek cementytu. Analiza dyfrakcyjna wykonana za pomocą mikroskopu elektronowego wykazała występowanie relacji orientacji krystalograficznych Bagariackicgo oraz Pitscha zarówno w strukturze perlitu po przemianie eutektoidalnej, jak i po każdym badanym etapie wyżarzania sferoidyzującego. Otrzymane wyniki badań dyfrakcyjnych wskazują, że na stabilność cementytu wykazującego morfologie płytkową nic wpływa orientacja krystalograficzna cementytu i ferrytu w strukturze wyjściowej.
Źródło:
Metallurgy and Foundry Engineering; 2007, 33, 1; 41-49
1230-2325
2300-8377
Pojawia się w:
Metallurgy and Foundry Engineering
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Stability of a Lamellar Structure - Effect of the True Interlamellar Spacing on the Durability of a Pearlite Colony
Stabilność struktury płytkowej - Wpływ rzeczywistej odległości międzypłytkowej na trwałość kolonii perlitu
Autorzy:
Czarski, A.
Skowronek, T.
Matusiewicz, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/352379.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
true interllamelar spacing
lamellar microstructure
pearlite spheroidization
rzeczywista odległość międzypłytkowa
stabilność struktury płytkowej
kolonia perlitu
Opis:
A lamellar microstructure is, beside a granular and dispersive one, the most frequently observed microstructure in the case of metal alloys. The most well-known lamellar microstructure is pearlite, a product of a eutectoidal transformation in the Fe-Fe3C system. The lamellar morphology of pearlite - cementite and ferrite lamellae placed interchangeably within one structural unit described as a colony - is dominant. The durability of the lamellar morphology is much diversified: in the microstructure of spheroidizingly annealed samples, one can observe areas in which the cementite is thoroughly spheroidized, next to very well-preserved cementite lamellae or even whole colonies of lamellar pearlite. The mentioned situation is observed even after long annealing times. The causes of such behaviour can vary. The subject of the previous work of the authors was the effect of the orientation between the ferrite and the cementite on the stability of the lamellar morphology. This work constitutes a continuation of the mentioned paper and it concerns the effect of the true interlamellar spacing on the stability of the lamellar morphology of cementite.
Mikrostruktura płytkowa to obok ziarnistej i dyspersyjnej jedna z najczęściej spotykanych w przypadku stopów metali. Najbardziej znaną mikrostrukturą płytkową jest perlit, produkt przemiany eutektoidalnej w układzie Fe-Fe3C. Morfologia płytkowa perlitu –płytki ferrytu i cementytu ułożone na przemian w obrębie jednej jednostki strukturalnej określanej mianem kolonii - jest dominująca. Trwałość morfologii płytkowej jest bardzo zróżnicowana - w mikrostrukturze próbek wyżarzanych sferoidyzująco obserwuje się obszary, w których cementyt jest zupełnie zesferoidyzowany obok bardzo dobrze zachowanych płytek cementytu lub wręcz całych kolonii perlitu płytkowego. Opisana sytuacja ma miejsce nawet po długich czasach wyżarzania. Przyczyny takiego zachowania mogą być różne. Przedmiotem wcześniejszej pracy autorów był wpływ orientacji pomiędzy ferrytem a cementytem na stabilność morfologii płytkowej. Niniejszy artykuł stanowi kontynuację pracy wspomnianej wcześniej i dotyczy wpływu rzeczywistej odległości międzypłytkowej na stabilność morfologii płytkowej cementytu.
Źródło:
Archives of Metallurgy and Materials; 2015, 60, 4; 2499-2504
1733-3490
Pojawia się w:
Archives of Metallurgy and Materials
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Kinetics of pearlite spheroidization
Autorzy:
Matusiewicz, P.
Augustyn-Nadzieja, J.
Czarski, A.
Skowronek, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/352748.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
pearlite spheroidization
sterology
activation energy
Opis:
The pearlite spheroidization in Fe-0.76%C high purity steel was investigated. The samples of a coarse pearlite microstructure were isothermal annealed at 700, 680, 660, 640 and 620°C for various times, up to 800 hours. For quantitative description of the spheroidization process stereological parameter, SV (ferrite/cementite interface surface density) was used. The activation energy 104.8±11.4 kJ/mol was found for the spheroidization process. This value shows good agreement with the activation energy for iron and carbon diffusion along a ferrite/cementite interface, so the coupled interface diffusion is the rule-controlling process.
Źródło:
Archives of Metallurgy and Materials; 2017, 62, 1; 231-234
1733-3490
Pojawia się w:
Archives of Metallurgy and Materials
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Soft X-ray Diagnostic System Upgrades and Data Quality Monitoring Features for Tokamak Usage
Autorzy:
Wojenski, Andrzej
Linczuk, Paweł
Piotr, Kolasinski
Chernyshova, Maryna
Mazon, Didier
Kasprowicz, Grzegorz
Pozniak, Krzysztof T.
Gaska, Michał
Czarski, Tomasz
Krawczyk, Rafał
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1844595.pdf
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
data quality monitoring
FPGA
Verilog/VHDL
HDL
GEM detector
SXR plasma diagnostics
modular measurement system
data evaluation
tokamak
Opis:
The validation of the measurements quality after on-site diagnostic system installation is necessary in order to provide reliable data and output results. This topic is often neglected or not discussed in detail regarding measurement systems. In the paper recently installed system for soft X-ray measurements is described in introduction. The system is based on multichannel GEM detector and the data is collected and sent in special format to PC unit for further postprocessing. The unique feature of the system is the ability to compute final data based on raw data only. The raw data is selected upon algorithms by FPGA units. The FPGAs are connected to the analog frontend of the system and able to register all of the signals and collect the useful data. The interface used for data streaming is PCIe Gen2 x4 for each FPGA, therefore high throughput of the system is ensured. The paper then discusses the properties of the installation environment of the system and basic functionality mode. New features are described, both in theoretical and practical approach. New modes correspond to the data quality monitoring features implemented for the system, that provide extra information to the postprocessing stage and final algorithms. In the article is described also additional mode to perform hardware simulation of signals in a tokamak-like environment using FPGAs. The summary describes the implemented features of the data quality monitoring features and additional modes of the system.
Źródło:
International Journal of Electronics and Telecommunications; 2021, 67, 1; 109-114
2300-1933
Pojawia się w:
International Journal of Electronics and Telecommunications
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-6 z 6

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies