Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Cywiak, David" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Two-way ANOVA gage R&R working example applied to speckle intensity statistics due to different random vertical surface roughness characteristics using the Fresnel diffraction integral
Autorzy:
Cywiak, Moisés
Cywiak, David
Yáñez, Etna
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/220404.pdf
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
speckle pattern
ANOVA and gage R&R
autocorrelation
Fresnel diffraction integral
Opis:
We present computer simulations of a two-way ANOVA gage R&R study to determine the effects on the average speckle width of intensity patterns caused by scattered light reflected from random rough surfaces with different statistical characteristics. We illustrate how to obtain reliable computer data that properly simulate experimental measurements by means of the Fresnel diffraction integral, which represents an accurate analytical model for calculating the propagation of spatially-limited coherent beams that have been phase-modulated after being reflected by the vertical profiles of the generated surfaces. For our description we use four differently generated vertical profiles and five different vertical randomly generated roughness values.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2020, 27, 1; 103-117
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies