Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Chizhik, A." wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-3 z 3
    Tytuł:
    Fast Magnetization Switching in Amorphous Microwires
    Autorzy:
    Zhukov, A.
    Ipatov, M.
    Blanco, J.
    Chizhik, A.
    Talaat, A.
    Zhukova, V.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1199482.pdf
    Data publikacji:
    2014-07
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    75.60.Ej
    75.60.Jk
    Opis:
    We studied the magnetization switching in magnetically bistable amorphous ferromagnetic microwires. We observed quite fast domain wall propagation along the microwires and a correlation between the magnetoelastic anisotropy, distribution of the local nucleation field along the length of microwire and the domain wall dynamics. We observed that both DW velocity and the range of fields, limiting single DW dynamics, can be manipulated by internal or applied stresses and by annealing. We also observed that under certain conditions a controllable domain wall (DW) collision can be realized in different parts of the wire, and that it is possible to manipulate the DW dynamics in a field-driven regime.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2014, 126, 1; 7-11
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    High resolution microscopy as tools for sliding microbearing radial clearance and grooves geometry measurements
    Mikroskopy o wysokiej rozdzielczości jako narzędzia do pomiaru promieniowego luzu oraz geometrii rowków w mikrołożysku
    Autorzy:
    Khudoley, A.
    Kuznetsova, T.
    Chizhik, S.
    Wierzcholski, K.
    Miszczak, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/190653.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    AFM
    SEM
    radial clearance
    grooves geometry
    measurements
    mikroskop AFM
    luz promieniowy
    geometria rowków
    pomiary
    Opis:
    This paper presents a new non-classical method of radial clearance measurements in slide micro-bearing with grooves. In this paper, the authors show that measurements of the radial clearance of micro-bearings cannot be determined with the required accuracy for hydrodynamic calculations and wear analysis just through subtraction from the internal diameter of the sleeve to the external diameter of the journal. Therefore, it is proposed to measure clearance directly by high-resolution microscopy using a metallographic sample of the cross-section of the assembly of sleeve and journal with the gap filled with glue. The measurements are performed using an optic microscope, a SEM, and an AFM. Analysis of lubrication shows that the ventilator or cooling fan micro-bearing has a hydrodynamic type of lubrication and the HDD micro-bearing has an elasto-hydrodynamic type of lubrication.
    Hydrodynamiczne smarowanie z rowkami na powierzchni panewki lub czopa w mikrołożyskach ślizgowych twardych dysków komputerowych oraz w mikrołożyskach wentylatorów komputerowych staje się coraz bardziej powszechne ze względu na fakt, że mikrołożyska ślizgowe są lepsze w eksploatacji niż łożyska toczne, a przede wszystkim rowki redukują pęcherze kawitacyjne, przez co zwiększają sztywność łożyska. W przypadku mikrołożyska, a tym bardziej mikrołożyska z rowkami, klasyczne metody pomiaru luzu promieniowego o dokładności do 1–2 µm są mało skuteczne. Luzy promieniowe w mikrołożyskach z rowkami o pochyleniu od 30 do 60 stopni oraz różnym kształcie, zazwyczaj w literkę V oraz jodełkę, mają wysokość 2–3 µm i dlatego w niniejszej pracy wykonano ich pomiar z użyciem różnego typu przyrządów elektronowych, takich jak: optyczny mikroskop Micro 200, Planar Belarus; optyczny skaningowy mikroskop Mira, Oxford Instrument (SEM) oraz mikroskop sił atomowych typu NT-206 Belarus (AFM). Pomiary prezentowane w pracy zostały wykonane na metalograficznych próbkach przedstawiających przekroje poprzeczne elementu bez wytrawiania oraz polerowania. Przeprowadzono dwa typy pomiarów, a mianowicie czop i panewka oddzielnie oraz czop i panewka razem. W tym drugim typie pomiaru dokonano wyznaczenia rzeczywistej wartości luzu promieniowego. Odległości geometryczne związane z luzem promieniowym zostały wyznaczone wyżej opisanymi przyrządami SEM, AFM w obrazach dwu- oraz trójwymiarowych, posługując się profilami powierzchni w skali mikro i nano oraz wyznaczonymi elektronicznie siłami poprzecznymi i skrętnymi. Wyznaczono luzy promieniowe długich mikrołożysk wentylatorów komputerowych (120 000 h, 2900 obr./min, 80 mm) oraz mikrołożysk twardych dysków komputerowych HDD (7200 obr./min, 80Gb, 3.5”). Na podstawie dokonanych pomiarów autorzy wykazują, że tradycyjne wyznaczanie promieniowego luzu w przypadku mikrołożysk ślizgowych poprzez różnicę mierzonych wartości promienia czopa i panewki prowadzi do mało dokładnych wyników. Wymiarowa tolerancja mierzonych średnic czopa i panewki mikrołożysk z uwzględnieniem chropowatości powierzchni sięga 320 nm. Pomiary SEM i AFM powierzchni mikrołożyska HDD wykazały cechy elasto-hydrodynamicznego smarowania.
    Źródło:
    Tribologia; 2013, 3; 37-47
    0208-7774
    Pojawia się w:
    Tribologia
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Determination of the viscosity parameters for an ultra thin liquid layer in lubrication
    Wyznaczanie parametrów lepkości cieczy w ultracienkich warstwach smarujących
    Autorzy:
    Khudoley, A.
    Chizhik, S.
    Wierzcholski, K.
    Miszczak, A.
    Chikunov, V.
    Shasholko, D.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/971368.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    ultra thin liquid layer
    viscosity measurements
    new method
    supercienka warstwa cieczy
    pomiar lepkości
    nowa metoda
    Opis:
    This paper presents a new method for the estimation and, consequently, a new method of liquid viscosity measurements for non-Newtonian liquids retained in ultra thin layer. Essentially the test stand consists of a Piezoelectric Tuning Fork (PTF) and an Atomic Force Microscope (AFM). This method is to be based on the measurements of the amplitude values of PTF vibrations inside the liquid region using AFM and other devices described in this paper. Vibration implies a share rate in liquid and this implies changes of the apparent viscosity of non-Newtonian liquids. During measurements, the ultra thin layer of liquid is laying on the solid substratum. This solid substratum imitates the superficial layer on cooperating bearing surfaces. Experimental measurements prove that the physical properties of superficial layers have a significant influence on the liquid viscosity in ultra thin liquid layers. Viscosity changes within ultra thin layer in relation to height.
    Niniejsza praca przedstawia nową metodę oszacowania wartości, a w konsekwencji pomiaru wartości lepkości nie newtonowskiej cieczy w ultracienkich warstwach. Stanowisko badawcze składa się zasadniczo z dwóch części: piezoelektrycznego kamertona widelcowego (PTF) oraz mikroskopu sił atomowych (AFM). Polega ona na zastosowaniu pomierzonych wartości amplitudy mikrodrgań PTF z mikroskopem sił atomowych oraz na wykorzystaniu odpowiedniego oprzyrządowania. Drgania wywołują wzrost prędkości ścinania, a te zmieniają lepkość cieczy. W trakcie pomiarów warstwa badanej cieczy zalega na podkładce materiałowej ciała stałego imitującej warstwę wierzchnią współpracujących powierzchni w węzłach tarcia ślizgowego. Materiał podkładki można zmieniać w trakcie badań. Tak pomyślana metoda badań może mieć duże zastosowanie w praktyce projektowania mikrołożysk, ponieważ badania eksperymentalne wykazały, że w ultracienkich warstwach cieczy smarującej własności materiałowe warstwy wierzchniej, a zatem podkładki mają wpływ na kształtowanie się wartości lepkości cieczy smarującej. Lepkość cieczy smarującej w ultracienkich warstewkach zmienia się wraz z grubością warstwy. Prezentowana metoda pomiaru lepkości cieczy ma szczególne znaczenie w przypadku cienkich warstewek cieczy o właściwościach nie newtonowskich, czyli takich, gdzie zmiany prędkości deformacji w trakcie przepływu smarującego mają wpływ na wartość lepkości. Kamerton wykonuje mikrodrgania, których amplitudy mierzy się z użyciem AFM. Drgania powodują zmiany prędkości deformacji cząsteczek cieczy w trakcie przepływu. W konsekwencji uzyskuje się zmiany wartości lepkości, które zostają uchwycone w trakcie opisanej w pracy procedury pomiarowej. Procedura pomiaru została w niniejszej pracy szczegółowo opisana. Według informacji autorów badania takie mogą mieć duże zastosowania w projektowaniu mikrołożysk HDD.
    Źródło:
    Tribologia; 2013, 4; 45-53
    0208-7774
    Pojawia się w:
    Tribologia
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-3 z 3

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies