Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Bogusławski, B." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Elastic Properties of Zinc Blende MnTe
Autorzy:
Djemia, P.
Roussigné, Y.
Stashkevich, A.
Szuszkiewicz, W.
Gonzalez Szwacki, N.
Dynowska, E.
Janik, E.
Kowalski, B. J.
Karczewski, G.
Bogusławski, P.
Jouanne, M.
Morhange, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2038250.pdf
Data publikacji:
2004-08
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
62.20.Dc
75.50.Pp
78.35.+c
Opis:
The Brillouin light scattering was used to investigate elastic properties of the zinc blende, MBE-grown MnTe layer that was deposited on a (001) GaAs substrate covered by CdTe buffer layer. The three elastic constants of the zinc blende MnTe, namely c$\text{}_{11}$, c$\text{}_{12}$, and c$\text{}_{44}$, were directly determined for the first time from the frequency of the Rayleigh mode, of the pseudo-surface mode, and of the shear horizontal bulk mode traveling parallel to the layer surface. The value of c$\text{}_{11}$ was checked using the frequency of longitudinal bulk waves propagating at different angles from the normal of the layer plane. This value was also independently determined by results of the folding of acoustic phonons, observed for MnTe/CdTe superlattices by the Raman scattering. Finally, the bulk modulus given by the formula B=(c$\text{}_{11}$+2c$\text{}_{12}$)/3 was determined for zinc blende MnTe by ab initio calculations making use of the density functional theory and atomic pseudopotentials; spin polarization of MnTe was taken into account. A satisfactory agreement between theoretical and experimental values was obtained.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2004, 106, 2; 239-247
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Unstable Inverse Heat Transfer Problems in Microelectronics
Autorzy:
De Mey, G.
Bogusławski, B.
Kos, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1400120.pdf
Data publikacji:
2013-04
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
02.30.Zz
44.05.+e
85.40.Qx
Opis:
Inverse heat transfer problems are very important for the thermal testability of integrated circuits. Temperature sensors integrated on the same chip measure in real time the power dissipation in one or more critical heat sources of the circuit in order to prevent overheating. It will be demonstrated that these kinds of problems can give rise to mathematical unstabilities or the ill conditioning of the inverse problem. This statement will be proved with the help of several particular cases.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2013, 123, 4; 637-641
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies