Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Baskys, A." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Phase Noise Minimization in CMOS Voltage Controlled Oscillators
Autorzy:
Charlamov, J.
Navickas, R.
Baskys, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1506209.pdf
Data publikacji:
2011-02
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
85.40.-e
85.40.Qx
07.50.Hp
Opis:
Relaxation RC type voltage controlled oscillator is more desirable for many applications because of wide frequency generation range, small size on chip and linear voltage to frequency transfer characteristic. The limiting factor of such voltage controlled oscillator type is that it has higher phase noise in comparison with liquid crystal oscillators. We discuss how different device components, parameters and configuration influence phase noise, including transistor noise sources dependence on its geometrical parameters. The simulation results of the relaxation voltage controlled oscillator which was implemented in different 180 nm and 90 nm CMOS technologies are reported.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2011, 119, 2; 234-236
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The Fast Differential Amplifier-Based Integrated Circuit Yield Analysis Technique
Autorzy:
Baskys, A.
Navickas, R.
Simkevicius, C.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1506253.pdf
Data publikacji:
2011-02
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
85.30.De
85.30.Pq
85.40.Bh
85.40.Qx
Opis:
The fast differential amplifier-based integrated circuit yield analysis technique, which enables determining the interrelation between the integrated circuit yield and dimensions of circuit elements, has been presented. The technique is based on the common use of experimental statistical analysis and statistical modeling as well as on the introduction of the concept of the integrated circuit intermediate parameters. The results of yield analysis of the concrete integrated circuit based on the differential amplifiers are presented.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2011, 119, 2; 259-261
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies