Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Błąd, G." wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-3 z 3
    Tytuł:
    System do wyznaczania charakterystyki kierunkowości przetworników elektroakustycznych
    Measuring system for determination of directional response pattern of electro-acoustic converters
    Autorzy:
    Błąd, G.
    Szlachta, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/157040.pdf
    Data publikacji:
    2008
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    elektroakustyka
    głośnik
    mikrofon
    charakterystyka kierunkowości
    electroacoustics
    loudspeaker
    microphone
    directional response pattern
    Opis:
    W artykule zostało przedstawione opracowanie systemu do pomiaru charakterystyki kierunkowości przetworników elektroakustycznych z wykorzystaniem nowoczesnych metod - mikrokontrolera, oprogramowania, wysokiej klasy urządzeń przetwarzania sygnałów akustycznych. Część praktyczną stanowią: koncepcja oraz realizacja praktyczna stanowiska do pomiaru charakterystyki kierunkowości głośników i mikrofonów. Stanowisko to stanowi system elektroniczny wraz z oprogramowaniem sterującym (środowisko LabView) stolikiem obrotowym oraz całym procesem pomiarowym wraz z wizualizacją wyników.
    The idea and practical realisation of a measuring system for directional response pattern determination of electro-acoustic converters are presented in this paper. Such a laboratory stand was realised using the modern methods, that is a microcontroller, software as well as signal converters of high class. It consists of a specially elaborated electronic system with software (made in LabView environment) that controls a rotary table and the whole measuring process (including data visualisation).
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2008, R. 54, nr 12, 12; 874-876
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Zakres spektralny kamery termowizyjnej do badań w mikroelektronice
    Spectral Range of IR Camera for Research in Microelectronics
    Autorzy:
    Błąd, G.
    Wałach, T.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/157693.pdf
    Data publikacji:
    2009
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    termografia
    mikroelektronika
    niepewność
    infrared thermography
    microelectronics
    uncertainty
    Opis:
    Omówiono główne czynniki wpływające na wybór zakresu spektralnego kamery termowizyjnej do badań w mikroelektronice: parametry katalogowe kamer, przebiegi krzywych kalibracyjnych oraz własności promienne mikroukładów. Dla oceny kamer opracowano procedurę i obliczono niepewność standardową pomiaru emisyjności i temperatury. Zwykle mniejszą niepewność oferują kamery średniofalowe, lecz inne czynniki mogą zdecydować o wyborze kamery długofalowej.
    In microelectronics the accuracy of infrared thermography very often depends strongly on the IR camera spectral range. Cameras with different spectral ranges are usually compared using the uncertainty of temperature measurements. There are several works devoted to calculating this uncertainty. Unfortunately, in these works the uncertainty of emissivity measurements is arbitrarily determined, which makes it difficult to evaluate generally the accuracy of cameras. In the paper procedures for calculation of the relative combined standard uncertainties of emissivity and temperature measurements are proposed. Thanks to knowledge of the definition of some camera parameters it was possible to estimate well the uncertainty components coming from the camera by using statistical relationships and to achieve a high reliability of calculations. The calculation results allow one both to evaluate generally the uncertainties for IR cameras with various spectral ranges and to determine the conditions of obtaining low values of these uncertainties. The camera calibration curve shape influences not only the uncertainty but also the result of averaging temperatures in the camera ground instantaneous field-of-view. The dependence of this result on the spectral range is analysed in the work. In microelectronics the radiative properties of the components may often have the main influence on the choice of camera. Some of these properties and their impact on measurements are also discussed.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2009, R. 55, nr 11, 11; 878-881
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Zastosowanie układów MEMS w pomiarach położenia oraz parametrów ruchu liniowego
    Application of MEMS systems in measurements of position and motion parameters
    Autorzy:
    Błąd, G.
    Szlachta, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/155988.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    MEMS
    akcelerometr
    accelerometer
    position measurement
    motion parameters
    Opis:
    W artykule zostało przedstawione opracowanie systemu do pomiaru położenia oraz wyznaczenia parametrów ruchu liniowego poruszających się obiektów z wykorzystaniem czujnika MEMS. System w konfiguracji INS (ang. Inertial Navigation System), jest systemem nawigacji bezwładnościowej, wykorzystuje czujniki, takie jak akcelerometry, żyroskopy i inklinometry do obliczania prędkości, drogi i położenia poruszającego się obiektu. Układ składa się z części sprzętowej dotyczącej m.in. komunikacji mikrokontrolera z czujnikiem przyśpieszenia oraz komputerem, a także interfejsu użytkownika opracowanego w środowisku LabVIEW, który posłużył do prezentacji i obróbki wyników pomiarów.
    The elaborated system for measurement of position and linear motion parameters using MEMS sensor has been presented in this paper. The idea of measuring system has been described in chapter 2. Such system consists of hardware and calculation unit part. Data from sensor ADXL345 (Fig. 3) are transmitted to PC computer using Atmega32 microcontroller. The graphic user interface has been made in LabVIEW environment. It allows to present data and their handling. The practical application was presented in chapter 3 (Fig. 4). The example results of investigations have been shown and discussed in another part of work (Fig. 5). The designed and practically made measuring system has possibility of expanding with another sensors up to full INS system (Inertial Navigation System). It only requires software modification (without hardware inter-ference).
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2011, R. 57, nr 12, 12; 1558-1560
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-3 z 3

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies