Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "wavelet packets" wg kryterium: Wszystkie pola

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-5 z 5
    Tytuł:
    Iris Recognition System Based on Zak-Gabor Wavelet Packets
    Autorzy:
    Czajka, A.
    Pacut, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/308521.pdf
    Data publikacji:
    2010
    Wydawca:
    Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
    Tematy:
    biometrics
    iris recognition
    Zak-Gabor transform
    Opis:
    The paper proposes a new iris coding method based on Zak-Gabor wavelet packet transform. The essential component of the iris recognition methodology design is an effective adaptation of the transformation parameters that makes the coding sensitive to the frequencies characterizing ones eye. We thus propose to calculate the between-to-within class ratio of weakly correlated Zak-Gabor transformation coefficients allowing for selection the frequencies the most suitable for iris recognition. The Zak-Gabor-based coding is non-reversible, i.e., it is impossible to reconstruct the original iris image given the iris template. Additionally, the inference about the iris image properties from the Zak-Gabor-based code is limited, providing a possibility to embed the biometric replay attack prevention methodology into the coding. We present the final prototype system design, including the hardware, and evaluate its performance using the database of 720 iris images.
    Źródło:
    Journal of Telecommunications and Information Technology; 2010, 4; 10-18
    1509-4553
    1899-8852
    Pojawia się w:
    Journal of Telecommunications and Information Technology
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Machined surface quality estimation based on wavelet packets parameters of the surface image
    Estymacja jakości powierzchni obrobionej na bazie parametrów rozkładu pakietów falkowych obrazu tej powierzchni
    Autorzy:
    Zawada-Tomkiewicz, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/155123.pdf
    Data publikacji:
    2010
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    powierzchnia obrobiona
    dekompozycja pakietów falkowych
    obraz powierzchni
    entropia
    machined surface
    wavelet packet decomposition
    surface image
    entropy
    Opis:
    Machined surface image, destined for monitoring, was represented by the diagnostic feature vector, correlated with maladjustment of the process. Maladjustment is manifested by the increase of the signal random component in relation to deterministic one. Such a behavior of the system was the basis for diagnostic measure elaboration. From the definition of entropy, it increases with the increase of the random component. So, the entropy of normalized energy vector for optimal decomposition tree coefficients was selected as the diagnostic measure. The correlation between the entropy of energy vector of decomposition tree coefficients and machined surface parameters and tool wear was demonstrated.
    Środowisko zautomatyzowanego wytwarzania wymaga szybkich pomiarów chropowatości, jeszcze przed ostatecznym ukształtowaniem wyrobu. Do tej pory nie udało się opracować takiego układu, który spełniałby wymagania systemów sterowania produkcją, ze względu na wiele niekontrolowanych czynników wpływających na ostateczną jakość powierzchni. Jednym z możliwych do zastosowań przemysłowych układów inspekcji powierzchni jest system bazujący na obrazie tej powierzchni, szerzej omówiony w [1-4]. Obraz powierzchni po obróbce toczeniem, podobnie jak powierzchnia, jest strukturą kierunkową, w której dane zebrane w kierunku prostopadłym do śladów obróbki, w kolejnych chwilach czasu, reprezentują przebieg procesu skrawania. W artykule dane jasności obrazu powierzchni, zebrane w kierunku prostopadłym do kierunkowości, modelowano przy zastosowaniu pakietów falkowych. Problem analizy czasowo-częstotliwościowej obrazów powierzchni po toczeniu sprowadził się do przeprowadzenia odpowiedniego schematu dekompozycji przestrzeni czasowo-częstotliwościowej i wyznaczenia wektorów składowych [5-7]. Dobór drzewa dekompozycji pozwolił na ograniczenie liczby analizowanych wektorów składowych do ośmiu w2,2, w2,3, w3,3, w4,0, w4,1, w4,2, w4,3.. Zaproponowano miarę nieuporządkowania energii (entropia znormalizowanej energii) dla opisu poszczególnych składowych drzewa dekompozycji [8], które skutecznie charakteryzują nieregularność profilu obrazu powierzchni i rozregulowanie procesu. Potwierdzono zależność statystyczną między wartościami miar nieuporządkowania energii poszczególnych składowych a parametrami powierzchni i zużycia ostrza.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2010, R. 56, nr 6, 6; 606-609
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Developing automatic recognition system of drill wear in standard laminated chipboard drilling process
    Autorzy:
    Kurek, J.
    Kruk, M.
    Osowski, S.
    Hoser, P.
    Wieczorek, G.
    Jegorowa, A.
    Górski, J.
    Wilkowski, J.
    Śmietańska, K.
    Kossakowska, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/200766.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    diagnostic expert systems
    neural networks
    wavelet packets
    wear monitoring
    diagnostyczny system ekspercki
    sieci neuronowe
    pakiety falkowe
    monitorowanie zużycia
    Opis:
    The paper presents an automatic approach to recognition of the drill condition in a standard laminated chipboard drilling process. The state of the drill is classified into two classes: “useful” (sharp enough) and “useless” (worn out). The case “useless” indicates symptoms of excessive drill wear, unsatisfactory from the point of view of furniture processing quality. On the other hand the “useful” state identifies tools which are still able to drill holes acceptable due to the required processing quality. The main problem in this task is to choose an appropriate set of diagnostic features (variables), based on which the recognition of drill state (“useful” versus “useless”) can be made. The features have been generated based on 5 registered signals: feed force, cutting torque, noise, vibration and acoustic emission. Different statistical parameters describing these signals and also their Fourier and wavelet representations have been used for defining the features. Sequential feature selection is applied to detect the most class discriminative set of features. The final step of recognition is done by using three types of classifiers, including support vector machine, ensemble of decision trees and random forest. Six standard drills of 12 mm diameter with tungsten carbide tips were used in experiments. The results have confirmed good quality of the proposed diagnostic system.
    Źródło:
    Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences; 2016, 64, 3; 633-640
    0239-7528
    Pojawia się w:
    Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Joint time-frequency and wavelet analysis - an introduction
    Autorzy:
    Majkowski, A.
    Kołodziej, M.
    Rak, R. J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/220841.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    frequency analysis
    time-frequency analysis
    short-time Fourier transform
    Gabor transform
    Wigner-Ville transform
    Cone-Shaped Transform
    wavelet analysis
    time-scale analysis
    wavelet decomposition
    filter banks
    wavelet packets
    Opis:
    A traditional frequency analysis is not appropriate for observation of properties of non-stationary signals. This stems from the fact that the time resolution is not defined in the Fourier spectrum. Thus, there is a need for methods implementing joint time-frequency analysis (t/f) algorithms. Practical aspects of some representative methods of time-frequency analysis, including Short Time Fourier Transform, Gabor Transform, Wigner-Ville Transform and Cone-Shaped Transform are described in this paper. Unfortunately, there is no correlation between the width of the time-frequency window and its frequency content in the t/f analysis. This property is not valid in the case of a wavelet transform. A wavelet is a wave-like oscillation, which forms its own “wavelet window”. Compression of the wavelet narrows the window, and vice versa. Individual wavelet functions are well localized in time and simultaneously in scale (the equivalent of frequency). The wavelet analysis owes its effectiveness to the pyramid algorithm described by Mallat, which enables fast decomposition of a signal into wavelet components.
    Źródło:
    Metrology and Measurement Systems; 2014, 21, 4; 741-758
    0860-8229
    Pojawia się w:
    Metrology and Measurement Systems
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Infrared devices and techniques (revision)
    Autorzy:
    Rogalski, A.
    Chrzanowski, K.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/221154.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    frequency analysis
    time-frequency analysis
    short-time Fourier transform
    Gabor transform
    Wigner-Ville transform
    Cone-Shaped Transform
    wavelet analysis
    time-scale analysis
    wavelet decomposition
    filter banks
    wavelet packets
    Opis:
    The main objective of this paper is to produce an applications-oriented review covering infrared techniques and devices. At the beginning infrared systems fundamentals are presented with emphasis on thermal emission, scene radiation and contrast, cooling techniques, and optics. Special attention is focused on night vision and thermal imaging concepts. Next section concentrates shortly on selected infrared systems and is arranged in order to increase complexity; from image intensifier systems, thermal imaging systems, to space-based systems. In this section are also described active and passive smart weapon seekers. Finally, other important infrared techniques and devices are shortly described, among them being: non-contact thermometers, radiometers, LIDAR, and infrared gas sensors.
    Źródło:
    Metrology and Measurement Systems; 2014, 21, 4; 565-618
    0860-8229
    Pojawia się w:
    Metrology and Measurement Systems
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-5 z 5

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies