Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "analiza wrażliwościowa" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Analiza wrażliwościowa spektrometru mas z innowacyjnym układem polaryzacji źródła elektronów
Sensitivity analysis of mass spectrometer with innovative biasing system ofin an electron source
Autorzy:
Sikora, J.
Szczepaniak, L.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/155334.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
wrażliwość
spektrometr mas
układ polaryzacji
prąd emisji elektronowej
napięcie przyśpieszające
sensitivity
mass spectrometer
biasing system
ion current
electron emission current
accelerating voltage
Opis:
Praca prezentuje wyniki badań wrażliwości spektrometru mas z nowatorskim układem polaryzacji źródła elektronów, zapewniającym niezależny dobór natężenia prądu emisji elektronowej i napięcia przyśpieszającego elektrony. Dzięki takiemu rozwiązaniu możliwe jest wyznaczenie wrażliwości natężenia prądu jonowego niezależnie względem natężenia prądu emisji elektronowej i napięcia przyśpieszającego elektrony. Badania objęły również pozostałe charakterystyki spektrometru mas oraz wrażliwości natężenia prądu jonowego względem ciśnienia i napięcia przyspieszającego jony. Wyniki potwierdzają zalety nowego rozwiązania w spektrometrze mas.
The sensitivity measurement results of a mass spectrometer (Fig. 1) with an innovative biasing system in an electron source [1] are presented. The biasing system ensures that an accelerating voltage and an electron emission current are independent of each other. Owing to that, the sensitivity of an ion current versus the electron emission current (Fig. 2), and independently versus the electron accelerating voltage (Fig. 3) can be determined. The researches included the determination of the mass spectrometer characteristics and sensitivity of the ion current in function of a pressure (Fig. 4.) and the ion current in function of an ion accelerating voltage (Fig. 5, Fig. 6). The results confirm that new biasing system is highly suitable for the mass spectrometer.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2012, R. 58, nr 3, 3; 256-259
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Przyspieszone badania degradacji przy stałym naprężeniu w analizie diod superelektroluminescencyjnych i wrażliwości parametrycznej
Constant stress adt for superluminescent diode and parameter sensitivity analysis
Autorzy:
Li, X.
Jiang, T.
Sun, F.
Ma, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/301041.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
analiza wrażliwościowa
ruchy Browna
obniżenie charakterystyk
badania przyspieszone
SLD
sensitivity analysis
Brownian motion
performance degradation
accelerated testing
Opis:
Ruchy Browna są jednym z najpotężniejszych procesów stochastycznych w ciągłym czasie i ciągłej przestrzeni, który ma też mocne podstawy fi zyczne. W analizie przyspieszonych badań degradacji (ADT), rozkład odwrotny gaussowski, będący rozkładem czasu pierwszego przejścia ruchu Browna z dryfem (drift Brownian motion), staje się bardzo popularnym modelem predykcji statystycznej życia i niezawodności produktów. Diody superelektroluminescencyjne (SLD) o długiej żywotności i wysokiej niezawodności mają wiele zalet fi zycznych, które sprawiają, że zastępują one diody laserowe (LD) oraz diody elektroluminescencyjne (świecące) (LED) i mają szerokie zastosowanie w czujnikach światłowodowych. W niniejszym artykule przeprowadzono badania ADT diody SLD przy stałym naprężeniu. Aby ocenić możliwość zastosowania rozkładu odwrotnego gaussowskiego do badań diod SLD, określono najpierw trwałość i niezawodność SLD na podstawie danych o spadku mocy optycznej uzyskanych z badania ADT prowadzonego przy stałym naprężeniu. Następnie przeprowadzono analizy wrażliwości parametrycznej w trzech wymiarach: niezawodności, czasu życia i parametru analitycznego. Wreszcie, kierując się wynikami analizy wrażliwościowej, przedstawiono niektóre zasady planowania i przeprowadzania testów ADT przy stałym naprężeniu.
Brownian motion is one of the most powerful stochastic processes in continuous time and continuous space and has a good physics background. For the analysis of accelerated degradation testing (ADT), the inverse Gaussian (IG) distribution, which is the fi rst passage time distribution of the drift Brownian motion (DBM), becomes a very popular statistical prediction model of product life and reliability. Instead of laser diode (LD) and Light Emitting Diode (LED), long-life and high-reliability super-luminescent diode (SLD) has many physical advantages and has been widely used in optical fi ber sensors. In this paper, the constant stress ADT (CSADT) of SLD was conducted. In order to evaluate the applicability of IG distribution to SLD, we fi rst estimate the life and reliability of SLD based on the optical power degradation data collected in CSADT. Then parameter sensitivity analyses are conducted in the 3-dimensions of reliability, lifetime and the analytic parameter. Finally, according to the sensitive analysis results, some CASDT planning and testing principles are presented.
Źródło:
Eksploatacja i Niezawodność; 2010, 2; 21-26
1507-2711
Pojawia się w:
Eksploatacja i Niezawodność
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Sensitivity analysis of multiple fault test and reliability measures in integrated GPS/INS systems
Autorzy:
Almagbile, A.
Wang, J.
Ding, W.
Knight, N.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/130262.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Stowarzyszenie Geodetów Polskich
Tematy:
GPS/INS integration
Kalman filtering
multiple faults
reliability measures
sensitivity analysis
integracja systemów GPS/INS
filtracja Kalmana
uszkodzenia wielokrotne
miary niezawodności
analiza wrażliwościowa
Opis:
Based on Kalman filtering, multi-sensor navigation systems, such as the integrated GPS/INS system, are widely accepted to enhance the navigation solution for various applications. However, such integrated systems do not always provide robust and stable navigation solutions due to unmodelled measurements and system dynamic errors, such as faults that degrade the performance of Kalman filtering for such integration. Single fault detection methods based on least squares (snapshot) method were investigated extensively in the literature and found effective to detect the fault at either sensor level or integration level. However, the system might be contaminated by multiple faults simultaneously. Thus, there is an increased likelyhood that some of the faults may not be detected and identified correctly. This will degrade the accuracy of positioning. In this paper multiple fault test and reliability measures based on a snapshot method were implemented in both the measurement model and the predicted states model for use in a GPS/INS integration system. The influences of the correlation coefficients between fault test statistics on the performances of the faults test and reliability measures were also investigated. The results indicate that the multiple fault test and reliability measures can perform more effectively in the measurement model than the predicted states model due to weak geometric strength within the predicted states model.
Źródło:
Archiwum Fotogrametrii, Kartografii i Teledetekcji; 2011, 22; 25-37
2083-2214
2391-9477
Pojawia się w:
Archiwum Fotogrametrii, Kartografii i Teledetekcji
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies