Wszystkie pola: Rocca, J. - Katalog OPAC zbiorów

Skocz do pozycji: 1.

Książka

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: The XANES K-Edge Spectra for HgMnSe and HgFeSe
Autorzy:: Kisiel, A.
Oleszkiewicz, J.
Goniakowski, J.
Markowski, R.
Burattini, E.
Dalba, G.
Rocca, F.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/1890922.pdf
Data publikacji:: 1991-09
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 78.70.Dm
Opis:: X-ray absorption near-edge structure for Hg$\text{}_{1-x}$Mn$\text{}_{x}$Se and Hg$\text{}_{1-x}$Fe$\text{}_{x}$Se was studied with the use of synchrotron radiation. The self-consistent, semirelativistic LMTO method within the LD approximation was used to calculate electronic band structure and K-edge spectra of these semimagnetic semiconductors. The theoretical results for X-ray absorption spectra were compared with experimental data.
Źródło:: Acta Physica Polonica A; 1991, 80, 3; 373-376
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:: Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Imaging and Patterning on Nanometer Scale Using Coherent EUV Light
Autorzy:: Wachulak, P.
Marconi, M.
Menoni, C.
Rocca, J.
Fiedorowicz, H.
Bartnik, A.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/1539095.pdf
Data publikacji:: 2010-02
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 42.25.Hz
42.40.Ht
42.40.-i
42.55.Vc
Opis:: Extreme ultraviolet (EUV) covers wavelength range from about 5 nm to 50 nm. That is why EUV is especially applicable for imaging and patterning on nanometer scale length. In the paper periodic nanopatterning realized by interference lithography and high resolution holographic nanoimaging performed in a Gabor in-line scheme are presented. In the experiments a compact table top EUV laser was used. Preliminary studies on using a laser plasma EUV source for nanoimaging are presented as well.
Źródło:: Acta Physica Polonica A; 2010, 117, 2; 403-407
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:: Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Informacja