Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Ries, R." wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Nanostructuring and Hardness Investigations of Thin Films by Scanning Force Microscopy
Autorzy:
Nowicki, M.
Richter, A.
Ries, R.
Oszwałdowski, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1968828.pdf
Data publikacji:
1998-02
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.16.Ch
68.35.-p
Opis:
The scanning force microscope was used to scratch thin films and to write nanoscale pattern on surfaces as well as to perform nanoindentation for hardness measurements. Different thin film materials such as C$\text{}_{60}$ films, diamond-like carbon, metals and semiconducting films have been investigated.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1998, 93, 2; 437-441
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies