Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Navickas, R." wg kryterium: Wszystkie pola

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-5 z 5
    Tytuł:
    Electron Charge Noise Minimization in 130 nm CMOS Preamplifiers
    Autorzy:
    Barzdenas, V.
    Navickas, R.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1813193.pdf
    Data publikacji:
    2008-03
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    84.37.+q
    07.77.Ka
    Opis:
    In this paper we present the design aspects for low-power, low-noise CMOS charge sensitive preamplifier that uses a leakage current compensation circuit for use with radiation sensors. The preamplifier has unipolar response with the peaking time of about 45 ns and the gain about 115-145 mV/ke. Equivalent noise charge (ENC) is less than 80 e, when the input charge is 1-20 ke and the sensors capacitance is equal to 30 fF. In this work we present the quality function of the charge sensitive preamplifier, which characterizes best the optimal input transistor width W, with respect to equivalent noise charge and to the power consumptions.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2008, 113, 3; 825-828
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    The Design Aspects for Ultra Low-Power, Low-Noise 90 nm CMOS Charge Sensitive Amplifier for the Active Pixel Detector
    Autorzy:
    Barzdenas, V.
    Navickas, R.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1807954.pdf
    Data publikacji:
    2009-06
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    84.37.+q
    07.77.Ka
    Opis:
    A falling particle in the digital registration systems for elementary particles active pixel detector induces electric charge, the value of which describes the parameters of the particle in the detector. Since the electric charge induced by a single particle is relatively weak, the detector signal is first processed (amplified and shaped) right in the zone of irradiation and only then transmitted further. This paper analyses the primary analogical registration electronics for digital registration systems for elementary particles active pixel detectors, which is charge sensitive amplifiers operating in the nanoampere region.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2009, 115, 6; 1139-1140
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Phase Noise Minimization in CMOS Voltage Controlled Oscillators
    Autorzy:
    Charlamov, J.
    Navickas, R.
    Baskys, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1506209.pdf
    Data publikacji:
    2011-02
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    85.40.-e
    85.40.Qx
    07.50.Hp
    Opis:
    Relaxation RC type voltage controlled oscillator is more desirable for many applications because of wide frequency generation range, small size on chip and linear voltage to frequency transfer characteristic. The limiting factor of such voltage controlled oscillator type is that it has higher phase noise in comparison with liquid crystal oscillators. We discuss how different device components, parameters and configuration influence phase noise, including transistor noise sources dependence on its geometrical parameters. The simulation results of the relaxation voltage controlled oscillator which was implemented in different 180 nm and 90 nm CMOS technologies are reported.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2011, 119, 2; 234-236
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    The Fast Differential Amplifier-Based Integrated Circuit Yield Analysis Technique
    Autorzy:
    Baskys, A.
    Navickas, R.
    Simkevicius, C.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1506253.pdf
    Data publikacji:
    2011-02
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    85.30.De
    85.30.Pq
    85.40.Bh
    85.40.Qx
    Opis:
    The fast differential amplifier-based integrated circuit yield analysis technique, which enables determining the interrelation between the integrated circuit yield and dimensions of circuit elements, has been presented. The technique is based on the common use of experimental statistical analysis and statistical modeling as well as on the introduction of the concept of the integrated circuit intermediate parameters. The results of yield analysis of the concrete integrated circuit based on the differential amplifiers are presented.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2011, 119, 2; 259-261
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Crucial work environment factors for different generations’ employee : organisation fit
    Decydujące czynniki środowiska pracy dla pracowników różnych pokoleń : dopasowanie organizacji
    Autorzy:
    Savanevičienė, Asta
    Stankevičiūtė, Živilė
    Navickas, Valentinas
    Grėbliūnaitė, Monika
    Okręglicka, Małgorzata
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/404853.pdf
    Data publikacji:
    2019
    Wydawca:
    Politechnika Częstochowska
    Tematy:
    generational diversity
    JD-R theory
    employee-organisation fit
    różnorodność pokoleniowa
    teoria JD-R
    dopasowanie pracownik-organizacja
    Opis:
    Recently, the challenges of managing different generations have been increasingly emphasised, arguing that different environmental factors are important for different generations, leading to the employee-organisation fit. Drawing upon the job demands-resources (JD-R) theory, employee-organisation fit approach, and cohort perspective, the purpose of this paper is to investigate the crucial work environment factors for different generations’ employee-organisation fit. While studying this issue, several presumptions were proposed and tested using a linear regression method. The quantitative data were collected from questionnaires distributed in Lithuania using simple random sampling (311 responses). The empirical research findings show that the factors of job resources (autonomy, feedback, trust, and leadership) affect the all different generations’ employee-organisation fit more substantially than job demands factors (workload, work pressure, and emotional demands). Moreover, results confirm that the employee-organisation fit for different generations is ultimately determined by different environmental factors.
    Ostatnio coraz częściej podkreśla się wyzwania związane z zarządzaniem pokoleniami, argumentując, że różne czynniki środowiskowe są ważne dla różnych pokoleń, co prowadzi do dopasowania pracowników do organizacji. Bazując na teorii zapotrzebowania na zasoby (JD-R), podejściu dopasowanym do organizacji pracowników i perspektywie kohortowej, celem tego artykułu jest zbadanie kluczowych czynników środowiska pracy dla dopasowania pracowników z różnych pokoleń. Podczas badania tego zagadnienia zaproponowano kilka założeń i przetestowano je za pomocą metody regresji liniowej. Dane ilościowe zebrano z kwestionariuszy rozprowadzanych na Litwie przy użyciu doboru celowego próby badawczej (311 kwestionariuszy). Wyniki badań empirycznych pokazują, że czynniki zasobów pracy (autonomia, informacja zwrotna, zaufanie i przywództwo) wpływają bardziej na organizację pracowniczą wszystkich pokoleń niż czynniki związane z wymaganiami pracy (obciążenie pracą, presja na pracę i wymagania emocjonalne). Ponadto wyniki potwierdzają, że organizacja pracowników dopasowana do różnych pokoleń jest ostatecznie zależna od różnych czynników środowiskowych.
    Źródło:
    Polish Journal of Management Studies; 2019, 19, 1; 364-375
    2081-7452
    Pojawia się w:
    Polish Journal of Management Studies
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-5 z 5

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies