Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "N.B. Opracowanie" wg kryterium: Wszystkie pola

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-5 z 5
    Tytuł:
    Wybór materiałów archiwalnych
    Autorzy:
    Bujniewicz, Natalia.
    Powiązania:
    Biuletyn Wojskowej Służby Archiwalnej 2007, nr 29, s. 357-[395]
    Współwytwórcy:
    N.B. Opracowanie
    Data publikacji:
    2007
    Tematy:
    Gawlina, Józef F.
    Gawlina Józef F. (1892-1964) biografia źródła
    Polskie Siły Zbrojne Armia Polska na Wschodzie duszpasterstwo 1942-1943 r. źródła
    Duszpasterstwo wojskowe Polska 1939-1945 r. źródła.
    Opis:
    Fot.
    Dostawca treści:
    Bibliografia CBW
    Artykuł
    Tytuł:
    Wybór materiałów archiwalnych
    Powiązania:
    Biuletyn Wojskowej Służby Archiwalnej 2007, nr 29, s. 357-[395]
    Współwytwórcy:
    N.B. Opracowanie
    Data publikacji:
    2007
    Tematy:
    Gawlina, Józef (1892-1964)
    Polskie Siły Zbrojne w ZSRR (1941-1942)
    Armia Polska na Wschodzie
    Centralne Archiwum Wojskowe zbiory
    Duszpasterstwo wojskowe Polska 1939-1945 r.
    Wojsko Polskie (1939-1945)
    Źródła historyczne
    Opis:
    Fot.
    Dostawca treści:
    Bibliografia CBW
    Artykuł
    Tytuł:
    Opracowanie metody ujawniania położenia złącza LH typu n+n oraz p+p w strukturach epitaksjalnych z SiC metodą chemicznego barwienia
    Identification of position of the n+n and p+p LH junctions in epitaxial SiC layers by chemical decoration
    Autorzy:
    Przyborowska, K.
    Dobrzański, L.
    Możdżonek, M.
    Surma, B.
    Brzozowski, A.
    Łapińska, B.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/192250.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
    Tematy:
    SiC
    grubość warstwy epitaksjalnej
    chemiczne barwienie
    thickness of epitaxial layer
    chemical decoration
    Opis:
    Opracowano metodę ujawniania obszarów typu n i p epitaksjalnej warstwy SiC metodą chemicznego barwienia. Złącze n+n lub p+p znajduje się pod powierzchnią płytki. Ujawnienie i pomiar położenia złącza wykonuje się na próbce zeszlifowanej pod niewielkim kątem. Przebadano kilka roztworów, spośród nich wybrano jeden dla którego wykonano próby barwienia warstw w różnych warunkach. Ustalono warunki prowadzenia procesu dające jednoznaczny pomiar grubości ujawnionych warstw. Opracowano technicznie prostą i nie wymagającą specjalistycznej aparatury metodę, której wyniki są porównywalne z wynikami otrzymanymi metodami optycznymi.
    A method of the chemical decoration of n and p SiC epitaxial layers has been established. Both n+n and p+p junctions are located under the wafer surface. The decoration and measurement of junction depth have been done using samples lapped at a small angle. Several staining solutions have been tested. In consequence, the best has been selected out of them to perform decoration under different circumstances. The processing conditions which enable an unambiguous thickness measurement have been determined. The reported method is simple and does not require specialised equipment. The results of junction depth measurements are consistent with those obtained using optical methods.
    Źródło:
    Materiały Elektroniczne; 2011, T. 39, nr 2, 2; 14-17
    0209-0058
    Pojawia się w:
    Materiały Elektroniczne
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-5 z 5

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies