Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "mikroskop" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Zastosowanie mikroskopii sił atomowych (AFM) w diagnostyce warstwy wierzchniej
Autorzy:
Bramowicz, Mirosław.
Kłysz, Sylwester.
Powiązania:
Prace Naukowe Instytutu Technicznego Wojsk Lotniczych 2007, nr 22, s. 159-166
Data publikacji:
2007
Tematy:
Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych (Warszawa) badania naukowe
Inżynieria powierzchni
Mikroskop elektronowy skaningowy stosowanie
Technika sił powietrznych
Opis:
Rys., tab.; Bibliogr.; Streszcz.
Dostawca treści:
Bibliografia CBW
Artykuł
Tytuł:
Application of atomic force microscopy (AFM) in the diagnosing of a surface layer
Autorzy:
Bramowicz, Mirosław.
Kłysz, Sylwester.
Powiązania:
Prace Naukowe Instytutu Technicznego Wojsk Lotniczych 2007, nr 22, s. 167-174
Data publikacji:
2007
Tematy:
Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych (Warszawa) badania naukowe
Inżynieria powierzchni
Mikroskop elektronowy skaningowy stosowanie
Technika sił powietrznych
Opis:
Rys., tab.; Bibliogr.; Abstr.
Dostawca treści:
Bibliografia CBW
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies