Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Application of atomic force microscopy (AFM) in the diagnosing of a surface layer

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Application of atomic force microscopy (AFM) in the diagnosing of a surface layer
Autorzy:: Bramowicz, Mirosław.
Kłysz, Sylwester.
Powiązania:: Prace Naukowe Instytutu Technicznego Wojsk Lotniczych 2007, nr 22, s. 167-174
Data publikacji:: 2007
Tematy:: Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych (Warszawa) badania naukowe
Inżynieria powierzchni
Mikroskop elektronowy skaningowy stosowanie
Technika sił powietrznych
Język:: polski
Dostawca treści:: Bibliografia CBW
: Artykuł

Rys., tab.; Bibliogr.; Abstr.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Application of atomic force microscopy (AFM) in the diagnosing of a surface layer

Powiązane pozycje