Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "TCAD" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-5 z 5
Tytuł:
Analytical Model Development for Unified 2D Electron Gas Sheet Charge Density of AlInN/GaN MOSHEMT
Autorzy:
Amarnath, G.
Lenka, T. R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/227306.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
2DEG
AlInN/GaN
MOS-HEMT
TCAD
Opis:
We have developed a unified analytical model for computation of 2D electron gas sheet charge density in AlInN/GaN metal-oxide-semiconductor high electron mobility transistor device structure. This model has been developed by incorporating the variation in lowest three energy sub-bands and Fermi level energy in the quantum-well with respect to gate voltage. We noticed that the dependency of lowest sub-band energy with Fermi energy having two fields, which are the lowest sub-band energy is greater and lesser than the Fermi level energy. According to these two fields, we have developed the fermi energy and sheet charge density expressions in each field. By combining each field of the models, developed a unified 2D electron gas sheet charge density model. The Fermi level and sheet charge density are interdependent in the model development. The developed model results are compared with TCAD simulation results and obtain a good consistency between them. This model is fitted to other metal-oxide-semiconductor high electron mobility transistor devices also with modifications in related physical values.
Źródło:
International Journal of Electronics and Telecommunications; 2017, 63, 4; 363-368
2300-1933
Pojawia się w:
International Journal of Electronics and Telecommunications
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Analysis in Commutation of a New High Voltage Thyristor Structure for High Temperature
Autorzy:
Toulon, G.
Bourennane, A
Isoird, K
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/397791.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:
zasilanie impulsowe
tyrystor wysokonapięciowy
symulacja TCAD
wysoka temperatura
styk Schottky’ego
pulsed power
high voltage thyristor
TCAD simulations
high temperature
Schottky contacts
Opis:
In this paper, a high voltage thyristor structure using Schottky contacts on the anode side is analysed through 2D physical simulations in terms of switching performance. The replacement of the P emitter of a conventional symmetrical thyristor by a judicious association of P diffusions and Schottky contacts at the anode side contributes to the reduction of the leakage current in the forward direction and hence improves the forward blocking voltage at high temperature while maintaining its reverse blocking capability. It is shown by comparing this structure with a conventional thyristor, that the presence of Schottky contact does not degrade the turn-on process. It is also shown that the presence of Schottky contact reduces the device turn-off time, improving the maximum operating frequency of the device.
Źródło:
International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2013, 4, 2; 49-54
2080-8755
2353-9607
Pojawia się w:
International Journal of Microelectronics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Analysis of the Dispersion of Electrical Parameters and Characteristics of FinFET Devices
Autorzy:
Malinowski, A.
Tomaszewski, D.
Łukasiak, L.
Jakubowski, A.
Sekine, M.
Hori, M.
Korwin-Pawlowski, M. L.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/308253.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
FinFET
line edge roughness
parameter variability
plasma etching
technology computer aided design (TCAD)
Opis:
Extensive numerical simulations of FinFET structures have been carried out using commercial TCAD tools. A series of plasma etching steps has been simulated for different process conditions in order to evaluate the influence of plasma pressure, composition and powering on the FinFET topography. Next, the most important geometric parameters of the FinFETs have been varied and the electrical characteristics have been calculated in order to evaluate the sensitivity of the FinFET electrical parameters on possible FinFET structure variability.
Źródło:
Journal of Telecommunications and Information Technology; 2009, 4; 45-50
1509-4553
1899-8852
Pojawia się w:
Journal of Telecommunications and Information Technology
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Analysis and investigation of Schottky barrier MOSFET current injection with process and device simulation
Autorzy:
Schwarz, Mike
Calvet, Laurie E.
Snyder, John P.
Krauss, Tillmann
Schwalke, Udo
Kloes, Alexander
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/397926.pdf
Data publikacji:
2018
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:
Poisson equation
device simulation
field emission
modeling
MOSFET
process simulation
Schottky barrier
Synopsys
TCAD
thermionic emission
tunneling current
równanie Poissona
emisja polowa
modelowanie
symulacja procesu
bariera Schottky'ego
emisja termoelektronowa
prąd tunelowy
Opis:
In this paper we focus on the implementation of a process flow of SB-MOSFETs into the process simulator of the Synopsys TCAD Sentaurus tool-chain. An improved structure containing topography is briefly discussed and further device simulations are applied with the latest physical models available. Key parameters are discussed and finally the results are compared with fabricated SB-MOSFETs in terms of accuracy and capability of process simulations.
Źródło:
International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2018, 9, 1; 1-8
2080-8755
2353-9607
Pojawia się w:
International Journal of Microelectronics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Simulation framework and thorough analysis of the impact of barrier lowering on the current in SB-MOSFETs
Autorzy:
Schwarz, M.
Calvet, L. E.
Snyde, J. P.
Krauss, T.
Schwalke, U.
Kloes, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/397793.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:
2D Poisson equation
device modeling
double-gate MOSFET
field emission
framework
Schottky barrier
Synopsys
TCAD
thermionic emission
thermionic current
tunneling current
dwuwymiarowe równanie Poissona
modelowanie elementów elektronicznych
dwubramkowy tranzystor MOS
emisja polowa
bariera Schottky'ego
emisja termoelektronowa
prąd termoelektronowy
prąd tunelowy
Opis:
In this paper we present a simulation framework to account for the Schottky barrier lowering models in SBMOSFETs within the Synopsys TCAD Sentaurus tool-chain. The improved Schottky barrier lowering model for field emission is considered. A strategy to extract the different current components and thus accurately predict the on- and off-current regions are adressed. Detailed investigations of these components are presented along with an improved Schottky barrier lowering model for field emission. Finally, a comparison for the transfer characteristics is shown for simulation and experimental data.
Źródło:
International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2017, 8, 2; 72-79
2080-8755
2353-9607
Pojawia się w:
International Journal of Microelectronics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-5 z 5

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies