Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "XRD technique" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-7 z 7
Tytuł:
Determination of Fe2+/Fe3+ mole ratio based on the change of precursor lattice parameters of wustite based iron catalysts for the ammonia synthesis
Autorzy:
Jurkowski, Artur
Lendzion-Bieluń, Zofia
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/778447.pdf
Data publikacji:
2019
Wydawca:
Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie. Wydawnictwo Uczelniane ZUT w Szczecinie
Tematy:
wustite ammonia catalyst
XRD technique
manganometry
wustite lattice parameter
Opis:
In the presented article, oxide forms of iron catalysts with the wustite structure and with a R = Fe2+/Fe3+ molar ratio in the range from 3.78 to 8.16 were investigated. The chemical composition of the tested catalyst precursors was determined by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP-OES). The X-ray diffraction (XRD) technique was used to determine the phase composition and location of reflections characteristic of the Fe1−xO phase. The molar ratio of iron ions R = Fe2+/Fe3+ was determined by manganometric titration. The distribution of promoters in the structure of iron catalyst precursors with different R = Fe2+/Fe3+  ratio was determined by a selective etching method. The dependence of the lattice parameter ao value in the crystal structure Fe1−xO on the molar ratio R = Fe2+/Fe3+ was determined. On the basis of the determined dependence, R can easily be calculated in catalyst precursors of the wustite structure.
Źródło:
Polish Journal of Chemical Technology; 2019, 21, 3; 48-52
1509-8117
1899-4741
Pojawia się w:
Polish Journal of Chemical Technology
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Thin layers XRD study technique on an example of cobalt tetrafluoro phthalocyanine
Autorzy:
Sukhikh, A.
Basova, T.
Gromilov, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1075647.pdf
Data publikacji:
2016-10
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.05.cp
68.55.Nq
Opis:
Thin layers X-ray diffraction study technique utilizing single-crystal X-ray diffractometer equipped with microfocus X-ray tube is described. It is shown that the layers of the tetra-fluorinated cobalt phthalocyanine (CoPcF₄), deposited by thermal evaporation in vacuum on a polished surface of the substrate (glass, quartz), have a highly oriented polycrystalline structure. All the crystallites have the (00l) plane oriented along the surface of the substrate. CoPcF₄ X-ray diffraction pattern indexing was conducted and unit cell parameters were determined. It is shown that crystal phase of both polycrystalline powder and thin layers of CoPcF₄ are isostructural to that of α -CoPc.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2016, 130, 4; 889-891
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Effect of Substrate Temperature on Structural and Optical Properties of CdO Thin Films
Autorzy:
Ali, H. R. A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/411893.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Przedsiębiorstwo Wydawnictw Naukowych Darwin / Scientific Publishing House DARWIN
Tematy:
cadmium oxide
spray pyrolysis technique
XRD
AFM
thin films
sol-gel
Opis:
Thin films of CdO have been prepared by spray pyrolysis technique. XRD analysis reveals that all the prepared samples were polycrystalline and have preferred orientation along [111] orientation. The surface topography was determined by AFM which indicate that surface roughness and rms roughness were increased by the increasing of substrate temperature. The optical energy gap were determined and its value lies between (2.4-2.5) eV.
Źródło:
International Letters of Chemistry, Physics and Astronomy; 2014, 8; 47-55
2299-3843
Pojawia się w:
International Letters of Chemistry, Physics and Astronomy
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Preparation of ZnO thin film using sol-gel dip-coating technique and their characterization for optoelectronic applications
Autorzy:
Chaudhary, Preeti
Kumar, Vipin
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1075562.pdf
Data publikacji:
2019
Wydawca:
Przedsiębiorstwo Wydawnictw Naukowych Darwin / Scientific Publishing House DARWIN
Tematy:
Band gap
SEM
XRD
ZnO
dip coating
Opis:
ZnO thin film with an aim to employ in opto-electronic applications was prepared using sol-gel dip-coating route and thereafter sintered at temperature 500 ºC. The film has been investigated by XRD pattern, SEM, UV-Vis and photoluminescence spectroscopy for physical and optical characterization of ZnO thin film. X-Ray diffraction pattern analysis reveals the polycrystalline nature with hexagonal wurtzite structure having orientation along the plane (002). Scanning electron micrograph shows symmetrical dense ZnO rod throughout the surface. The diffuse reflectance spectrum is studied in the range of wavelength 300-800 nm. A band gap of 3.21 eV is calculated using Kubelka-Munk function. PL spectrum shows strong peak at 380 nm due to oxygen vacancy of ZnO.
Źródło:
World Scientific News; 2019, 121; 59-66
2392-2192
Pojawia się w:
World Scientific News
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
XRD and EBSD Measurements of Directional Solidification Fe-C Eutectic Alloy
Autorzy:
Trepczyńska-Łent, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/382146.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
X-ray diffraction
EBSD technique
carbide eutectic
directional solidification
dyfrakcja rentgenowska
dyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych
krzepnięcie kierunkowe
Opis:
In a vacuum Bridgman-type furnace, under an argon atmosphere, directionally solidified sample of Fe-C alloy was produced. The pulling rate was v = 83 μm/s (300 mm/h) and constant temperature gradient G = 33,5 K/mm. The microstructure of the sample was examined on the longitudinal section using an Optical Microscope and Scanning Electron Microscope. The X-ray diffraction and electron backscatter diffraction technique (EBSD) have been used for the crystallographic analysis of carbide particles in carbide eutectic. The X-ray diffraction was made parallel and perpendicular to the axis of the goniometer. The EBSD shows the existence of iron carbide Fe3C with orthorhombic and hexagonal structure. Rapid solidification may cause a deformation of the lattice plane which is indicated by different values of the lattice parameters. Such deformation could also be the result of directional solidification. Not all of the peaks in X–ray diffractograms were identified. They may come from other iron carbides. These unrecognized peaks may also be a result of the residual impurity of alloy.
Źródło:
Archives of Foundry Engineering; 2016, 16, 4; 169-174
1897-3310
2299-2944
Pojawia się w:
Archives of Foundry Engineering
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Thermal Effect of Er³⁺ Ions Embedded in Smart Nano-Composite Oxide Material Prepared by Sol-Gel Technique
Autorzy:
Battisha, I.
Ayoub, M.
Hashem, A.
Ahmed, E.
Amin, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1032584.pdf
Data publikacji:
2017-10
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
photonics
sol-gel
erbium ions
XRD
FESEM
HRTEM
optical refractive index
Opis:
The phosphosilicate for planar waveguides fabrication by using sol-gel, and particularly erbium-doped waveguide amplifiers, is reviewed. In particular, efforts to use sol-gel to improve molecular homogeneity in Er-doped phosphosilicate-based monolith and thin films will be discussed. A variety of material studies was carried out to investigate and optimize the sample preparation condition for such application. These include X-ray diffraction, the Fourier transform infrared and optical transmittance, absorption and refractive index calculation. The erbium nitrate precursors use is shown to alter the Er³⁺ ions doping in the prepared samples thermally treated in the final monolith glass form, in comparison to the use of thin film phosphosilicate sol-gel sample. Excess heat treatment is used to force prepared samples crystallization, moreover resulting photoluminescence analysis is used to detect the co-operative-up-conversion sample properties before and after heating.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2017, 132, 4; 1277-1283
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Analiza warstw z hydroksyapatytu i hydroksyapatytu domieszkowanego magnezem osadzanych techniką ablacji laserowej przy użyciu lasera ekscymerowego ArF
Characterization of hydroxyapatite and Mg-doped hydroxyapatite coatings deposited by pulsed laser ablation technique using ArF excimer laser
Autorzy:
Mróz, W.
Jedyński, M.
Paszkiewicz, Z.
Prokopiuk, A.
Ślósarczyk, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/285292.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Polskie Towarzystwo Biominerałów
Tematy:
osadzanie impulsem laserowym
hydroksyapatyt
pulsed laser deposition
hydroxyapatite
XRD
Opis:
Warstwy z hydroksyapatytu osadzane były na podłożu ze stopu Ti6Al4V z warstwą buforową TiN metodą laserowej ablacji. Dwie tabletki składające się ze sprasowanego hydroksyapatytu [wzór] i domieszkowanego magnezem hydroksyapatytu [wzór] zostały poddane ablacji laserem ekscymerowym ArF (lambda=193 nm). Użycie materiałów o różnym składzie umożliwiło ustalenie wpływu składu chemicznego tarczy na strukturę osadzanej warstwy. Uzyskane warstwy były analizowane za pomocą metody dyfraktometrii rentgenowskiej (XRD). Wyniki analizy XRD pokazują, że osadzona warstwa z hydroksyapatytu domieszkowanego magnezem posiada strukturę polikrystaliczną w przeciwieństwie do struktury warstwy osadzonej z czystego hydroksyapatytu, która była amorficzna.
Hydroxyapatite layers were deposited on Ti6Al4V substrates with TiN buffer layers by use of pulsed laser deposition method. With this technique two pressed pellets consisted of hydroxyapatite [formula] and hydroxyapatite doped with magnesium [formula] were ablated using ArF excimer laser (lambda=193 nm). The use of different targets enabled to determine the influence of target composition on the nature of deposited layers. The obtained deposits were characterized by means of X-ray diffraction method (XRD). The analysis from XRD showed that Mg-doped HA layer had crystalline structure and composition of layer deposited from pure HA material is characterized by amorphous nature.
Źródło:
Engineering of Biomaterials; 2007, 10, no. 69-72; 15-17
1429-7248
Pojawia się w:
Engineering of Biomaterials
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-7 z 7

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies