Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "szumy" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-8 z 8
Tytuł:
Investigation of RTS noise in reverse polarized Silicon Carbide Schottky diodes
Badanie szumów RTS w diodach SiC spolaryzowanych w kierunku zaporowym
Autorzy:
Szewczyk, A.
Stawarz-Graczyk, B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/266700.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
Tematy:
szumy RTS
dioda Schottky'ego
RTS noise
Schottky diodes
Opis:
One of the method of electronic device quality and reliability evaluation is observation of its inherent noise. Generally, the inherent noise of semiconductor device consists of Gaussian (i.e. 1/f, shot noise) and non-Gaussian components (i.e. random telegraph signal, RTS). The RTS phenomena usually indicates the presence of large defects in the structure of the material of the device, therefore it can be treated as an indicator of technology quality. In the paper authors present results of RTS investigations in reverse polarized Silicon Carbide Schottky diodes. Devices being studied are commercially available diodes with reverse voltage UR = 600 V. The RTS was observed during device stress by applying high voltage for several minutes and the change in signal parameters were studied.
Jedną z metod do badania jakości i niezawodności elementów elektronicznych jest obserwacja ich szumów własnych, które zawierają składową gaussowską (szum typu 1/f, szum śrutowy) oraz składową niegaussowską (szum RTS). Obecność szumu RTS zazwyczaj wskazuje na defekty w strukturze materiału, z którego jest wykonany element, ale jednocześnie może być doskonałym wskaźnikiem jakości badanego elementu. W artykule autorzy prezentują wyniki pomiarów w zaporowo spolaryzowanych diodach Schottkiego wykonanych z SiC. Badane elementy są powszechnie dostępnymi o UR = 600 V. Szum RTS był obserwowany po kilkuminutowym użytkowaniu badanego elementu w warunkach wysokiego napięcia.
Źródło:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2014, 40; 103-106
1425-5766
2353-1290
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Automated system for fluctuation enhanced gas sensing
Zautomatyzowany system do poprawy czułości detekcji gazów z wykorzystaniem zjawisk fluktuacyjnych
Autorzy:
Trawka, M.
Smulko, J.
Hasse, L.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/266568.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
Tematy:
gas sensors
fluctuation-enhanced sensing
automation
czujniki gazu
szumy
poprawa czułości
automatyzacja pomiaru
Opis:
Resistance gas sensors exhibit random phenomena (resistance noise) which can be utilized to improve gas sensitivity and selectivity. That new emerging technique has to be investigated to recognize optimal parameters for gas detection. It means that a measurement system has to have ability of numerous parameters adjustment (e.g., sampling frequency, heater voltage, polarization current, voltage noise amplification). That fact induced design of a new setup which limits a number of external power sources and reduces time of gas sensors characterization. The newly prepared system comprises two digitally controlled voltage and current sources, and a control unit to select polarization current of the investigated gas sensor. The system is controlled by the dedicated PC software used for data acquisition and communication. The system allows characterizing of prototype gas sensors having a very high resistance, up to tens of M?. Additionally, the measured sensors can be irradiated by the UV diode to induce photocatalytic effect influencing their gas sensing properties. All these operation have been automated. An every action is automatically logged and state of the system is visualized using windows PC environment. Output files are batch-processed by means of commercial software, such as MATLAB®. Additionally, some exemplary results of recent experimental data for selected gas sensors, such as their noise spectra at various sensors temperatures has been presented.
W rezystancyjnych czujnikach gazu występują zjawiska losowe (np. szumy rezystancji), które mogą być wykorzystane do poprawy czułości i selektywności detekcji gazu. Aplikacja tej stosunkowo nowej techniki wymaga przeprowadzenia badań w celu ustalenia optymalnych parametrów detekcji gazów, co oznacza, że system pomiarowy powinien posiadać możliwość zmiany szeregu parametrów (np. częstotliwości próbkowania, napięcia grzałki, prądu polaryzacji, wzmocnienia napięcia szumów). Implikowało to konieczność zaprojektowania systemu z ograniczoną liczbą zewnętrznych źródeł zasilania i minimalizacji czasu charakteryzowania czujników gazu. Zbudowany system zawiera dwa cyfrowo sterowane źródła prądu i napięcia oraz układ sterujący wyborem prądu polaryzacji badanego czujnika gazu. System jest sterowany z komputera PC za pomocą opracowanego, dedykowanego oprogramowania i umożliwia charakteryzowanie prototypowych czujników gazu o rezystancji aż do dziesiątek M?. Czujnik może być ponadto poddany promieniowaniu przez diodę UV w celu wywołania efektu fotokatalizy, co wpływa na czułość detekcji gazu. Wszystkie wymienione czynności zostały zautomatyzowane w jak największym stopniu. Wszystkie wykonywane operacje są automatycznie rejestrowane, a aktualny stan systemu jest wizualizowany w postaci graficznej na monitorze PC. Pliki wyjściowe są przetwarzane wsadowo przy wykorzystaniu komercyjnego software’u takiego jak MATLAB®. Ponadto, przedstawiono przykładowe wyniki pomiarów uzyskane przy wykorzystaniu zaprojektowanego automatycznego stanowiska pomiarowego.
Źródło:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2014, 40; 133-136
1425-5766
2353-1290
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Raman spectra measurements for chemical identification - aspect of uncertainty sources and reduction of their effects
Problemy pomiarów widm Ramana podczas identyfikacji substancji chemicznych
Autorzy:
Kwiatkowski, A.
Smulko, J.
Wierzba, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/156092.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
zjawisko Ramana
spektroskopia Ramana
szumy
zakłócenia
etaloning
Raman phenomenon
Raman spectroscopy
noise
interference
etaloning effect
Opis:
Raman spectrometers enable fast and non-contact identification of examined chemicals. These devices measure Raman spectra and compare with the spectra database to identify unknown and often illicit chemicals (e.g. drugs, explosives) usually without any sample preparation. Raman spectra measurements are a challenge due to noise and interferences present outside the laboratories (field applications). The design of a portable Raman spectrometer developed at the Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics, Gdansk University of Technology is presented. The paper outlines sources of noise and interferences (e.g. background removal, spectra smoothing) contaminating Raman spectra measurements as well as signal processing techniques required to reduce their influence. The authors consider influence of packages (glass or plastic vials) on effectiveness of detection of selected chemical mixtures and they propose a method that reduces this factor. Next, the impact of acquisition time and external lighting on the accuracy of Raman spectra measurements is investigated. The synchronic detection is introduced to diminish changes of outside sample irradiation. Finally, the etaloning error present in the measured spectra is considered and attenuated by an additional procedure.
Spektroskopy Ramana umożliwiają szybką i bezkontaktową identyfikację badanej substancji chemicznej. Mierzą widma Ramana i porównują z biblioteką widm, aby identyfikować nieznaną, często nielegalną substancję chemiczną (np. narkotyki, materiały wybuchowe) bez potrzeby przygotowania badanej próbki. Pomiar widm Ramana w warunkach polowych jest dużym wyzwaniem ze względu na obecność wielu źródeł szumów i zakłóceń, m.in. szumy przetworników CCD, fluorescencja, szumy kosmiczne, oświetlenie zewnętrzne. W pracy przedstawiono projekt przenośnego spektrometru Ramana opracowanego na Wydziale Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej. Opisano źródła szumów i zakłóceń obecnych podczas pomiarów widm Ramana oraz techniki przetwarzania sygnałów zmniejszające ich wpływ (np. usuwanie tła, widm wygładzanie). Autorzy rozważają także wpływ opakowań (szklanych lub plastikowych) na efektywność detekcji wybranych mieszanin chemicznych i proponują metodę, pozwalającą na jego redukcję. Następnie przedstawiono zależności między czasem ekspozycji a dokładnością pomiarów widm Ramana. Określono skutki oddziaływania zewnętrznego (niepożądanego) oświetlenia na jakość pomiarów oraz przedstawiono sposób ich ograniczenia przy użyciu pomiarów synchronicznych. Następnie opisano zjawisko etaloningu oraz procedurę jego usunięcia w kontrolowanych warunkach pomiarowych, za pomocą dodatkowych procedur.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2011, R. 57, nr 12, 12; 1518-1521
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Reliability and low-frequency noise measurements of InGaAsP MQW buried-heterostructure lasers
Autorzy:
Pralgauskaite, S.
Matukas, J.
Palenskis, V.
Šermukšnis, E.
Vyšniauskas, J.
Letal, G.
Mallard, R.
Smetona, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/309229.pdf
Data publikacji:
2003
Wydawca:
Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
dioda laserowa
szumy
laser diode
low-frequency noise
optical noise
electrical noise
correlation factor
reliability
Opis:
A laser diode reliability test based on the measurements of the low-frequency optical and electrical noise, and their correlation factor changes during short-time ageing is presented. The noise characteristics reveal obvious differences between the stable and unreliable lasers operated near the threshold region. An excessive Lorentzian type noise with negative correlation factor at the threshold could be one of the criteria for identifying unreliable lasers. The behavior of unreliable lasers during ageing could be explained by migration of point recombination centres at the interface of an active layer, and by the formation of defect clusters.
Źródło:
Journal of Telecommunications and Information Technology; 2003, 1; 24-29
1509-4553
1899-8852
Pojawia się w:
Journal of Telecommunications and Information Technology
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Davidson i Rorty o metaforze
Autorzy:
Bartkowiak, Karolina
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/706185.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
D. Davidson
R. Rorty
metafora
znaczenie metaforyczne
znaczenie literalne
martwa metafora
„nieznane szumy”
język
historia metafory
Opis:
W słynnym tekście What Metaphors Mean Donald Davidson zaproponował niezwykle nowatorskie podejście do zagadnienia metafory. Stwierdził mianowicie, że nie przysługuje jej żadne inne znaczenie poza znaczeniem dosłownym. Zerwał tym samym z tradycyjnym przekonaniem – podzielanym przez fi lozofów i lingwistów – że metafora posiada dodatkowe znaczenie fi guratywne, w którym jest zakodowana treść poznawcza. Przekonanie to, według Davidsona, wynika z błędnego utożsamienia domniemanego znaczenia z efektem, jaki metafora wywołuje w odbiorcy – z myślami, jakie prowokuje, podobieństwami, które pomaga dostrzec. Metafora, twierdzi Davidson – tak jak żart, obraz czy uderzenie kogoś w głowę – znajduje się poza granicami semantyki i jest kwestią użycia. Artykuł zestawia teorię metafory Davidsona z jej interpretacją dokonaną przez Richarda Rorty’ego, który czyni z niej fundament swojej szeroko zakrojonej wizji zmian słowników składających się na historię ludzkiej myśli. Według autorki, interpretacja Rorty’ego, chociaż śmiała i kontrowersyjna, jest mimo to przekonująca, niezwykle płodna i oferuje cenny wgląd w rozumienie działania metafory.
Źródło:
Przegląd Filozoficzny. Nowa Seria; 2012, 1; 221-236
1230-1493
Pojawia się w:
Przegląd Filozoficzny. Nowa Seria
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Distortion and noise problems of subcarrier multiplexed optical systems
Autorzy:
Udvary, E.
Marozsák, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/309132.pdf
Data publikacji:
2001
Wydawca:
Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
łączność bezprzewodowa
komunikacja bezprzewodowa
szumy
zakłócenia
zniekształcenia
wireless communications
distortion and noise problems
subcarrier multiplexed optical subsystems
Opis:
In this paper investigation of subcarrier multiplexed optical subsystems for optically supported communication systems is presented. Noise and spurious free dynamic range are the main parameters, which are determined by the applied optical transmission. The frequency dependence of these parameters and optimal frequency chosen is presented.
Źródło:
Journal of Telecommunications and Information Technology; 2001, 4; 60-64
1509-4553
1899-8852
Pojawia się w:
Journal of Telecommunications and Information Technology
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Low-noise micro-power chopper amplifier for MEMS gas sensor
Autorzy:
Nebhen, J.
Meillere, S.
Masmoudi, M.
Seguin, J.-L.
Barthelemy, H.
Aguir, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/397694.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:
czujnik gazu
niskie szumy
analogowy układ scalony
gas sensor
low-noise
low-power
chopper modulation
analog integrated circuits
Opis:
In this paper, a low-noise, low-power and low voltage Chopper Stabilized CMOS Amplifier (CHS-A) is presented and simulated using transistor model parameters of the AMS 0.35 μm CMOS process. This CHS-A is dedicated to high resistive gas sensor detection. The proposed CHS-A using Chopper Stabilization technique (CHS) exhibits an equivalent input referred noise of only 0.194 nV/√Hz for a chopping frequency of 210 kHz under ۫.25 V supply voltage and 26.5 dB voltage gain. The inband PSRR is above 90 and the CMRK exceeds 120 dB. At the same simulation condition, the total power consumption is 5 μW only.
Źródło:
International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2011, 2, 4; 146-155
2080-8755
2353-9607
Pojawia się w:
International Journal of Microelectronics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Development of High-Resolution Mechanical Spectroscopy, HRMS: Status and Perspectives. HRMS Coupled with a Laser Dilatometer
Powstanie i rozwój wysokorozdzielczej spektroskopii mechanicznej HRMS - stan obecny i perspektywy. hrms sprzężony z dylatometrem laserowym
Autorzy:
Magalas, L. B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/352212.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
mechanical spectroscopy
internal friction
elastic modulus
noise
Fourier transform
Hilbert transform
joint-time frequency analysis
dilatometry
spektroskopia mechaniczna
tarcie wewnętrzne
moduł sprężystości
szumy
transformaty Fouriera
transformaty Hilberta
analiza częstotliwości joint-time
dylatometr
Opis:
Recent achievements in the development of low-frequency high-resolution mechanical spectroscopy (HRMS) are briefly reported. It is demonstrated that extremely low values of the loss angle, ϕ, (tanϕb = 1×10−5) can be measured as a function of frequency, and the precision in estimation of the dynamic modulus is better than 1×10−5 in arbitrary units. Three conditions must be fulfilled to obtain high resolution in subresonant and resonant mechanical loss measurements: (1) noise in stress and elastic strain signals must be lower than 70 dB, (2) high quality of stress and strain signals must be tested both in the frequency- and time-domains, and (3) the estimation of the mechanical loss and modulus must be verified by at least two different computing methods operating in the frequency- and time-domains. It is concluded that phase measurements in the subresonant domain are no longer determined by precision in estimation of the loss angle. Recent developments in high-resolution resonant mechanical loss measurements stem from the application of advanced nonparametric and parametric computing methods and algorithms to estimate the logarithmic decrement and the elastic modulus from exponentially damped free decaying oscillations embedded in experimental noise. It is emphasized that HRMS takes into account the presence of noise in the stress and strain signals, which has not yet been addressed in the literature. The coupling of a low-frequency mechanical spectrometer with an in-situ laser dilatometer is suggested as a new perspective research area in Materials Science.
W pracy przedstawiono najnowsze osiągnięcia związane z powstaniem i rozwojem niskoczęstotliwościowej wysokorozdzielczej spektroskopii mechanicznej, HRMS. Wykazano, że możliwym jest pomiar skrajnie niskich wartości kąta strat ϕ, (tanϕb = 1×10−5) mierzonych w funkcji częstotliwości, zaś dokładność pomiaru dynamicznego modułu sprężystości jest lepsza niż 1×10−5, w jednostkach względnych. Do uzyskania wysokiej rozdzielczości w zakresie subrezonansowej i rezonansowej spektroskopii mechanicznej koniecznym jest spełnienie trzech warunków: (1) szum w sygnałach naprężeń i odkształceń sprężystych musi być bardzo niski, tzn. poniżej poziomu 70 dB, (2) sygnały naprężeń i odkształceń sprężystych muszą być wysokiej jakości i muszą przejść stosowne testy zarówno w dziedzinie częstotliwości, jak i czasu, (3) obliczone wartości strat mechanicznych i modułu sprężystości muszą być zweryfikowane przez co najmniej dwie różne metody obliczeń prowadzone w dziedzinie częstotliwości i czasu. Jednym z najważniejszych wniosków jest stwierdzenie, że pomiary różnic w fazie pomiędzy sygnałami naprężenia i odkształcenia sprężystego w zakresie subrezonansowym, nie są zdeterminowane, jak dotychczas twierdzono, przez ograniczenia w dokładności obliczeń kąta strat. Najnowsze osiągnięcia uzyskane w rozwoju wysokorozdzielczej rezonansowej spektroskopii mechanicznej wynikają z zastosowania nowych zaawansowanych nieparametrycznych i parametrycznych metod obliczeń i algorytmów do estymacji logarytmicznego dekrementu tłumienia oraz modułu sprężystości z wykładniczo tłumionych swobodnie zanikających oscylacji zawierających szum eksperymentalny. W pracy podkreślono, że wysokorozdzielcza spektroskopia mechaniczna HRMS uwzględnia obecność szumu w sygnałach naprężeń i odkształceń, która dotychczas nie była brana pod uwagę w literaturze światowej. Wykazano również, że połączenie niskoczęstotliwościowego spektrometru mechanicznego z in-situ dylatometrem laserowym w jednym urządzeniu badawczym otwiera nowe możliwości poznawcze w zakresie inżynierii materiałowej.
Źródło:
Archives of Metallurgy and Materials; 2015, 60, 3A; 2069-2076
1733-3490
Pojawia się w:
Archives of Metallurgy and Materials
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-8 z 8

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies