Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "phase measurement" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Simultaneous measurement of refractive index and thickness for optically transparent object with a dual-wavelength quantitative technique
Autorzy:
Xu, X.
Wang, Y.
Xu, Y.
Jin, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/174666.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
digital holography
phase measurement
cell measurement
red blood cell
Opis:
We present a new dual-wavelength quantitative measurement approach that can be employed for simultaneously measuring both the refractive index and the thickness of the homogenous specimen. This method is realized by dual-wavelength in-line phase-shifting digital holography, and then the phase images are obtained by using four-phase step algorithm for each wavelength separately. Based on computer simulation technology, the feasibility and the effectiveness of our proposed method are demonstrated by comparing our simulation results with the experimental results of the spherical silica bead and the red blood cell, respectively. Our work will provide some guidance in the experimental research for transparent phase objects.
Źródło:
Optica Applicata; 2016, 46, 4; 597-605
0078-5466
1899-7015
Pojawia się w:
Optica Applicata
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
A method for measuring the quality parameters of image intensifier based on projecting phase-shifting gratings
Autorzy:
Sun, S.
Cao, Y.
Chen, C.
Fu, G.
Wang, Y.
Xu, X.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/174300.pdf
Data publikacji:
2018
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
phase measurement
phase-shifting grating
distortion
image intensifier
imaging quality parameter
Opis:
A method for measuring the quality parameters of image intensifier based on projecting phase-shifting gratings is proposed. A set of designed phase-shifting gratings are projected into the measuring system orderly to obtain the magnification parameter of the measured image intensifier, and the phase caused by the measured image intensifier. After obtaining the referential phase caused by only the magnification of the measured image intensifier, the phase caused by the distortion of the measured image intensifier is extracted by phase calculating and phase unwrapping. Both the global distortion and the partial distortion of the measured image intensifier can be measured by phase-to-distortion matching at the same time. The experimental results show that the proposed method can measure the multiple quality parameters of image intensifier effectively.
Źródło:
Optica Applicata; 2018, 48, 1; 39-51
0078-5466
1899-7015
Pojawia się w:
Optica Applicata
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies