A method for measuring the quality parameters of image intensifier based on projecting phase-shifting gratings is proposed. A set of designed phase-shifting gratings are projected into the measuring system orderly to obtain the magnification parameter of the measured image intensifier, and the phase caused by the measured image intensifier. After obtaining the referential phase caused by only the magnification of the measured image intensifier, the phase caused by the distortion of the measured image intensifier is extracted by phase calculating and phase unwrapping. Both the global distortion and the partial distortion of the measured image intensifier can be measured by phase-to-distortion matching at the same time. The experimental results show that the proposed method can measure the multiple quality parameters of image intensifier effectively.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00