Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "FPGA application" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Tracing Fault Effects in FPGA Systems
Autorzy:
Węgrzyn, M.
Sosnowski, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/227036.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
FPGA testing
application based testing
fault injection
SEU
Opis:
The paper presents the extent of fault effects in FPGA based systems and concentrates on transient faults (induced by single event upsets – SEUs) within the configuration memory of FPGA. An original method of detailed analysis of fault effect propagation is presented. It is targeted at microprocessor based FPGA systems using the developed fault injection technique. The fault injection is performed at HDL description level of the microprocessor using special simulators and developed supplementary programs. The proposed methodology is illustrated for soft PicoBlaze microprocessor running 3 programs. The presented results reveal some problems with fault handling at the software level.
Źródło:
International Journal of Electronics and Telecommunications; 2014, 60, 1; 103-108
2300-1933
Pojawia się w:
International Journal of Electronics and Telecommunications
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Testing schemes for systems based on FPGA processor cores
Testowanie systemów FPGA wykorzystujących rdzenie procesorów
Autorzy:
Węgrzyn, M.
Sosnowski, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/153733.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
testing processor cores
application driven testing
FPGA
testowanie rdzeni procesorowych
testowanie aplikacyjne
Opis:
Many systems implemented in FPGAs are based on embedded processor cores (the so called soft cores). Testing such systems is a challenging task due to possible faults in functional blocks, configuration memory and relevant circuitry. The paper deals with software-based self-test schemes taking into account an important requirement on test memory and time overheads. Special attention is paid to configuration faults caused by SEUs (single event upsets). The effectiveness of the proposed method has been verified in fault injection experiments.
W systemach wbudowanych realizowanych na bazie struktur FPGA coraz częściej wykorzystuje się skonfigurowane rdzenie procesorów. Testowanie takich systemów jest dość dużym wyzwaniem ze względu na dość szeroką klasę możliwych błędów w blokach funkcjonalnych, pamięci konfiguracyjnej i związanej z nią logiką. W pracy przedstawiono koncepcje testowania programowego rdzeni procesorów (podejście funkcjonalne, strukturalne, pseudo przypadkowe i aplikacyjne). Szczególna uwagę poświęcono błędom pamięci konfiguracji wynikającym z błędów przemijających, których źródłem jest promieniowanie kosmiczne, szczątkowe promieniowanie użytych materiałów w systemie, czy tez zakłócenia elektryczne. Dokładniej omówiono koncepcje testów złożonych z sekwencji instrukcji, w których wyniki są jednocześnie argumentami wejściowymi dla kolejnych sekwencji (tzw. sekwencje bijektywne). Rozpatrzono problem optymalizacji takich testów biorąc pod uwagę narzut pamięci i czasowy testu oraz pokrycie błędów. Efektywność testów została zweryfikowana w eksperymentach z symulacją błędów. Podane przykłady dotyczą rdzenia procesora 8 bitowego PicoBlaze. Przedstawiona metodyka może być rozszerzona na inne procesory.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 7, 7; 483-485
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies