Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Płaczek, E." wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-12 z 12
    Tytuł:
    Diffusion Length Studies in CdMnTe by the Surface Photovoltage Method
    Autorzy:
    Płaczek-Popko, E.
    Szaro, L.
    Jędral, L.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1879853.pdf
    Data publikacji:
    1991-02
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    72.40.+w
    Opis:
    The surface phototovoltage method provides a nondestructive means of measuring minority carriers diffusion length and is suitable for process control applications and for material acceptance tests. Application of the method in the case of CdMnTe compounds has been studied in the present paper. The optimum measurement conditions have been investigated by studying the dependence of measured diffusion length on the experimental conditions. As the surface photovoltage method requires the exact values of absorption coefficient as a function of wavelength, α = f(λ), the dependence has been determined. The minority carrier diffusion length for the sample investigated has been found to be equal to several tenth of μm.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 1991, 79, 2-3; 187-190
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    On the Frequency Domain Relaxation Processes in Gallium Doped CdTe and $Cd_{0.99}Mn_{0.01}Te$
    Autorzy:
    Trzmiel, J.
    Płaczek-Popko, E.
    Zielony, E.
    Gumienny, Z.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1791364.pdf
    Data publikacji:
    2009-11
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    71.55.Gs
    61.72.jj
    77.22.-d
    Opis:
    The dielectric response of gallium doped $Cd_{0.99}Mn_{0.01}Te$ and CdTe alloys possessing DX centers was studied by impedance spectroscopy. Complex modulus and impedance spectroscopic plots were analyzed. Near ideal Debye response of CdTe:Ga was observed, whereas for $Cd_{0.99}Mn_{0.01}Te:Ga$ samples non-Debye behavior was stated. Different relaxation responses may be related to various local atomic configurations in the vicinity of the DX centers in the studied materials.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2009, 116, 5; 956-958
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    DLTS Study of Be-Doped p-Type AlGaAs/GaAs MBE Layers
    Autorzy:
    Szatkowski, J.
    Płaczek-Popko, E.
    Sierański, K.
    Hansen, O.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1992215.pdf
    Data publikacji:
    1998-09
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    71.55.-i
    71.55.Eq
    Opis:
    Deep-level transient spectroscopy method was applied to study deep hole traps in p-type Al$\text{}_{0.5}$Ga$\text{}_{0.5}$As grown on GaAs semi-insulating substrate by MBE. Five hole traps labelled by us as H0 to H4 were found. For the traps H1, H3 and H4 thermal activation energies obtained from Arrhenius plots were equal to: E$\text{}_{H1}$=0.15 eV, E$\text{}_{H3}$=0.4 eV, and E$\text{}_{H4}$=0.46 eV. Hole emission from the trap H2 was electric field dependent with the thermal activation energy extrapolated to zero-field equal to 0.37 eV. Capture cross-sections for the traps H1 and H4 were thermally activated with energetic barriers 0.04 eV (for H1) and 0.18 eV (for H4).
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 1998, 94, 3; 565-569
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Deep Levels in Cd$\text{}_{0.99}$Mn$\text{}_{0.01}$Te:Ga
    Autorzy:
    Szatkowski, J.
    Płaczek-Popko, E.
    Sierański, K.
    Bieg, B.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1992339.pdf
    Data publikacji:
    1998-09
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    71.55.-i
    71.55.Gs
    Opis:
    Two types of samples were studied. In the material with higher donor concentration four electron traps labelled by us as E1 to E4 were found. For the traps E2 and E3 energies obtained from Arrhenius plots are equal to 0.24 eV and 0.36 eV, respectively. Electric field enhanced electron emission from the levels E1 and E4 was observed and described in terms of Frenkel-Poole mechanism. Capture process from the traps E2 was found to be thermally activated with energetic barriers equal to 0.20 eV for E2.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 1998, 94, 3; 575-578
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Impedance Spectroscopy of Au-CdTe:Ga Schottky Contacts
    Autorzy:
    Płaczek-Popko, E.
    Trzmiel, J.
    Gumienny, Z.
    Wojtyna, E.
    Szatkowski, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1811971.pdf
    Data publikacji:
    2008-11
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    81.05.Dz
    85.30.De
    84.37.+q
    Opis:
    The dielectric response of Au-CdTe gallium doped Schottky contacts was investigated by impedance spectroscopy in the frequency range from 0.2 Hz to 3 MHz, at temperatures in the range from 77 K to 300 K. Combined modulus and impedance spectroscopic plots were analyzed to study the response of the structure. The data were fitted with the simple RC circuit composed of a depletion layer capacitance in parallel with resistance and a series resistance of the bulk CdTe:Ga. The activation energy of the bulk trap obtained from the Arrhenius plot of the resistance was found to be equal to 0.08 eV, close to the value 0.09 eV obtained from the impedance-modulus spectroscopy. The trap dominant in CdTe:Ga is possibly the DX center related, as it has been observed that this is the dominant trap in the material.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2008, 114, 5; 1279-1283
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Non-Exponential Photoionization of the DX Centers in Gallium Doped CdTe and $Cd_{0.99}Mn_{0.01}Te$
    Autorzy:
    Trzmiel, J.
    Płaczek-Popko, E.
    Weron, K.
    Szatkowski, J.
    Wojtyna, E.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1812001.pdf
    Data publikacji:
    2008-11
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    71.55.Gs
    61.72.jj
    78.20.Bh
    Opis:
    The low temperature non-exponential transients of photoconductivity build-up in gallium doped $Cd_{0.99}Mn_{0.01}Te$ and CdTe alloys possessing DX centers were studied. It was found that the two-exponential model commonly used to explain the persistent photoconductivity growth in semiconductors with DX centers describes properly solely the photokinetics obtained for CdTe:Ga. In the case of $Cd_{0.99}Mn_{0.01}Te:Ga$ the stretched-exponential approach is more appropriate, for it explains the short-time power-law exhibited by the experimental data.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2008, 114, 5; 1417-1420
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Electrical Properties of Au/n-GaAs$\text{}_{1-x}$Sb$\text{}_{x}$ Contacts
    Autorzy:
    Szatkowski, J.
    Kasprzak, J. F.
    Płaczek-Popko, E.
    Radojewska, E. B.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1879840.pdf
    Data publikacji:
    1991-02
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    73.40.Ei
    72.80.Ey
    Opis:
    The Schottky barrier heights of Au on n-type GaAs$\text{}_{1-x}$Sb$\text{}_{x}$ were measured with I-V, C-V, and photoresponse (PR) techniques. The barrier height was determined to be 0.65, 0.75 and 0.7 eV, respectively.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 1991, 79, 2-3; 179-182
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Electrical Characterization of Defects in Schottky Au-CdTe:Ga Diodes
    Autorzy:
    Dyba, P.
    Płaczek-Popko, E.
    Zielony, E.
    Gumienny, Z.
    Szatkowski, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1791359.pdf
    Data publikacji:
    2009-11
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    81.05.Dz
    85.30.De
    84.37.+q
    Opis:
    Deep electron states in gallium doped CdTe have been studied by deep-level transient spectroscopy method. The Schottky Au-CdTe diodes were processed to perform the investigations. Rectifying properties of diodes have been examined by the room temperature current-voltage and capacitance-voltage measurements. Deep-level transient spectroscopy measurements performed in the range of temperatures 77-350 K yield the presence of three electron traps. The thermal activation energies and apparent capture cross-sections have been determined from related Arrhenius plots. The dominant trap of activation energy $E_2$ = 0.33 eV and capture cross-section σ_2 = 3 × $10^{-15} cm^2$ has been assigned to the gallium related DX center present in the CdTe material.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2009, 116, 5; 944-946
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Hole Traps in ZnTe with CdTe Quantum Dots
    Autorzy:
    Zielony, E.
    Płaczek-Popko, E.
    Gumienny, Z.
    Trzmiel, J.
    Karczewski, G.
    Guziewicz, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1791335.pdf
    Data publikacji:
    2009-11
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    73.61.Ga
    73.21.La
    73.20.Hb
    Opis:
    In this study the capacitance-voltage (C-V) and deep level transient spectroscopy measurements have been performed on ZnTe (p-type)-Ti/Al Schottky diodes containing a layer of CdTe self-assembled quantum dots and on the reference diodes without dots for comparison. Both kinds of investigated samples were grown by molecular beam epitaxy technique. The dots were formed during the Stransky-Krastanov growth mode. Comparison of the C-V and deep level transient spectroscopy results obtained for both samples allows us to conclude that the 0.26 eV trap observed exclusively for the QD sample can be assigned to some defects in a wetting layer or CdTe/ZnTe interface.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2009, 116, 5; 885-887
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Deep Level Transient Spectroscopy Studies of CdMnTe
    Autorzy:
    Szatkowski, J.
    Płaczek-Popko, E.
    Hajdusianek, A.
    Kuźmiński, S.
    Bieg, B.
    Becla, P.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1873000.pdf
    Data publikacji:
    1995-02
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    73.30.+y
    Opis:
    Deep levels in Ga doped n-type CdMnTe of 1% and 5% Mn contents and In doped n-type CdMnTe of 20% Mn content were studied using deep level transient spectroscopy technique. Our deep level transient spectroscopy results show presence of several groups of different traps.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 1995, 87, 2; 387-390
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Struktury fotowoltaiczne oparte o heterozłącze ZnO/Si
    Photovoltaic Structures Based on Heterojunction Zno/Si
    Autorzy:
    Pietruszka, R.
    Łuka, G.
    Witkowski, B. S.
    Kopalko, K.
    Zielony, E.
    Biegański, P.
    Płaczek-Popko, E.
    Godlewski, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/952439.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
    Tematy:
    fotowoltaika
    tlenek cynku
    metoda osadzania warstw atomowych
    photovoltaic
    zinc oxide
    Opis:
    Warstwy tlenku cynku otrzymane metodą osadzania warstw atomowych ALD zostały użyte jako n-typu partner dla p-typu krzemu. Jako przezroczystą górną elektrodę wybrano warstwę tlenku cyku domieszkowaną glinem (tak zwana warstwa TCO – Transparent Conductive Oxide). Użyto tanich podłóż krzemowych o niezoptymalizowanej dla zastosowań fotowoltaicznych grubości. W niniejszej pracy badano proste struktury fotowoltaiczne ZnO/Si w celu redukcji kosztów produkcji energii elektrycznej pozyskiwanej za pomocą ogniw fotowoltaicznych. Zmierzona sprawność zoptymalizowanych częściowo (warstwy ZnO) ogniw fotowoltaicznych wyniosła 6%.
    We report on the properties of photovoltaic (PV) structures based on thin films of n-type zinc oxide grown by atomic layer deposition method on a cheap silicon substrate. Thin films of ZnO are used as n-type partner to p-type Si (110) and, when doped with Al, as a transparent electrode. PV structures with different electrical parameters and thicknesses of ZnO layers were deposited to determine the optimal performance of PV structures. The best response we obtained for the structure with ZnO layer thickness of 800 nm. The soobtained PV structures show 6% efficiency.
    Źródło:
    Prace Instytutu Elektrotechniki; 2014, 264; 113-123
    0032-6216
    Pojawia się w:
    Prace Instytutu Elektrotechniki
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Si/ZnO nanorods with Ag nanoparticles/AZO heterostructures in PV applications
    Autorzy:
    Gwóźdź, K.
    Płaczek-Popko, E.
    Gumienny, Z.
    Zielony, E.
    Pietruszka, R.
    Witkowski, B. S.
    Wachnicki, Ł.
    Gierałtowska, S.
    Godlewski, M.
    Chang, L. B.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/201432.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    solar cells
    ZnO
    Si
    heterojunction
    nanorods
    nanoparticles
    ogniwa słoneczne
    nanopręty
    nanocząstki
    Opis:
    Our studies focus on test structures for photovoltaic applications based on zinc oxide nanorods grown using a low-temperature hydrothermal method on a p-type silicon substrate. The nanorods were covered with silver nanoparticles of two diameters – 20–30 nm and 50–60 nm – using a sputtering method. Scanning electron microscopy (SEM) micrographs showed that the deposited nanoparticles had the same diameters. The densities of the nanorods were obtained by means of atomic force microscope (AFM) images. SEM images and Raman spectroscopy confirmed the hexagonal wurtzite structure of the nanorods. Photoluminescence measurements proved the good quality of the samples. Afterwards an atomic layer deposition (ALD) method was used to grow ZnO:Al (AZO) layer on top of the nanorods as a transparent electrode and ohmic Au contacts were deposited onto the silicon substrate. For the solar cells prepared in that manner the current-voltage (I-V) characteristics before and after the illumination were measured and their basic performance parameters were determined. It was found that the spectral characteristics of a quantum efficiency exhibit an increase for short wavelengths and this behavior has been linked with the plasmonic effect.
    Źródło:
    Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences; 2016, 64, 3; 529-533
    0239-7528
    Pojawia się w:
    Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-12 z 12

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies