Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Otomański, P." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Wykorzystanie środowiska LabVIEW do oceny niepewności rozszerzonej wyniku pomiaru rezystancji
Application of LabVIEW environment to evaluation of expanded uncertainty of resistance measurement result
Autorzy:
Otomański, P.
Krawiecki, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/156008.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
niepewność rozszerzona
współczynnik rozszerzenia
przyrząd wirtualny
expanded uncertainty
coverage factor
virtual instrument
Opis:
W pracy zaprezentowano możliwości zastosowania zintegrowanego środowiska programowania LabVIEW do końcowej oceny niedokładności wyniku pomiaru rezystancji. Przedstawiono przykładowe wyniki badań z wykorzystaniem wybranego multimetru przeprowadzone na zaprojektowanym i wykonanym stanowisku pomiarowym. Omówiono możliwości prezentacji i wizualizacji wyników pomiarów w postaci wygodnej i przyjaznej dla użytkownika. Tematykę prezentowaną w referacie przedstawiono z wykorzystaniem wybranych aplikacji.
Possible application of the integrated LabVIEW environment to final evaluation of the resistance measurement accuracy is presented in the paper. The paper shows the measurement results obtained on a designed measuring position (Fig. 1) consisting of a multimeter indicating the conventional true value, examined resistors and a computer with control software. The multimeter used in the system is equipped with a communication interface IEEE-488.2, which makes it possible to control it remotely from the level of computer and developed application, written in the LabVIEW environment, based on the commands of SCPI standard. The designed measuring position has both research and teaching qualities and advantages. By using the LabVIEW environment - as it is illustrated with an example of the developed application - we can support or vary the teaching process of students in the field of metrology and measurement theory. The authors' present experience demonstrates that the developed software is a very useful instrument assisting the teaching process. The application of computer simulation to teaching is a requirement of modern education. The authors consider how the measurement results can be presented and visualised in a convenient and user-friendly form. The topics discussed in the paper were analysed with use of selected LabVIEW applications.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2011, R. 57, nr 12, 12; 1561-1563
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wykorzystanie środowiska LabVIEW w badaniach charakterystyk filtru dolnoprzepustowego
The application of the LabVIEW environment for testing characteristics of a low–pass filter
Autorzy:
Otomański, P.
Krawiecki, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/377242.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
Tematy:
filtr dolnoprzepustowy
charakterystyka amplitudowa
przyrząd wirtualny
Opis:
W pracy zaprezentowano możliwości zastosowania zintegrowanego środowiska programowania LabVIEW do wyznaczania charakterystyki amplitudowej filtru dolnoprzepustowego. Przedstawiono podstawy teoretyczne działania tego typu filtrów oraz określono wybrane parametry tych podzespołów. Zaprezentowano proces tworzenia przykładowego filtru z wykorzystaniem oprogramowania FilterPro. Zaproponowano algorytm przetwarzania, który umożliwia wyznaczanie żądanej charakterystyki. Zaprojektowano i skonstruowano przykładowy filtr dolnoprzepustowy. Opracowano oprogramowanie, napisane w środowisku LabVIEW, umożliwiające akwizycję sygnałów pomiarowych. Przedstawiono przykładowe wyniki badań z wykorzystaniem zaprojektowanego filtru. Omówiono możliwości prezentacji i wizualizacji wyników pomiarów w postaci wygodnej i przyjaznej dla użytkownika.
Possible application of the integrated LabVIEW environment to evaluation of the attenuation diagram of low–pass filter is presented in the paper. The paper shows the measurement results, which were obtained on a designed measuring position, presented in Fig. 1, consisting of the source of a signal of voltage, the voltmeters indicating the true values of input and output voltages and a computer with control software. The process of formation of selected low–pass filter by using application software FilterPro was presented in the paper. By using the LabVIEW environment – as it is illustrated with an example of the developed application – we can support or add variety to the teaching of students in the field of metrology and measurement theory. The authors consider how the measurement results could be presented and visualised in a convenient and user–friendly form. The topics discussed in the paper were analysed with the use of selected LabVIEW applications.
Źródło:
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering; 2016, 87; 411-420
1897-0737
Pojawia się w:
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies