Wykorzystanie środowiska LabVIEW do oceny niepewności rozszerzonej wyniku pomiaru rezystancji

W pracy zaprezentowano możliwości zastosowania zintegrowanego środowiska programowania LabVIEW do końcowej oceny niedokładności wyniku pomiaru rezystancji. Przedstawiono przykładowe wyniki badań z wykorzystaniem wybranego multimetru przeprowadzone na zaprojektowanym i wykonanym stanowisku pomiarowym. Omówiono możliwości prezentacji i wizualizacji wyników pomiarów w postaci wygodnej i przyjaznej dla użytkownika. Tematykę prezentowaną w referacie przedstawiono z wykorzystaniem wybranych aplikacji.

Possible application of the integrated LabVIEW environment to final evaluation of the resistance measurement accuracy is presented in the paper. The paper shows the measurement results obtained on a designed measuring position (Fig. 1) consisting of a multimeter indicating the conventional true value, examined resistors and a computer with control software. The multimeter used in the system is equipped with a communication interface IEEE-488.2, which makes it possible to control it remotely from the level of computer and developed application, written in the LabVIEW environment, based on the commands of SCPI standard. The designed measuring position has both research and teaching qualities and advantages. By using the LabVIEW environment - as it is illustrated with an example of the developed application - we can support or vary the teaching process of students in the field of metrology and measurement theory. The authors' present experience demonstrates that the developed software is a very useful instrument assisting the teaching process. The application of computer simulation to teaching is a requirement of modern education. The authors consider how the measurement results can be presented and visualised in a convenient and user-friendly form. The topics discussed in the paper were analysed with use of selected LabVIEW applications.