- Tytuł:
- Characterization of ZnO Films Grown at Low Temperature
- Autorzy:
-
Przeździecka, E.
Krajewski, T.
Wójcik-Głodowska, A.
Yatsunenko, S.
Łusakowska, E.
Paszkowicz, W.
Guziewicz, E.
Wachnicki, Ł.
Szczepanik, A.
Godlewski, M. - Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/1811975.pdf
- Data publikacji:
- 2008-11
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Tematy:
-
78.55.-m
81.10.-h
85.30.Fg - Opis:
- ZnO thin films were grown by atomic layer deposition method at extremely low temperature using a reactive diethylzinc as a zinc precursor. Optical properties, electrical properties and surface morphology were examined by photoluminescence, Hall effect and atomic force microscope. The study shows correlation between optical, electrical properties and surface morphology in a series of samples of different thickness.
- Źródło:
-
Acta Physica Polonica A; 2008, 114, 5; 1303-1310
0587-4246
1898-794X - Pojawia się w:
- Acta Physica Polonica A
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł