Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Frankiewicz, M" wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-6 z 6
    Tytuł:
    Measurement of the temperature inside standard integrated circuits
    Pomiar temperatury wewnątrz standardowych układów scalonych
    Autorzy:
    Frankiewicz, M.
    Kos, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/159307.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
    Tematy:
    pomiar temperatury
    ESD
    układ scalony
    temperature sensing
    integrated circuits
    Opis:
    The paper describes method of temperature measurement of standard integrated circuits based on the data from the chip datasheet. Described temperature sensing technique uses built-in ESD protecting diodes. Some tests on LM741 operating amplifier were done. Results were compared with other temperature measurement methods.
    Praca opisuje metodę pomiaru temperatury wewnątrz obudowy standardowych układów scalonych z wykorzystaniem danych z noty katalogowej układu. Przedstawiona technika rozpoznawania temperatury oparta jest o wykorzystanie wbudowanych w układ diod zabezpieczających przed wyładowaniami elektrostatycznymi. Dla potwierdzenia przydatności metody wykonano testy z wykorzystaniem wzmacniacza operacyjnego LM741. Wyniki zostały porównane z innymi metodami pomiaru temperatury.
    Źródło:
    Prace Instytutu Elektrotechniki; 2011, 251; 109-116
    0032-6216
    Pojawia się w:
    Prace Instytutu Elektrotechniki
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Thermal analysis of CMOS voltage-controlled oscillators
    Analizy termiczne generatorów przestrajanych napięciem
    Autorzy:
    Frankiewicz, M.
    Kos, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/408120.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
    Tematy:
    VCO
    układy rezonansowe
    generatory pierścieniowe
    CMOS
    temperatura
    LC
    RO
    temperature
    Opis:
    The paper presents impact of chip temperature on frequency generated by Voltage-Controlled Oscillators. Three different CMOS structures have been tested. Resonant cross-coupled oscillator was designed and fabricated in AMS 0.35 žm (3.3 V) technology and has at ambient temperature the frequency range from 2.2 to 2.5 MHz. Two different ring oscillators were designed in UMC 0.18 žm (1.8 V) technology and have at ambient temperature the frequency range respectively from 0.6 to 2.8 GHz and from 0.4 to 1.9 GHz. All circuits were designed using full-custom technique. Influence of temperature to tuning range and power consumption has been investigated.
    Artykuł przedstawia wpływ temperatury na działanie generatorów przestrajanych napięciem VCO. Przebadane zostały trzy różne struktury układów CMOS. Generator rezonansowy został zaprojektowany i sfabrykowany w technologii AMS 0,35 žm (3,3 V) i w temperaturze pokojowej generuje częstotliwości z zakresu ad 2,2 do 2,5 MHz. Dwa odmienne generatory pierścieniowe zostały zaprojektowane w technologii UMC 0,18 žm (1,8 V) i generują częstotliwości z zakresu odpowiednio od 0,6 do 2,8 GHz oraz od 0,4 do 1,9 GHz. Wszystkie układy zostały zaprojektowane techniką full-custom. Przetestowane zostało oddziaływanie termiczne na zakres przestrajania oraz pobór mocy generatorów.
    Źródło:
    Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska; 2012, 4b; 3-6
    2083-0157
    2391-6761
    Pojawia się w:
    Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Overheat protection circuit for high frequency processors
    Autorzy:
    Frankiewicz, M.
    Kos, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/200992.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    PTAT
    overheat
    CMOS
    VLSI
    full-custom design
    Opis:
    The paper describes design and structure of the overheat protection circuit based on the PTAT sensors. The digital core of the system is driven by a 3-bit information generated by the structure. As a result, behaviour of the core differs for each temperature. The circuit was designed in LF CMOS 0.15 ěm technology using full-custom technique. The presented paper focuses especially on the structure of the overheat protection circuit and simulations results of the functional blocks of the system. Layout and some parameters of the circuit are also considered.
    Źródło:
    Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences; 2012, 60, 1; 55-59
    0239-7528
    Pojawia się w:
    Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Analysis and verification of integrated circuit thermal parameters
    Analiza i weryfikacja parametrów termicznych układu scalonego
    Autorzy:
    Frankiewicz, M
    Gołda, A.
    Kos, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/408531.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
    Tematy:
    rezystancja termiczna
    pojemność termiczna
    termiczna stała czasowa
    CMOS
    thermal resistance
    thermal capacity
    thermal time constant
    Opis:
    The paper describes thermal model of an ASIC designed and fabricated in CMOS 0.7 µm (5 V) technology. The integrated circuit consists of analogue and digital heat sources and some temperature sensors. It has been designed to carry out some thermal tests. During tests thermal resistances, capacities, time constants and convection coefficients for different packages, positions and cooling methods were extracted. The parameters of thermal model were used in simulation to compare results with real-world measurements.
    Artykuł opisuje model termiczny układu ASIC zaprojektowanego i sfabrykowanego w technologii CMOS 0,7 µm (5 V). Układ scalony składa się z analogowych i cyfrowych źródeł ciepła oraz czujników temperatury a został zaprojektowany w celu wykonywania testów termicznych. Podczas przeprowadzonych testów zmierzone zostały rezystancja termiczna, pojemność termiczna, termiczna stała czasowa i uogólniony współczynnik konwekcji dla różnych wariantów obudowy, jej położenia i metody chłodzenia. Parametry modelu termicznego zostały użyte w symulacjach w celu porównania wyników z rzeczywistymi pomiarami.
    Źródło:
    Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska; 2014, 4; 11-15
    2083-0157
    2391-6761
    Pojawia się w:
    Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Investigation of heat transfer in integrated circuits
    Autorzy:
    Frankiewicz, M.
    Gołda, A.
    Kos, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/220533.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    temperature
    heat transfer
    VLSI
    electric analogy
    Opis:
    The paper analyzes the phenomenon of heat transfer and its inertia in solids. The influence of this effect on the operation of an integrated circuit is described. The phenomenon is explained using thermal analogy implemented in the Spice environment by an R-C thermal model. Results from the model are verified by some measurements with a chip designed in CMOS 0.7 μm (5 V) technology. The microcontroller-based measurement system structure and experiment results are described.
    Źródło:
    Metrology and Measurement Systems; 2014, 21, 1; 111-120
    0860-8229
    Pojawia się w:
    Metrology and Measurement Systems
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    ASIC implementation of high efficiency 8-bit 'OctaLynx' RISC microprocessor
    Implementacja 8-bitowego mikroprocesora "OctaLynx" typu RISC w układzie ASIC
    Autorzy:
    Frankiewicz, M.
    Gał, R.
    Gołda, A.
    Brzozowski, I.
    Kos, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/158713.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
    Tematy:
    mikrokontroler
    RISC
    ASIC
    CMOS
    liczniki
    USART
    SPI
    Verilog
    microcontroller
    imers/Counters
    Opis:
    The paper presents structure of 8-bit RISC microcontroller with 16-bit address bus called OctaLynx. The processor behavior is described by Verilog hardware description language and was fabricated as ASIC in CMOS LF 0.15 m (1.8 V) technology. Before fabrication FPGA tests were run. The integrated circuit consists of the core and some peripherals (8-bit general purpose input-output ports, timers/counters, USART, SPI).The controller was designed for tests of the dynamic power management systems.
    Artykuł prezentuje strukturę 8-bitowego mikrokontrolera typu RISC z 16-bitową magistralą adresową nazwanego OctaLynx. Procesor został zaprojektowany z użyciem języka opisu sprzętu Verilog oraz sfabrykowany jako układ ASIC w technologii CMOS LF 0,15 m (1,8 V). Przed fabrykacją wykonane zostały testy w układzie FPGA. Zbudowany układ scalony składa się z jądra i peryferiów (8-bitowych portów I/O, liczników, SPI, USART). Kontroler przeznaczony jest do testów systemów dynamicznego zarządzania mocą w układzie.
    Źródło:
    Prace Instytutu Elektrotechniki; 2012, 260; 241-253
    0032-6216
    Pojawia się w:
    Prace Instytutu Elektrotechniki
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-6 z 6

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies