Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Sigma-Delta" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Measurement and performance evaluation of a silicon on insulator pixel matrix
Autorzy:
Ntavelis, D.
Harik, L.
Sallese, J.-M.
Kayal, M.
Hatzopoulos, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/397821.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:
technika SOI tranzystora polowego MOS
czujnik obrazu
pompować ładunek
pierwsza kolejność delta-sigma
SOI MOSFET
image sensors
charge pumping
first order delta-sigma
Opis:
A new technique for driving silicon-on-insulator pixel matrixes has been proposed in |1|, which was based on transient charge pumping for evacuating the extra photo-generated charges from the body of the transistor. An 8x8 pixel matrix was designed and fabricated using the above technique. In this paper, the measurement set-up is described and the performance evaluation procedure is given, together with results of its implementation on the fabricated pixel matrix. The results show the applicability of the charge pumping technique and the effective operation of the image sensor.
Źródło:
International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2010, 1, 3; 299-304
2080-8755
2353-9607
Pojawia się w:
International Journal of Microelectronics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Estimating the noise-related error in continuous-time integrator-based ADCs
Autorzy:
Gosselin, P.
Koukab, A.
Kayal, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/398023.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:
noise
white noise
flicker noise
error
accuracy
standard deviation
variance
integrator-based ADC
incremental
Sigma-Delta
szum
szum biały
fliker-szum
błąd
dokładność
odchylenie standardowe
wariancja
ADC
Opis:
From first-order incremental ΣΔ converters to controlled-oscillator-based converters, many ADC architectures are based on the continuous-time integration of the input signal. However, the accuracy of such converters cannot be properly estimated without establishing the impact of noise. In fact, noise is also integrated, resulting in a random error that is added to the measured value. Since drifting phenomena may make simulations and practical measurements unable to ensure longterm reliability of the converters, a theoretical tool is required. This paper presents a solution to compute the standard deviation of the noise-generated error in continuous-time integrator-based ADCs, under the assumption that a previous measure is used to calibrate the system. In addition to produce a realistic case, this assumption allows to handle a theoretical issue that made the problem not properly solvable. The theory is developed, the equations are solved in the cases of pure white noise, pure flicker noise and low-pass filtered white noise, and the implementation issues implied by the provided formulas are addressed.
Źródło:
International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2016, 7, 2; 54-59
2080-8755
2353-9607
Pojawia się w:
International Journal of Microelectronics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies