Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Lentka, G." wg kryterium: Wszystkie pola

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-7 z 7
    Tytuł:
    A family of new generation miniaturized impedance analyzers for technical object diagnostics
    Autorzy:
    Hoja, J.
    Lentka, G.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/220894.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    technical object diagnostics
    impedance spectroscopy
    impedance analyzer
    Opis:
    The paper presents the family of three analyzers allowing to measure impedance in the range of 10 Ω<|Zx|<10 GΩ in a wide frequency range from 10 mHz up to 100 kHz. The most important features of the analyzer family are: miniaturization, low power consumption, low production cost, telemetric controlling and the use of an impedance measurement method based on digital signal processing (DSP). The miniaturization and other above-mentioned features of the analyzers were obtained thanks to the use of the newest generation of large-scale integration chips: e.g. "system on a chip" microsystems (AD5933), 32-bit AVR32-family microcontrollers and specialized modules for wireless communication using the ZigBee standard. When comparing metrological parameters, the developed instrumentation can equal portable analyzers offered by top worldwide manufacturers (Gamry, Ivium) but outperforms them on smaller dimensions, weight, a few times lower price and the possibility to work in a distributed telemetric network. All analyzer versions are able to be put into medium-volume production.
    Źródło:
    Metrology and Measurement Systems; 2013, 20, 1; 43-52
    0860-8229
    Pojawia się w:
    Metrology and Measurement Systems
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Analizator do spektroskopii wysokoimpedancyjnej z wykorzystaniem CPS
    High impedance spectroscopy analyzer using DSP
    Autorzy:
    Hoja, J.
    Lentka, G.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/153824.pdf
    Data publikacji:
    2008
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    pomiar impedancji
    spektroskopia impedancyjna
    cyfrowe przetwarzanie sygnałów
    impedance measurement
    impedance spectroscopy
    digital signal processing
    Opis:
    W artykule przedstawiono opracowany i wdrożony do produkcji seryjnej analizator do spektroskopii wysokoimpedancyjnej. Dzięki zastosowaniu obwodu wejściowego w postaci sondy pomiarowej (2 i 3 zaciskowej) analizator umożliwia pomiary w zakresie 100 Ω < |Zx| < 100 GΩ. Do wyznaczania składowych ortogonalnych sygnałów pomiarowych wykorzystano technikę cyfrowego przetwarzania sygnałów. Pozwoliła ona na pomiary w szerokim zakresie częstotliwości od bardzo niskich 100 ΜHz do 1 MHz. Analiza rzeczywistych parametrów sond, umożliwiła wyznaczenie zależności korygujących wyniki pomiaru, które zaimplementowane w oprogramowaniu analizatora, zwiększyły dokładność pomiaru impedancji.
    The paper presents the developed high impedance spectroscopy analyzer which was putted into production. The analyzer allows to measure in the range of 100Ω < |Zx| < 100 GΩ thanks to the usage of the input circuitry in form of the measurement probe (2 and 3 terminal). The digital signal processing technique was used to determine orthogonal parts of the measurement signals. This allows measuring in a wide frequency range from very low 100 ΜHz up to 1 MHz. The analysis of the real-life parameters of the probes made possible evaluation of correction formulas which were implemented in analyzer software and increased accuracy of the impedance measurement.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2008, R. 54, nr 3, 3; 102-105
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    System do bezprzewodowego monitorowania jakości powłok antykorozyjnych obiektów trudnodostępnych
    System for wireless monitoring of quality of anticorrosion coatings on objects difficult-to-reach
    Autorzy:
    Hoja, J.
    Lentka, G.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/157556.pdf
    Data publikacji:
    2010
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    spektroskopia impedancyjna
    analizator impedancji
    telemetria bezprzewodowa
    impedance spectroscopy
    impedance analyzer
    wireless communication
    Opis:
    W artykule przedstawiono zminiaturyzowany analizator impedancji przeznaczony do spektroskopii impedancyjnej powłok antykorozyjnych obiektów trudnodostępnych znajdujących się w terenie (np. na stalowych konstrukcjach mostu). Przewidziano jego pracę w systemie z komunikacją bezprzewodową opartą na standardzie Bluetooth, w odległości do 100 m od komputera sterującego. Realizuje on pomiary impedancji w zakresie 10 Ω |Zx| 10 G Ω na częstotliwości pomiarowej z przedziału 0,01Hz 100 kHz. W konstrukcji analizatora zastosowano oryginalne rozwiązanie wykorzystujące dwa specjalizowane mikrosystemy AD5933. Błąd względny pomiaru modułu impedancji mieści się w przedziale š1 %, a bezwzględny argumentu š1°.
    The paper presents a miniaturised impedance analyzer for impedance spectroscopy of anticorrosion coatings on objects difficult-to-reach located directly in the field (e.g. on the steel construction of the bridge). The analyzer is designed to be used in a system with wireless communication based on the Bluetooth standard on the distance up to 100 m from a controlling computer. It measures impedance in a range of 10 Ω |Zx| 10 G Ω at the measurement frequency in a range of 0,01Hz 100 (10 frequencies in each decade). The analyzer construction is based on original solution using two specialized microsystems (SoC) AD5933 eliminating the need of calibration measurement which is necessary in the configuration proposed by the manufacturer. The tests of the realized analyzer prototype were performed. To do this, the reference RC two-terminal network of configuration and component values representing typical equivalent circuit of the anticorrosion coating in the early stage of exploitation was used. The relative error of the impedance modulus measurement is in the range of š1 %, whereas the impedance argument absolute error is in the range of š1°. The important advantage of the proposed solution based on SoC is reduction of power consumption down to ca. 0,7 W, which is very profitable in case of the impedance analyzer designed to work directly in the field.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2010, R. 56, nr 9, 9; 1100-1103
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Ograniczenia wirtualnego miernika impedancji opartego na karcie akwizycji danych
    The limitations of virtual impedance meter based on a data acquisition card
    Autorzy:
    Hoja, J.
    Lentka, G.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/152316.pdf
    Data publikacji:
    2007
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    pomiar impedancji
    pomiary elementów RLC
    karta akwizycji danych
    cyfrowe przetwarzanie sygnałów
    impedance measurement
    RLC measurement
    data acquisition card
    digital signal processing
    Opis:
    W artykule przedstawiono wirtualny miernik parametrów elementów RLC, zrealizowany w oparciu o komputer PC z zainstalowaną kartą akwizycji danych (PCI-6040E) wyposażoną w przetworniki a/c i c/a. Analizowano właściwości metrologiczne miernika zależne od parametrów zastosowanej karty. Przeprowadzono badania symulacyjne błędu pomiaru pojemności uwzględniające rozdzielczość i częstotliwość próbkowania przetwornika a/c oraz jego czas konwersji wpływający na przesunięcie fazowe pomiędzy próbkowanymi na przemian sygnałami pomiarowymi. Analizowano także wpływ przecieku widma na dokładność pomiaru, spowodowanego nie spełnieniem warunku zbierania próbek w całkowitej liczbie okresów sygnału pomiarowego.
    The paper presents virtual meter of impedance parameters of RLC elements based on personal computer with installed data acquisition card (PCI-6040E) equipped with AD and DA converters. The metrological properties of the instruments depending on the parameters of the used card have been analysed. Simulation tests of the capacitance measurement error have been performed taking into account the resolution and sampling frequency of the AD converter and the conversion time influencing the phase shift between measurement signals which are sampled sequentially. The influence of the spectral leakage caused by missed condition of collecting samples in the integer number of periods of measurement signal on the measurement accuracy has been also analysed.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 657-660
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Przenośny analizator impedancji z detektorem fazoczułym
    Portable impedance analyzer using phase-sensitive detector
    Autorzy:
    Hoja, J.
    Lentka, G.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/157876.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    spektroskopia impedancyjna
    analizator impedancji
    detektor fazoczuły
    impedance spectroscopy
    impedance analyzer
    phase sensitive detector
    Opis:
    W artykule przedstawiono prototyp analizatora impedancji, w którym zastosowano dwa mikrosystemy AD5933 do wydzielania składowych ortogonalnych sygnałów pomiarowych w zakresie częstotliwości od 0,01 Hz do 1 kHz i detektory fazoczułe dla częstotliwości z przedziału 1 kHz - 100 kHz. Przyjęte rozwiązanie pozwoliło wyeliminować błędy pomiaru argumentu impedancji wprowadzane przez AD5933 w górnym zakresie częstotliwości. Uzyskany błąd względny pomiaru modułu impedancji mieści się w przedziale š1%, a bezwzględny argumentu š1° w całym zakresie częstotliwości.
    The paper presents a prototype of an impedance analyzer in which two AD5933 microsystems (Fig. 1) for determination of measurement signal orthogonal parts in the frequency range from 0,01 Hz up to 1 kHz and phase-sensitive detectors for the frequency range 1 kHz ? 100 kHz (Fig. 2) are employed. The phase-sensitive detectors (Fig. 3) were realized using operational amplifiers (AD8065) whose gain was changed from -k to +k and vice-versa, depending on the state (shorted or open) of switches (ADG451) driven by the reference signal. Separate generators AD9833 were used for generation of the excitation signal of the measured impedance and the reference signal. The generators were synchronized by means of the common signal used also by the phase-sensitive detectors. The assumed solution allowed eliminating the impedance argument errors caused by AD5933 in the high frequency range (Fig. 5), while simultaneously minimizing the time required for impedance spectroscopy of the object under test. The relative error of the impedance modulus measurement is in the range of š1%, and the absolute error of the impedance argument is in the range of š1° (Fig. 4).
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2012, R. 58, nr 9, 9; 761-763
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Analizator do spektroskopii wysokoimpedancyjnej wykorzystujący DFT w detekcji fazoczułej
    High impedance analyzer using DFT for phase-sensitive detection
    Autorzy:
    Hoja, J.
    Lentka, G.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/153153.pdf
    Data publikacji:
    2006
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    DFT w detekcji fazoczułej
    analizator do spektroskopii wysokoimpedancyjnej
    high impedance analyzer
    phase-sensitive detection
    Opis:
    W pracy przedstawiono metodę pomiaru impedancji opartą na próbkowaniu sygnałów oraz wyznaczaniu ich parametrów z zastosowaniem algorytmów cyfrowego przetwarzania sygnałów. Zastosowano dyskretną transformację Fouriera do wyznaczania składowych ortogonalnych sygnałów pomiarowych. Przeprowadzono analizę dokładności pomiaru impedancji uwzględniającą rozdzielczość przetworników a/c, amplitudę sygnału pomiarowego, liczbę zebranych próbek w czasie pomiaru oraz stosunek składowych ortogonalnych impedancji mierzonej. Wyniki badań symulacyjnych pozwoliły na zrealizowanie analizatora do spektroskopii wysokoimpedancyjnej w szerokim zakresie częstotliwości od bardzo niskich 100 ΜHz do 1MHz.
    The paper presents the impedance measurement method based on signal sampling and determining their parameters with the aid of algorithms of digital signal processing. The Discrete Fourier Transform was used to determine orthogonal parts of measurement signals. The analysis of measurement accuracy was performed taking into account the resolution of the AD converters, measurement signal amplitude, the number of acquired samples during the measurement process and the ratio of orthogonal parts of the measured impedance. The results of simulations have allowed to make high impedance analyzer working in a wide frequency range starting from 100?Hz to 1MHz.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2006, R. 52, nr 6, 6; 45-47
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    System pomiarowo-diagnostyczny pakietów elektronicznych z biblioteką analitycznych metod diagnostycznych
    The measuring and diagnosis system with library of analytical diagnosis methods
    Autorzy:
    Zielonko, R.
    Hoja, J.
    Bartosiński, B.
    Lentka, G.
    Toczek, W.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/151794.pdf
    Data publikacji:
    1999
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Opis:
    Na tle tendencji rozwojowych w dziedzinie testowania pakietów elektronicznych przedstawiono system pomiarowo-diagnostyczny kolejnej generacji, opracowany w Politechnice Gdańskiej w ramach projektu badawczego KBN. Charakterystyczną cechą systemu, stanowiącąnowość w odniesieniu do współczesnych systemów tego typu, jest wyposażenie w bibliotekę analityczną metod diagnostycznych, umożliwiających lokalizację uszkodzonych elementów niedostepnych zaciskowo. Nową cechą jest też przystosowanie systemu do diagnostyki układów cyfrowych za pomocą magistrali diagnostycznej IEEE 1149,1. Omówiono architekturę systemu, ciekawsze rozwiązania układowe oraz nowe metody analityczne.
    A measuring system of new generation for testing and diagnosis of electronic PCBs is presented. The system has been designed in Technical University of Gdansk as research project of KBN. Main feature of the system is library of analytical diagnostic methods making possible testing and fault location of the circuits with limited accessibility to internal nodes. The paper describes system architecture and some solution of measuring modules. Then, two diagnostic methods: the complementary signals method and the circuit-analytical approach method, based on verification concept, are discussed. For nonlinear circuits, association of piecewise linearization of circuit component characteristics and linear verification is used. The system has also ability to test digital circuits using IEEE 1149,1 diagnostic bus.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 1999, R. 45, nr 6, 6; 7-12
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-7 z 7

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies