Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Chen, W.Y." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
System reliability demonstration with equivalent data from component accelerated testing based on reliability target transformation
Stwierdzanie niezawodności systemu na podstawie równoważnych danych z przyspieszonych badań elementów składowych w oparciu o transformację celu niezawodnościowego
Autorzy:
Luo, W.
Zhang, C.
Chen, X.
Wang, Y.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/301742.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
reliability demonstration
accelerated testing
equivalent binomial component data
reliability target transformation
Bayesian attribute acceptance sampling plan
stwierdzanie niezawodności
badania przyspieszone
równoważne dane dwumienne dla części składowych
transformacja celu niezawodnościowego
bayesowski planwyrywkowej kontroli odbiorczej systemu wg
zadanych charakterystyk
Opis:
The reliability demonstration test (RDT) programs in general proceed at various levels, including component, subsystem, and system in the verification and validation phase of the product life cycle. The system reliability demonstration within feasible duration becomes a considerable issue because of the marketplace demands for decreased development time and cost. A method based on reliability target transformation is proposed to accomplish the system reliability demonstration with the data from the RDT of the components. In order to shorten the test time, the RDT plan for component under the accelerated condition is first designed. Then, the reliability target of the system with different lifetimes required by the producer and the consumer is transferred to the target with the same specified mission time, which should meet the time constraint of the system level test. Next, the lower limit confidence of component reliability at the system mission time are estimated and converted to the equivalent binomial component data by the curve fitting method, then they are synthesized to the equivalent binomial system data by the Bayesian method. Finally, the system reliability demonstration is considered. The system classical attribute acceptance sampling plan at the mission time is used to make decisions using the equivalent binomial system data. If the decision cannot be made, the system Bayesian attribute acceptance sampling plan will be designed with the equivalent data as the prior parameters and the complementary system test will be conducted.
Ogólnie, oprogramowanie do badań stwierdzających niezawodność (RDT) można stosować na różnych poziomach, w tym na poziomie elementu składowego, podsystemu i systemu, w fazie weryfikacji i walidacji cyklu życia produktu. Stwierdzenie niezawodności systemu w realnym terminie staje się ważkim problemem ze względu na wymogi rynku co do zmniejszenia czasu i kosztów rozwoju. W prezentowanej pracy zaproponowano metodę opartą na transformacji celu niezawodnościowego, wedle której niezawodność systemu stwierdza się na podstawie danych z RDT części składowych. Aby skrócić czas testowania, w pierwszej kolejności tworzy się plan RDT dla części składowej w warunkach przyspieszonych. Następnie cel niezawodnościowy systemu przy różnych czasach pracy wymaganych przez producenta, jak i konsumenta, zostaje przetransponowany na cel o tym samym określonym czasie użytkowania, który powinien spełniać ograniczenie czasowe dla badań na poziomie systemu. Następnie szacuje się dolne granice przedziałów ufności dla niezawodności komponentów w określonym czasie eksploatacji systemu oraz przekształca się je na równoważne dane dwumienne dla części składowych z wykorzystaniem metody dopasowywania krzywych; dalej, są one syntetyzowane do równoważnych dwumiennych danych dotyczących systemu z zastosowaniem metody Bayesa. Pozwala to na stwierdzenie niezawodności systemu. Decyzje podejmuje się na podstawie równoważnych danych dwumiennych dotyczących systemu z wykorzystaniem klasycznego planu wyrywkowej kontroli odbiorczej systemu według zadanych charakterystyk dla określonego czasu użytkowania. Jeżeli decyzja nie może zostać podjęta w ten sposób, konstruuje się bayesowski plan wyrywkowej kontroli odbiorczej systemu wg. zadanych charakterystyk, gdzie dane równoważne stanowią parametry a priori, oraz przeprowadza się uzupełniające badania systemu.
Źródło:
Eksploatacja i Niezawodność; 2013, 15, 4; 356-363
1507-2711
Pojawia się w:
Eksploatacja i Niezawodność
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The Reinforcement of the TNT System by a Newly-designed GAP-based Polyurethane-Urea: a Molecular Simulation Investigation
Autorzy:
Qian, W.
Shu, Y.
Ma, Q.
Li, H.
Wang, S.
Chen, X.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/358512.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Przemysłu Organicznego
Tematy:
TNT
GAP
polyurethane-urea
inter-molecular interaction
mechanical properties
Opis:
A glycidyl azide (GAP)-based polyurethane-urea (PUU) modifier used in the 1,3,5-trinitrotoluene (TNT)-based composite explosive was investigated by molecular simulation. Inter-molecular interactions were investigated using quantum chemistry calculation on the dimer of TNT and GAP-PUU, and attractive forces were found between the two molecules. The cohesive energy densities and the solubility parameters were obtained through molecular dynamics simulations combined with thermodynamic calculations on the TNT and GAP-PUU amorphous cell models, and the miscibility of the modifier in molten TNT was predicted to be good. The interaction energies and the mechanical properties were then obtained by molecular simulations and mechanical calculations on the solid-phase models of the GAP-PUU with TNT along three crystalline directions, and an improvement in the mechanical properties was predicted.
Źródło:
Central European Journal of Energetic Materials; 2016, 13, 2; 411-426
1733-7178
Pojawia się w:
Central European Journal of Energetic Materials
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Electron Transport and Microwave Noise in MBE- and MOCVD-Grown AlGaN/AlN/GaN
Autorzy:
Matulionis, A.
Liberis, J.
Eastman, L. F.
Schaff, W. J.
Shealy, J. R.
Chen, X.
Sun, Y. J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2041771.pdf
Data publikacji:
2005-02
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
63.20.Kr
72.20.Ht
73.40.Kp
Opis:
Microwave noise temperature, current, and dissipated power were investigated at room temperature in undoped AlGaN/AlN/GaN channels grown by molecular beam epitaxy and metal-organic compound vapour decomposition techniques. Samples with essentially the same electron density (1×10$\text{}^{13}$ cm$\text{}^{-2}$) and low-field mobility (1150 cm$\text{}^{2}$/(V s)) demonstrated considerably different behaviour at high electric fields. The effective hot-phonon lifetime, 300 fs and 1000 fs, respectively, was estimated for molecular beam epitaxy and metal-organic compound vapour decomposition samples. The expected anti-correlation of hot-phonon lifetime and hot-electron drift velocity was confirmed experimentally.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2005, 107, 2; 361-364
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies