Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Andreev, V." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-5 z 5
Tytuł:
Magnetic Structure in UIrAl
Autorzy:
Prokeš, K.
Prchal, J.
Sechovský, V.
Andreev, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1813678.pdf
Data publikacji:
2008-01
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
75.25.+z
Opis:
By means of neutron diffraction on a hexagonal UIrAl single crystal we find that this system orders ferromagnetically at low temperatures with magnetic moments of 0.93 (10) $μ_B$ aligned along the c axis. The Curie temperature $T_C$ = 65 (5) K determined from the diffraction experiment is in good agreement with bulk magnetic measurements.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2008, 113, 1; 339-342
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Perspective method to guarantee the reliability for the rolling stock of the railway
Autorzy:
Golybenko, A.
Gubacheva, L.
Andreev, A.
Mokrousov, S.
Shcherbakov, V.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/374447.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Politechnika Śląska. Wydawnictwo Politechniki Śląskiej
Tematy:
niezawodność
tłumik cierny
pojazd szynowy
kolej
reliability
friction damper
rolling stock
railway
Opis:
The design method how to increase the reliability of the railroad underframe frictional dampers has been given. The new design for frictional wedge has been suggested, it helps to decrease both the wear of friction wedge and the deterioration of the connected with shpinton sleeve.
Źródło:
Transport Problems; 2012, 7, 4; 33-37
1896-0596
2300-861X
Pojawia się w:
Transport Problems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Optically Active Si:Er Layers Grown by the Sublimation MBE Method
Autorzy:
Stepikhova, M.
Andreev, A.
Andreev, B.
Krasil'nik, Z.
Shmagin, V.
Kuznetsov, V.
Rubtsova, R.
Jantsch, W.
Ellmer, H.
Palmetshofer, L.
Preier, H.
Karpov, Yu.
Piplits, K.
Hutter, H.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1992203.pdf
Data publikacji:
1998-09
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
81.15.Hi
Opis:
We report the first application of sublimation molecular beam epitaxy to grow uniformly and selectively doped Si:Er layers with Er concentration up to 5×10$\text{}^{18}$ cm$\text{}^{-3}$. The Hall concentration of electrons is about 10% of total Er contents. The mobility is 300-400 cm$\text{}^{2}$ V$\text{}^{-1}$ s$\text{}^{-1}$ at 300 K. All samples exhibit photoluminescence at 1.537 μm up to 100-140 K.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1998, 94, 3; 549-554
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Structure and Properties of Multilayer Nanostructured Coatings TiN/MoN Depending on Deposition Conditions
Autorzy:
Pogrebnjak, A.
Abadias, G.
Bondar, O.
Postolnyi, B.
Lisovenko, M.
Kyrychenko, O.
Andreev, A.
Beresnev, V.
Kolesnikov, D.
Opielak, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1365941.pdf
Data publikacji:
2014-06
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.46.-w
62.20.Qp
62.25.-g
Opis:
This work presents the results of TiN/MoN coatings studying. These multilayer nanostructured coatings demonstrate dependence on depositions conditions on nanometer level. The influence of nanosized monolayer thickness on structure changing and properties of nanocomposite multilayer coatings TiN/MoN was found. Multilayer TiN/MoN coatings of the total thickness from 6.8 to 8.2 μm were obtained using C-PVD method. Thicknesses of monolayers were 2, 10, 20, 40 nm. The structure of samples was studied using X-ray diffraction (Bruker D-8 Advance) in Cu $K_{α}$ radiation, high resolution transmission electron microscopy with diffraction CFEI EO Techai F200, scanning electron microscopy with energy dispersive X-ray spectroscopy (JEOL-7001F), and microhardness measurements in dependence on indenter load. Scratch tests (friction, wear, etc.) were also provided using Rockwell-C diamond indenter (CSM Revetest Instruments) with a tip radius of 200 μm. Friction and wear behavior were evaluated using ball-on-plate sliding test on a UMT-3MT tribometer (CETR, USA). With decreasing monolayer thickness the hardness value increases, and the size of nanograins reduces. The values obtained for the friction coefficient of the multilayer system is much smaller than in nanostructured coatings of TiN (nc) or MoN (nc). Annealing showed formation of a (Ti,Mo)N solid solution and small growth of nanocrystals.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2014, 125, 6; 1280-1283
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Light Absorption and Photoluminescence in Quantum Dots and Artificial Molecules
Autorzy:
Firsov, D.
Vorobjev, L.
Panevin, V.
Fedosov, N.
Shalygin, V.
Samsonenko, J.
Tonkikh, A.
Cirlin, G.
Andreev, A.
Kryzhanovskaya, N.
Tarasov, I.
Pikhtin, N.
Ustinov, V.
Hanna, S.
Seilmeier, A.
Julien, F.
Zakharov, N.
Werner, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2041673.pdf
Data publikacji:
2005-01
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.30.Fs
Opis:
Intraband absorption in n- and p-doped structures with InAs/GaAs quantum dots covered by InGaAs layers is studied both experimentally and theoretically. The absorption cross-section for p-type quantum dots was found to be significantly smaller than that for n-type quantum dots. Interband absorption bleaching under strong interband excitation is found and investigated in undoped quantum dot structures. Structures with artificial molecules were grown. Photoluminescence spectra and transmission electron microscopy images proves the presence of coupled symmetrical quantum dots.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2005, 107, 1; 158-162
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-5 z 5

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies